INSTRUMENTO CO. DE ZONSKY, LTD

ZONSKY INSTRUMENT CO., LTD Professional Test Equipment Manufacturer

Manufacturer from China
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7 Anos
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Temperatura ambiental do ℃ do ± 2 do equipamento de testes 23 da resistividade de volume do semicondutor

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INSTRUMENTO CO. DE ZONSKY, LTD
Cidade:dongguan
Província / Estado:guangdong
País / Região:china
Pessoa de contato:MissVivi
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Temperatura ambiental do ℃ do ± 2 do equipamento de testes 23 da resistividade de volume do semicondutor

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Número de modelo :ZY6156
Lugar de origem :DongGuan China
Quantidade de ordem mínima :1 conjunto
Termos do pagamento :L / C, T / T, Western Union
Capacidade da fonte :10 GRUPOS/MESES
Tempo de entrega :dez dias úteis
Detalhes de empacotamento :Caixa de madeira compensada
Materiais :Aço Inoxidável
Fonte de alimentação CC :0 ~ 5000 V ajustáveis
Medidor atual :0 ~ 20 miliampères
Elétrodo atual :20 x 70 milímetros
Elétrodo da tensão :1 MILÍMETRO
Temperatura ambiente :23 ℃ do ± 2
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Verificador da resistência do volume do semicondutor/máquina de testes

 

 

1. Descrição

 

O verificador volumétrico da resistência do semicondutor ZY6156 é apropriado para medir a resistividade de volume dos materiais semi-condutores de borracha e plásticos para fios e cabos. Conforma-se a GB/T3048.3 de “resistividade volume de borracha semi-condutor e os materiais plásticos” testam o método.

 

 

2. Padrões

 

GB/T3048.3

 

 

3. Parâmetros de desempenho

 

Fonte de alimentação de DC: tensão 0 ~ 5000V ajustável

 

Medidor atual: 0 ~ 20 miliampères

 

Elétrodo atual: 20 milímetros x 70 milímetros

 

Elétrodo da tensão: 1,0 milímetros

 

A escala da medida da resistência é 0 ~ 108 ohms.

 

A pressão do elétrodo potencial ao longo da largura do espécime: 65 N/M

 

Tamanho da placa da isolação: 80 milímetros * 180 milímetros

 

Fonte de alimentação de trabalho: C.A. 220V, 50HZ

 

 

4. Teste circunstâncias ambientais

 

Temperatura ambiental: 23 ℃ do ± 2

 

Humidade relativa: (50 ± 5) %

 

 

5. Teste notas

 

Preparação do espécime

 

(1) três espécimes do mesmo tamanho são preparados pelo menos para cada teste. Os espécimes são retangulares, 110 milímetros de comprimento, 50 milímetros na largura e 2 milímetros ou 4 milímetros na espessura. A espessura deve ser medida em aproximadamente 6 pontos da distância igual ao longo do comprimento do espécime, e a diferença entre o valor medido e o valor médio de cada ponto não deve exceder (±5%).

 

(2) a superfície da parte de teste deve estar limpa. Quando necessária, a parte de teste pode delicadamente ser esfregada com a argila misturada com água, a seguir enxaguada com água destilada, e secada então no ar. Ao esfregar, a superfície da parte de teste não deve ser danificada, e a parte de teste não deve ser limpada com o solvente orgânico que tem o corrosivo ou o efeito do inchamento.

 

(3) os espécimes vulcanizados ou plastificados devem ser colocados no mínimo 16 horas antes que possam ser usados para o teste, mas o tempo o mais longo não deve exceder 28 dias. A parte de teste usada como um teste do contraste tem o mesmo tempo de armazenamento que possível.

 

 

6. Pré-tratamento antes do teste

 

(1) as duas extremidades da amostra são apertadas em dois dispositivos bondes atuais do elétrodo e colocadas na placa de isolamento. A amostra é aquecida por 2 horas no ℃ (70±1) em um termostato.

 

(2) após o aquecimento, as amostras, os elétrodos atuais e as placas de isolamento foram removidos e colocados por 16 horas sob o ambiente do ℃ (23±2) e (50±5) dos % da humidade relativa.

 

Temperatura ambiental do ℃ do ± 2 do equipamento de testes 23 da resistividade de volume do semicondutor

 

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