Shanghai GaNova Electronic Information Co., Ltd.

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375 um GaN Epitaxial Wafer Livre U-GaN SI-GaN Substratos

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Cidade:shanghai
Província / Estado:shanghai
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375 um GaN Epitaxial Wafer Livre U-GaN SI-GaN Substratos

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Number modelo :JDCD01-001-019
Lugar de origem :Suzhou China
Termos do pagamento :T/T
Capacidade da fonte :10000pcs/Month
Prazo de entrega :3-4 dias da semana
Detalhes de empacotamento :Embalagem a vácuo em um ambiente de sala limpa classe 10000, em cassetes de 6 peças ou recipientes d
Nome do produto :carcaças autônomas de 2-polegada U-GaN/SI-GaN
Dimensões :50,8 ± 1mm
Espessura :350 ± 25μm
Plano da orientação :± 0.5˚ (de 1-100), 16 ± 1mm
Plano secundário da orientação :± 3˚ (de 11-20), 8 ± 1mm
Aspereza de superfície da cara de GA :< 0="">
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350 ± 25 μm (11-20) ± 3o, Substratos U-GaN/SI-GaN independentes de 8 ± 1 mm de 2 polegadas

Substrato monocristal de GaN não dopado de face C de 2 polegadas Resistividade < 0,1 Ω·cm Dispositivo de alimentação/wafer de laser


Visão geral
O padrão na indústria de materiais semicondutores especifica o método para testar a rugosidade da superfície do substrato de cristal único de GaN com um microscópio de força atômica, que se aplica a substratos de cristal único de GaN crescidos por deposição de vapor químico e outros métodos com uma rugosidade de superfície inferior a 10 nm.

Substratos independentes de U-GaN/SI-GaN de 2 polegadas

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375 um GaN Epitaxial Wafer Livre U-GaN SI-GaN Substratos

Observação:

(1) Área utilizável: exclusão de defeitos de borda e macro

(2) 3 pontos: os ângulos incorretos das posições (2, 4, 5) são 0,35 ± 0,15o

S-1 S-2 A-1 A-2
Dimensões 50,8 ± 1 mm
Grossura 350 ± 25 μm
Orientação plana (1-100) ± 0,5o, 16 ± 1 mm
Orientação secundária plana (11-20) ± 3o, 8 ± 1 mm
Resistividade (300K)

< 0,5 Ω·cm para tipo N (não dopado; GaN-FS-CU-C50)

ou > 1 x 106Ω·cm para semi-isolante (dopado com Fe; GaN-FS-C-SI-C50)

TTV ≤ 15 μm
ARCO ≤ 20 μm ≤ 40 μm
Ga rugosidade da superfície facial

< 0,2 nm (polido)

ou < 0,3 nm (polido e tratamento de superfície para epitaxia)

N rugosidade da superfície da face

0,5 ~1,5 μm

opção: 1~3 nm (solo fino);< 0,2 nm (polido)

Pacote Embalado em uma sala limpa em um único recipiente de wafer
Área utilizável > 90% >80% >70%
Densidade de deslocamento <9,9x105cm-2 <3x106cm-2 <9,9x105cm-2 <3x106cm-2 <3x106cm-2
Orientação: plano C (0001) fora do ângulo em direção ao eixo M

0,35 ± 0,15o

(3 pontos)

0,35 ± 0,15o

(3 pontos)

0,35 ± 0,15o

(3 pontos)

Densidade de macro defeito (furo) 0 cm-2 < 0,3 cm-2 < 1 cm-2
Tamanho máximo de defeitos de macro < 700 μm < 2000 μm < 4000 μm

Sobre nós

Nós nos especializamos no processamento de uma variedade de materiais em wafers, substratos e peças personalizadas de vidro óptico. Componentes amplamente utilizados em eletrônica, óptica, optoeletrônica e muitos outros campos.Também trabalhamos em estreita colaboração com muitas universidades nacionais e estrangeiras, instituições de pesquisa e empresas, fornecendo produtos e serviços personalizados para seus projetos de P&D.É nossa visão manter um bom relacionamento de cooperação com todos os nossos clientes por nossa boa reputação.

Perguntas frequentes

Q: você está negociando empresa ou fabricante?
Nós somos fábrica.
Q: Quanto tempo é o seu tempo de entrega?
Geralmente leva de 3 a 5 dias se as mercadorias estiverem em estoque.
ou leva de 7 a 10 dias se as mercadorias não estiverem em estoque, é de acordo com a quantidade.
P: você fornece amostras?é gratuito ou extra?
Sim, podemos oferecer a amostra gratuitamente, mas não pagamos o custo do frete.
Q: Quais são as suas condições de pagamento?
Pagamento <=5000USD, 100% adiantado.
Pagadores >=5000USD, 80% T/T adiantado, saldo antes do envio.

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