Microscópio atômico de varredura plano da força

• O projeto da cabeça de exploração do pórtico, a base de mármore, a fase da adsorção do vácuo, o tamanho da amostra e o peso são basicamente ilimitados
• Varredor independente do deslocamento da pressão da três-linha central de A62.4510 + de circuito fechado, que pode fazer a varredura com elevada precisão em uma vasta gama
• Método de alimentação da agulha inteligente com detecção automática de cerâmica piezoelétrica motor-controlada para proteger pontas de prova e amostras
• Posicionamento ótico automático, nenhuma necessidade para ajustar o foco, observação do tempo real e posicionamento da área de varredura da amostra da ponta de prova
• Equipado com o protetor fechado do metal, tabela deabsorção pneumática, capacidade antiparasitária forte

          ◆O primeiro microscópio atômico comercial da força em China para realizar a exploração móvel combinada da ponta de prova e da amostra;

          ◆O primeiro em China para usar uma tabela de exploração piezoelétrica do deslocamento do circuito fechado independente da três-linha central para conseguir a exploração em grande escala da elevada precisão;

          ◆a exploração independente da Três-linha central, XYZ não se afeta, muito apropriado para a detecção tridimensional do material e da topografia;

          ◆Controle elétrico de tabela movente da amostra e de tabela de levantamento, que pode ser programado com posição do multi-ponto realizar a detecção automática rápida;

          ◆Projeto da cabeça de exploração do pórtico, base de mármore, adsorção do vácuo e fase magnética da adsorção;

          ◆O motor controlo automàtica o método de alimentação da agulha inteligente da detecção automática cerâmica piezoelétrica para proteger a ponta de prova e a amostra;

          ◆Posicionamento do microscópio da ampliação alta, observação do tempo real e posicionamento óticos auxiliares da ponta de prova e da área de varredura da amostra;

          ◆A fase de varredura piezoelétrica do circuito fechado não exige a correção não-linear, e a precisão da caracterização e da medida do nanômetro é melhor de 99,5%.

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• 	A62.4510	A62.4511
  Modo do trabalho	Modo de contato Modo de batida [Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de batida [Opcional] Modo da fricção Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático
  Curva atual do espectro	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve
  Modo de varredura XY	Exploração conduzida ponta de prova, Varredor Piezo do tubo	Exploração conduzida amostra, fase piezoelétrica da exploração do deslocamento do laço fechado
  Escala XY da varredura	70×70um	Laço fechado 100×100um
  Definição XY da varredura	0.2nm	Laço fechado 0.5nm
  Modo de varredura de Z		Exploração conduzida ponta de prova
  Escala da varredura de Z	5um	5um
  Definição da varredura de Z	0.05nm	0.05nm
  Velocidade da varredura	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Ângulo da varredura	0~360°	0~360°
  Peso da amostra	≤15Kg	≤0.5Kg
  Tamanho da fase	Dia.100mm [Opcional] Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm [Opcional] Dia.200mm Dia.300mm
  Mover-se XY da fase	100x100mm, definição 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm	100x100mm, definição 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm
  Mover-se da fase Z	15mm, definição 10nm [Opcional] 20mm 25mm	15mm, definição 10nm [Opcional] 20mm 25mm
  Projeto deabsorção	Suspensão da mola [Opcional] Amortecedor ativo	Suspensão da mola [Opcional] Amortecedor ativo
  Sistema ótico	5x objetivo 5.0M Digital Camera [Opcional] 10x objetivo 20x objetivo	5x objetivo 5.0M Digital Camera [Opcional] 10x objetivo 20x objetivo
  Saída	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Vitória XP/7/8/10	Vitória XP/7/8/10
  Corpo principal	Cabeça de varredura do pórtico, base de mármore	Cabeça de varredura do pórtico, base de mármore

• Microscópio	Microscópio ótico	Microscópio de elétron	Microscópio de varredura da ponta de prova
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observação	Imersão 1500x do óleo	Átomos de carbono do diamante da imagem latente	Átomos de carbono graphitic da alto-ordem da imagem latente

• Interação da Ponta de prova-amostra	Medida do sinal	Informação
  Força	Força eletrostática	Forma
  Corrente do túnel	Atual	Forma, condutibilidade
  Força magnética	Fase	Estrutura magnética
  Força eletrostática	Fase	distribuição de carga

• 	Definição	Condição de trabalho	Temperation de trabalho	Damge a provar	Profundidade da inspeção
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normal, líquido, vácuo	Sala ou baixo Temperation	Nenhum	1~2 Atom Level
  TEM	Ponto 0.3~0.5nm Estrutura 0.1~0.2nm	Vácuo alto	Sala Temperation	Pequeno	Geralmente <100nm>
  SEM	6-10nm	Vácuo alto	Sala Temperation	Pequeno	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Vácuo alto super	30~80K	Damge	Atom Thickness

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