Hai Da Labtester

Equipamento internacional CO. do Haida, LTD

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Chip de memória flash Equipamento de teste inteligente Tamanho compacto

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Cidade:dongguan
Província / Estado:guangdong
País / Região:china
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Chip de memória flash Equipamento de teste inteligente Tamanho compacto

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Number modelo :HD-N8-NAND
Lugar de origem :China
Quantidade de ordem mínima :1set
Termos do pagamento :L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidade da fonte :150 grupos/meses
Prazo de entrega :8 dias após a ordem
Detalhes de empacotamento :Caso de madeira forte
Variação da temperatura de funcionamento :-30ºC~150ºC
Variação da temperatura do armazenamento :-20ºC~60ºC
Escala de umidade de funcionamento :45%~75%
Tamanho do equipamento :W400×H510×D520mm
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Sistema de teste inteligente de chip de memória flash

Descrição do produto:

  1. O Smart Test System YC-N8-NAND é um sistema abrangente de teste de memória flash que pode ser personalizado para testar até 8 partículas flash em paralelo.
  2. Ele oferece suporte a uma ampla variedade de padrões de teste e parâmetros de teste personalizados.Ele fornece um fluxo de teste básico de um clique, teste experimental altamente flexível e fluxo de teste avançado, e pode fornecer fluxo de teste básico de um clique, teste experimental altamente flexível e fluxo de teste avançado, que pode realizar vários testes funcionais, como vida útil restante predição, o teste real, retenção de dados e distúrbio de leitura de partículas de memória flash.O relatório de teste pode ser exportado de forma rápida e fácil após a conclusão do teste.Ele fornece os dados de teste gráficos mais intuitivos para fornecer a referência mais precisa para classificação e aplicação de partículas flash.Ele também fornece a referência mais precisa para classificação e aplicação de partículas flash e permite classificação inteligente com base nos resultados do teste de qualidade de partículas flash.


Especificações do produto:

  1. Testado por JEDEC Stand No. 218: Solid State Technology Association B-2016 Solid-State Drive (SSD) Requisitos e Teste de Resistência Motho;
  2. Base de teste seguindo o Padrão JEDEC No. 47 NVCE: Qualificação de circuitos integrados baseada em teste de estresse da Associação de Tecnologia de Estado Sólido;
  3. Especificações de design de placa de teste para atender aos requisitos de ambiente de temperatura de teste de nível industrial;


Especificações técnicas:

Propriedades físicas
Tamanho do equipamento L400×A510×P520mm
Método de fornecimento de energia AC
Faixa de tensão operacional CA(220±10%)V monofásico 2 fios + aterramento de proteção
Consumo normal de energia de trabalho 2KW
Faixa de temperatura operacional -30ºC~150ºC
Amplitude Térmica de armazenamento -20ºC~60ºC
Faixa de umidade operacional 45%~75%
Performance do sistema
Número de partículas que podem ser testadas em paralelo 1~8 unidades
Marcas de flash suportadas para teste SLC, MLC, TLC, Sandisk, etc. da Micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, Sandisk, etc, partículas de chip NAND Flash tipo QLC (o alcance está sendo estendido)
Tamanhos de pacote suportados BGA152, BGA132 (extensões personalizadas disponíveis)
Tipos de protocolo Flash suportados ONFI/alternar partículas de interface
Tensão suportada Suporte de hardware V1.2, V1.8 opcional
Faixa de retirada de tensão suportada O suporte de software pode ser ajustado vcc2.3~3.6
vccq1.2 1.15~1.25
vccq1.8 1.70~1.95
Suporta intervalos de teste opcionais Configurações individuais para número de blocos iniciais, intervalo entre blocos, número de ciclos, tempo de teste, etc.
padrão de suporte Todos 0, todos 1, todos 5, pseudo-aleatório, grade quadriculada, linha de palavras aleatória, etc.
Suporte para tipos de comando de teste Inspeção de informações de memória flash
Teste de desempenho de memória flash
Teste de vida e previsão
Classificação de Classe de Qualidade
Teste de interferência de dados
Teste de retenção de dados
Funcionalidade de repetição de leitura
Teste e previsão de vida útil
Personalização ECC
Velocidade de teste paralela Como um exemplo de um teste de base de pellet Wellington de longa duração:
Modo equilibrado: 128 GB * 8 pellets aprox.1 hora
Modo completo: 128 GB * 8 pellets aprox.2 horas
Modo de alta velocidade: 128 GB * 8 pellets aprox.20 minutos
módulo de teste inteligente testes básicos
Testes experimentais
testes avançados


Introdução à nossa empresa:
A HAIDA INTERNATIONAL é um fabricante profissional de vários tipos de equipamentos de teste há mais de 24 anos.Os produtos HAIDA são amplamente utilizados em produtos de papel, embalagens, impressão de tinta, fitas adesivas, bolsas, calçados, produtos de couro, meio ambiente, brinquedos, produtos para bebês, ferragens, produtos eletrônicos, produtos plásticos, produtos de borracha e outras indústrias, e aplicáveis ​​a todas as indústrias científicas unidades de pesquisa, instituições de inspeção de qualidade e áreas acadêmicas.

Chip de memória flash Equipamento de teste inteligente Tamanho compacto

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