1x~2000000x com detector SEx2+BSE+CCD, porta de extensão para EDS, EBSD, CL
Voltagem do canhão de emissão de campo Schottky 0,02 30 kV, resolução 1nm@15KV (SE), 1,5nm@1KV (SE)
5 eixos Auto estágio X=125, Y=125, Z=50, R=360°, T=-5°~+70° Sala de amostra Ф330xH260mm
Bombas de vácuo: 1 Ion +1 Turbo Molecular+ 1 Mecânico, incluindo Computador, Windows e Software, Painel de Controle
Lente composta com Lente Eletrostática + Lente Magnética Imagem livre de preocupações de amostras magnéticas

Microscópio eletrônico de varredura com pistola de emissão de campo Opto Edu A63.7088 Schottky SE + CCD 1x ~ 2000000x

A63.7088
Resolução	1.0nm@30KV(SE), 1,5nm@1KV(SE)
Magnificação	1x~2000000x
Arma de elétrons	Pistola de emissões de campo Schottky
Voltagem	Tensão de aceleração 0,02 ~ 30KV
Feixe de elétrons	1pA~20nA
Sistema de vácuo	1 bomba de íons de sputter, 1 bomba turbo molecular, 1 bomba mecânica
Detector	SE na lente, SE na sala de amostragem, BSE, CCD
Extensão da porta	Extender Portos na Sala de Amostragem para BSE, EDS, EBSD, CL, etc.
Fase de colheita de espécimes	5 EixosAutoFase, alcance de viagem: X=125mm, Y=125mm, Z=50mm, R=360°, T=-5°~+70°
Exemplar máximo	Sala de amostragem Diâmetro 330 mm, altura 260 mm
Sistema de imagem	Real Imagem Imóvel Resolução máxima 256x256~16k~16k Pixels
Computador e Software	PC Work Station Windows System, com software de análise de imagem profissional para controlar totalmente toda a operação do microscópio SEM, mouse, teclado
Painel de controlo	Incluído
Dimensões e peso	Corpo principal 1900x1100x1800mm, Peso total 800Kg
Acessórios opcionais
A50.7091	Limpador de feixe de íons
A50.7092	Lâmpada de canhão de emissão de campo

▶Projeto Superior de Eletrônica Óptica

●Arma de elétrons de emissão de campo térmico, feixe estável, alta resolução de imagem

●Tecnologia de aceleração de tubo completo garante alto desempenho de imagem do feixe de elétrons em baixa tensão de aceleração

●Design de lentes compostas de lentes eletrostáticas e lentes magnéticas, a lente objetiva não tem vazamento magnético, e a imagem de amostras magnéticas é livre de preocupações

▶Sistema abrangente de recolha de sinais

● Pode simultaneamente recolher sinais de dois tipos de elétrons secundários, elétrons de retrodispersão e elétrons transmitidos.

● A morfologia da amostra e o contraste de composição são exibidos simultaneamente para revelar a morfologia microscópica da amostra e as informações de composição na maior medida possível.