Microplaqueta 8K X do circuito integrado de A623308M-70SF memória IC do CMOS SRAM de 8 BOCADOS

Série A623308 

BOCADO 8 CMOS SRAM de 8K X

Características

• Tensão de funcionamento externo: 4.5V a 5.5V

• Tempos de acesso: 70 ns (máximo)

• Corrente:

  Série de A623308-S:           Funcionamento: 35mA (máximo)

                                          Apoio: 10mA (máximo)

  Série de A623308-SI/SU:    Funcionamento: 35mA (máximo)

                                          Apoio: 15mA (máximo)

Descrição geral

O A623308 é uma memória de acesso aleatório estática do bocado da corrente de funcionamento 65.536 do ponto baixo organizada como 8.192 palavras por 8 bocados e opera sobre uma única fonte de alimentação 5V. As entradas e as saídas do três-estado são TTL compatível e permitem o conexão direto com as estruturas comuns do ônibus de sistema.

• Variação da temperatura de funcionamento prolongada: 0°C a 70°C para - série de S, -25°C a 85°C para - séries do SI, -40°C a 85°C para - séries da SU.

• Operação estática completa, nenhum pulso de disparo ou refrescamento exigidos

• Todas as entradas e saídas são diretamente TTL compatível

• I/O comum usando a saída do três-estado

• Tensão da retenção dos dados: 2.0V (mínimo)

• Disponível em pacotes da CONCESSÃO e do TSOP de 28 pinos (tipo dianteiro)

O poder à espera mínimo é tirado por este dispositivo quando o CE está em um nível elevado, independente dos outros níveis de entrada. A retenção dos dados é garantida em uma tensão de fonte de alimentação tão baixo quanto 2.0V.

Configurações de Pin

Diagrama de bloco

Ratings* máximo absoluto

V_{centímetro cúbico} à terra………………… -0.5V a +7.0V

EM, volt de IN/OUT à terra……… -0.5V a V_{centímetro cúbico} + 0.5V

Temperatura de funcionamento,

  Topr…………………… 0°C a +70°C ou a -40°C a +85°C

Temperatura de armazenamento, Tstg……… -55°C a +125°C

Dissipação de poder, P_T………………… 0.7W

Temp de solda. & tempo…………. 260°C, segundo 10

*Comments

Os esforços acima daqueles alistados sob “avaliações máximas absolutas” podem causar dano permanente ao dispositivo. Estas são avaliações do esforço somente. A operação funcional deste dispositivo nestes ou de nenhuma outra condições acima daqueles indicados nas seções operacionais desta especificação não é implicada e a exposição às condições da avaliação máxima absoluta por períodos prolongados pode afetar a confiança do dispositivo.

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