LaB6 atualizável, detector do raio X, EBSD, CL, WDS, máquina de revestimento e etc.
Multi alteração EBL, STM, AFTM, fase de Heatign, fase de Cryo, fase elástica, SEM+Laser e etc.
A auto calibração, auto detecção defeituosa, baixo custo para mantém & repara
Relação fácil & amigável da operação, controlada toda pelo rato no sistema de Windows do computador (incluído)

Opto Edu A63.7069 Microscópio Eletrônico de Varredura Instrumento Padrão 8x~300000x

Função principal do software A63.7069
Regulamento de alta pressão	Linha vertical varredura	Regulamento potencial do deslocamento
Regulamento atual do filamento	Ajuste do condensador	Multi medida da escala
Ajuste astigmático	Elétrico ao ajuste central	Brilho/contraste automáticos
Ajuste do brilho	Ajuste da lente objetiva	Auto foco
Ajuste de contraste	Estreia da foto	Eliminação automática do astigmatismo
Ajuste de ampliação	Régua ativa	Ajuste automático do filamento
Modo de exploração da área selecionada	Ajuste da velocidade de varredura 4	Gestão dos parâmetros
Modo de exploração do ponto	Inversão da lente objetiva	Instantâneo da imagem, congelação da imagem
Exploração de superfície	Reversão do condensador	Uma vista rápida chave
Linha exploração horizontal	Ajuste elétrico da rotação

SEM	A63.7069	A63.7080	A63.7081
Definição	3nm@30KV (SE) 6nm@30KV (EBS)	1.5nm@30KV (SE) 3nm@30KV (EBS)	1.0nm@30KV (SE) 3.0nm@1KV (SE) 2.5nm@30KV (EBS)
Ampliação	ampliação 8x~300000x verdadeira negativa	ampliação 8x~800000x verdadeira negativa	ampliação 6x~1000000x verdadeira negativa
Arma de elétron	Cartucho Pre-centrado do filamento do tungstênio	Arma da emissão de campo de Schottky	Arma da emissão de campo de Schottky
Tensão	A tensão de aceleração 0~30KV, ajustável contínuo, ajusta a etapa 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Vista rápida	Uma função rápida chave da imagem da vista	N/A	N/A
Sistema de lente	lente afilada eletromagnética dos Três-níveis	lente afilada eletromagnética dos Multi-níveis
Abertura	3 aberturas objetivas do molibdênio, parte externa ajustável do sistema do vácuo, nenhuma necessidade desmontam o objetivo para mudar a abertura
Sistema do vácuo	1 bomba molecular do turbocompressor 1 bomba mecânica Sala Vacuum>2.6E-3Pa da amostra Sala de arma Vacuum>2.6E-3Pa do elétron Controle inteiramente auto do vácuo Função do bloqueio do vácuo Modelo opcional: A63.7069-LV 1 bomba molecular do turbocompressor 2 bombas mecânicas Sala Vacuum>2.6E-3Pa da amostra Sala de arma Vacuum>2.6E-3Pa do elétron Controle inteiramente auto do vácuo Função do bloqueio do vácuo Baixa escala 10~270Pa do vácuo para o interruptor rápido em 90 segundos para EBS (LV)	1 Ion Pump Set 1 bomba molecular do turbocompressor 1 bomba mecânica Sala Vacuum>6E-4Pa da amostra Pa da sala de arma Vacuum>2E-7 do elétron Controle inteiramente auto do vácuo Função do bloqueio do vácuo	1 salpico Ion Pump 1 getter Ion Compound Pump 1 bomba molecular do turbocompressor 1 bomba mecânica Sala Vacuum>6E-4Pa da amostra Pa da sala de arma Vacuum>2E-7 do elétron Controle inteiramente auto do vácuo Função do bloqueio do vácuo
Detector	SE: Detector de elétron secundário do vácuo alto (com proteção do detector)	SE: Detector de elétron secundário do vácuo alto (com proteção do detector)	SE: Detector de elétron secundário do vácuo alto (com proteção do detector)
	EBS: Segmentação do semicondutor 4 Detector traseiro da dispersão Modelo opcional: A63.7069-LV EBS (LV): Segmentação do semicondutor 4 Detector traseiro da dispersão	Opcional	Opcional
	CCD: Câmera infravermelha do CCD	CCD: Câmera infravermelha do CCD	CCD: Câmera infravermelha do CCD
Estenda portuário	2 estenda portos na sala da amostra para EDS, DEB, WDS etc.	4 estenda portos na sala da amostra para EBS, EDS, DEB, WDS etc.	4 estenda portos na sala da amostra para EBS, EDS, DEB, WDS etc.
Fase do espécime	Fase de 5 machados, controle 4 auto +1 manual Escala do curso: X=70mm, Y=50mm, Z=45mm, R=360°, T=-5°~+90° (manual) Alerta do toque & função da parada	Auto fase média de 5 machados Escala do curso: X=80mm, Y=50mm, Z=30mm, R=360°, T=-5°~+70° Alerta do toque & função da parada Modelo opcional: Fase manual dos machados de A63.7080-M 5 Fase dos machados de A63.7080-L 5 auto grande	Auto grande fase de 5 machados Escala do curso: X=150mm, Y=150mm, Z=60mm, R=360°, T=-5°~+70° Alerta do toque & função da parada
Max Specimen	Dia.175mm, altura 35mm	Dia.175mm, altura 20mm	Dia.340mm, altura 50mm
Sistema da imagem	Pixéis imóveis reais de Max Resolution 4096x4096 da imagem, Formato de arquivo da imagem: BMP (defeito), GIF, JPG, png, TIF	Pixéis imóveis reais de Max Resolution 16384x16384 da imagem, Formato de arquivo da imagem: TIF (defeito), BMP, GIF, JPG, png Vídeo: Auto registro Digital. AVI Video	Pixéis imóveis reais de Max Resolution 16384x16384 da imagem, Formato de arquivo da imagem: TIF (defeito), BMP, GIF, JPG, png Vídeo: Auto registro Digital. AVI Video
Computador & software	Sistema da vitória 10 da estação de trabalho do PC, com o software de análise profissional da imagem para controlar inteiramente SEM Microscope Operation inteiro, especificação I5 não menos do que inter 3.2GHz do computador, 4G memória, 24" monitor do IPS LCD, 500G disco rígido, rato, teclado
Exposição da foto	O nível da imagem é Rich And Meticulous, mostrando a ampliação do tempo real, régua, tensão, Gray Curve
Dimensão & peso	Corpo do microscópio 800x800x1850mm Tabela de funcionamento 1340x850x740mm Peso total 400Kg	Corpo do microscópio 800x800x1480mm Tabela de funcionamento 1340x850x740mm Peso total 450Kg	Corpo do microscópio 1000x1000x1730mm Tabela de funcionamento 1330x850x740mm Peso total 550Kg
Acessórios opcionais
Acessórios opcionais	Espectrómetro de raio X dispersivo da energia de A50.7002 EDS A50.7011 Ion Sputtering Coater	Parte traseira da EBS A50.7001 que dispersa o detector de elétron Espectrómetro de raio X dispersivo da energia de A50.7002 EDS A50.7011 Ion Sputtering Coater A50.7030 motorizam o painel de controle	Parte traseira da EBS A50.7001 que dispersa o detector de elétron Espectrómetro de raio X dispersivo da energia de A50.7002 EDS A50.7011 Ion Sputtering Coater A50.7030 motorizam o painel de controle

A50.7001	Detector da EBS	Detector traseiro da dispersão do segmento do semicondutor quatro; Disponível nos ingredientes A+B, A-B da informação da morfologia; A amostra disponível observa sem engasgar o ouro; Disponível observe dentro a impureza e a distribuição do mapa do Grayscale diretamente.
A50.7002	EDS (X Ray Detector)	Janela do nitreto de silicone (Si3N4) para aperfeiçoar a transmissão do raio X da baixa energia para a análise clara do elemento; Definição excelente e sua eletrônica de baixo nível de ruído avançada para fornecer o desempenho proeminente da taxa de transferência; A pegada pequena oferece a flexibilidade assegurar condições ideais da geometria e da coleção de Aata; Os detectores contêm uma microplaqueta 30mm2.
A50.7003	EBSD (difração Backscattered do feixe de elétron)	o usuário poderia a orientação de cristal da análise, a fase de cristal e micro textura dos materiais e desempenho relacionado dos materiais, etc. otimização automática de ajustes da câmera de EBSD durante o levantamento de dados, faça a análise em tempo real interativa para obter a informação máxima todos os dados foram marcados com etiqueta do tempo, que pode ser vista a qualquer hora alta resolução 1392 x X12 1040 Velocidade da exploração e do índice: 198 pontos/segundo, com Ni como o padrão, sob a condição de 2~5nA, pode assegurar a taxa ≥99% do índice; trabalhos bem sob a condição da baixa tensão atual e baixa do feixe de 5kV em 100pA precisão de medição da orientação: Melhor de 0,1 graus Usando o sistema triplex do índice: nenhuma necessidade para confiar na única definição da faixa, índice fácil da qualidade pobre do teste padrão banco de dados dedicado: Banco de dados especial de EBSD obtido pela difração de elétron: estrutura da fase >400 Posicione a capacidade: pode automaticamente posicionar todos os materiais de cristal de 7 sistemas de cristal. As opções avançadas incluem o cálculo da rigidez elástica (rigidez elástica), fator de Taylor (Taylor), fator de Schmidt (Schmid) e assim por diante.
A50.7010	Máquina de revestimento	Shell de proteção de vidro: ∮250mm; 340mm altos; Câmara de processamento de vidro: ∮88mm; elevação de 140mm, ∮88mm; 57mm altos; Tamanho da fase do espécime: ∮40mm (máximo); Sistema do vácuo: bomba do molecula e bomba mecânica; Detecção do vácuo: Calibre de Pirani; Vácuo: melhor de Pa 2 x 10-3; Proteção do vácuo: Pa 20 com a válvula da inflação do Microscale; Movimento do espécime: Rotação plana, precessão da inclinação.
A50.7011	Ion Sputtering Coater	Câmara de processamento de vidro: ∮100mm; 130mm alto; Tamanho da fase do espécime: ∮40mm (copos do espécime da posse 6); Tamanho dourado do alvo: ∮58mm*0.12mm (espessura); Detecção do vácuo: Calibre de Pirani; Proteção do vácuo: Pa 20 com a válvula da inflação do Microscale; Gás médio: argônio ou ar com a entrada de ar especial do gás do argônio e gás que regula no Microscale.
A50.7012	Argônio Ion Sputtering Coater	A amostra foi chapeada com o carbono e o ouro sob o vácuo alto; Tabela Rotatable da amostra, revestimento uniforme, tamanho de partícula sobre 3-5nm; Nenhuma seleção do material de alvo, nenhum dano às amostras; As funções de Ion Cleaning And Ion Thinning podem ser realizadas.
A50.7013	Secador do ponto crítico	Diâmetro interno: 82mm, comprimento interno: 82mm; Amplitude da pressão: 0-2000psi; Variação da temperatura: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014	Litografia de feixe de elétron	Baseado no microscópio de elétron da exploração, um sistema novo da Nano-exposição foi desenvolvido; O Modificaton manteve tudo a linha imagem de Sem Functions For Making Nanoscale da largura; O sistema Widly de Modificated Ebl aplicado em dispositivos microeletrónicos, dispositivos Optoelectronic, dispositivos de Quantun, sistema R&d. da microeletrônica.

Equipamento padrão dos materiais de consumo A63.7069
1	Filamento do tungstênio	Pre-centrado, importado	1 caixa (5 PCes)
2	Copo da amostra	Dia.13mm	5 PCes
3	Copo da amostra	Dia.32mm	5 PCes
4	Fita condutora frente e verso do carbono	6mm	1 pacote
5	Graxa do vácuo		10 PCes
6	Pano calvo		1 tubo
7	Pasta de lustro		1 PC
8	Caixa da amostra		2 sacos
9	Cotonete de algodão		1 PC
10	Filtro da névoa do óleo		1 PC
As ferramentas A63.7069 & as peças padrão equipam
1	Chave inglesa interna do hexágono	1.5mm~10mm	1 grupo
2	Pinça	Comprimento 100-120mm	1 PC
3	Chave de fenda entalhada	250mm, 2125mm	2 PCes
4	Chave de fenda transversal	2*125mmm	1 PC
5	Removedor do diafragma		1 PC
6	Rod de limpeza		1 PC
7	Ferramenta de ajuste do filamento		1 PC
8	Filamento que ajusta a gaxeta		PC 3
9	Extrator do tubo		1 PC

Opto Edu A63.7069 Microscópio Eletrônico de Varredura Instrumento Padrão 8x~300000x

microscópio óptico composto

Microscópio óptico estereofónico

Microscópio óptico de Digitas

Microscópio digital de LCD

Microscópio biológico

microscópio óptico metalúrgico

Microscópio de exploração

Microscópio óptico invertido

Fotomicroscópio de polarização

Microscópio de fluorescência

multi microscópio da visão

Microscópio de comparação judicial

Microscópio do contraste da fase

microscópio da jóia

Microscópio Acessórios

Telescópio refratando astronômico

Microscópio de funcionamento cirúrgico

microscópio motorizado

Opto Edu A63.7069 Microscópio Eletrônico de Varredura Instrumento Padrão 8x~300000x

microscope mf a1720h

microscope bc um038hd

specification of ohmpul microscope