Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd.
(Pequim) Co. opto-Edu, Ltd.
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| Especificações | A63.7140 | A63.7160 | |
| Parâmetros-chave | Resolução | 0.9nm@30kV ((SE) 1.4nm@15kV ((SE) |
0.9nm@30kV ((SE) 1.2nm@15kV ((SE) 1.5nm@1kV(SE, modo BD) |
| Tensão de aceleração | 00,02 kV- Não.30 kV | 00,02 kV- Não.30 kV | |
| Magnificação | 1- Não.2000000x | 1- Não.2000000x | |
| Arma de elétrons | Pistola de emissão de campo térmico Schottky | Pistola de emissão de campo térmico Schottky | |
| Corrente da sonda | 1pA~40nA | 1pA~40nA | |
| Campo de visão | 6 mm | 6 mm | |
| Tempo de permanência | 20 anos | 20 anos | |
| Deformação do feixe | - Não. | Sistema de deflexão de feixe duplo: Sistema de deflexão de feixe híbrido eletromagnético e estático |
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| Lente de objetivo | Sistema de objetivos duplos: Lente objetiva magnética & Lente objetiva eletrostática, amostra magnética adaptável |
Sistema de objetivos duplos: Lente objetiva magnética & Lente objetiva eletrostática, amostra magnética adaptável |
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| Apertura da arma | (10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 conjuntos (1 para reserva), motorizados | (10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 conjuntos (1 para reserva), motorizados | |
| Câmara | Tamanho da câmara | Largura 370 mm, altura 330 mm, profundidade 344 mm | Largura 370 mm, altura 330 mm, profundidade 344 mm |
| Portão de extensão | 10 Portos | 10 Portos | |
| Sistema de vácuo | 2 Bomba de íons 1 Bomba Turbo Molecular 1 Sem óleo de bomba mecânica |
2 Bomba de íons 1 Bomba Turbo Molecular 1 Sem óleo de bomba mecânica |
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| Vazio da arma: 2x10-7Pa Câmara de vácuo: 6x10-4Pa |
Vazio da arma: 2x10-7Pa Câmara de vácuo: 6x10-4Pa |
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| Estágio | 5 eixos Auto Stage, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°- Não.70°, carga máxima > 500 g | 5 eixos Auto Stage, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°- Não.70°, carga máxima > 500 g | |
| Câmara | CCD de navegação por cores ópticas CCD IR de alta definição |
CCD de navegação por cores ópticas CCD IR de alta definição |
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| Detectores e extensões | Padrão | Detector SE | Detector SE Detetor SE da lente interna |
| PC e Software | Computador | Estação de trabalho, memória 16G, disco rígido 512G, monitor de 24", sistema Win10 | Estação de trabalho, memória 16G, disco rígido 512G, monitor de 24", sistema Win10 |
| Controle | Painel de Controle e Joystick | Painel de Controle e Joystick | |
| Software | Foco automático, estigmator automático, contraste de brilho automático, formato de imagem TIFF,JPG,PNG,BMP, resolução de saída de imagem Max 16k*16k | Foco automático, estigmator automático, contraste de brilho automático, formato de imagem TIFF,JPG,PNG,BMP, resolução de saída de imagem Max 16k*16k | |
| Acessórios opcionais | A50.7101 | EEB | EEB |
| A50.7102 | - | InLens BSE | |
| A50.7103 | Espectroscopia dispersora de energia (EDS/EDX) | Espectroscopia dispersora de energia (EDS/EDX) | |
| A50.7104 | Padrão de difração de retrodispersão de elétrons (EBSD) | Padrão de difração de retrodispersão de elétrons (EBSD) | |
| A50.7105 | EDS+EBSD | EDS+EBSD | |
| A50.7106 | Electrões de transmissão por digitalização (STEM) | Electrões de transmissão por digitalização (STEM) | |
| A50.7107 | Corrente induzida por feixe de elétrons (EBIC) | Corrente induzida por feixe de elétrons (EBIC) | |
| A50.7108 | Catodoluminescência (CL) | Catodoluminescência (CL) | |
| A50.7109 | Plasma | Plasma | |
| A50.7110 | Bloco de ar, Armazém de troca de amostras | Bloco de ar, Armazém de troca de amostras | |
| A50.7111 | Bandeira de travagem | Bandeira de travagem | |
| A50.7120 | Software de costura de imagem grande | Software de costura de imagem grande | |
| A50.7121 | Software de análise de partículas | Software de análise de partículas | |
| A50.7112 | Detentor de transferência de vácuo | Detentor de transferência de vácuo | |
| A50.7113 | Sistema correlativo Raman-SEM | Sistema correlativo Raman-SEM | |
| A50.7115 | UPS | UPS | |
| A50.7114 | - | Instalador de energia integrado em coluna ExB | |
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▶Forte compatibilidade, alta adaptabilidade Podem ser instalados em diferentes terminais, tais como computadores, telefones celulares e tablets, para controlar o microscópio eletrônico;Este sistema operativo de microscópio eletrônico SEM-OS é compatível com SEM de vários fabricantes e é compatível com vários modelos, a expansão do ecossistema SEM
▶Software e computação integrados, simples e eficientes Interface de utilizador unificada, sem necessidade de adaptação repetida a terminais diferentes;Equipado com algoritmos de IA para coletar informações e apresentar efeitos de saída em tempo real com qualidade de imagem mais clara e detalhes mais proeminentesO SEM baseado no kernel acelera o controlo do hardware |
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1 Barra de menus, 2 Área de operação rápida, 3 Barra de dados, 4 Área de monitorização, 5 Área de navegação, 6 Área abrangente, 7 Área de operação, 8 Área de estado |
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O microscópio eletrônico de varredura da série A63.7140/A63.7160 está equipado com hastes de transferência de vácuo IGS, espectrômetros de energia EDS, espectroscopia Raman e outros acessórios,fornecer uma solução abrangente para a investigação de baterias de lítio a partir da preparação de amostras, observação morfológica, análise de composição e análise estrutural. |
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Passo 1:A barra de transferência é carregada na caixa de luvas para completar a transferência da amostra da caixa de luvas para o compartimento da barra de transferência.
Passo 2:O processo de transferência de amostras envolve a transferência da pressão positiva para dentro da câmara da haste durante o processo de transferência.
Passo 3:A haste de transferência é carregada no microscópio eletrônico para transferir a amostra da câmara da haste de transferência para a câmara principal do microscópio eletrônico.
Passo 4:Fotografia de amostras e pós-processamento de dados, desenvolvimento personalizado de acordo com as necessidades do utilizador.
▶Espectrômetro SEM+ EDS + Válvula de transferência de vácuo + Espectroscopia Raman + Software de análise
Análise estrutural. Análise de mecanismos. Tabela de deslocamento de alta precisão. ▪ Faça a análise da estrutura molecular que a tecnologia EDS não consegue fazer e compreenda completamente a composição da amostra ▪ Realizar a comutação rápida entre o eixo óptico de Raman e o eixo óptico do feixe de elétrons, análise multidimensional das características da amostra e rastreamento em tempo real. A evolução estrutural dos materiais durante os processos de carga e descarga e o estudo aprofundado dos seus mecanismos de assistência ▪ Tabela de deslocamento cerâmico piezoelétrico de alta precisão de alta velocidade de grande curso, que permite a aquisição integrada de dados na mesma posição,Reunião Análise de estabilidade da superfície confocal de Raman a longo prazo |