NANBEI INSTRUMENT LIMITED

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Manufacturer from China
Dos Estados-activa
6 Anos
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Feixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double Beam

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NANBEI INSTRUMENT LIMITED
Cidade:zhengzhou
Província / Estado:henan
País / Região:china
Pessoa de contato:Lin
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Feixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double Beam

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Number modelo :A560
Lugar de origem :China
Quantidade de ordem mínima :1/set
Termos do pagamento :L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacidade da fonte :500 grupos/pelo dia
Prazo de entrega :7-10days
Detalhes de empacotamento :Casos e caixas de madeira
nome :Espectrofotômetro UV do VIS
Sistema ótico :Feixe dobro, raspando 1200 lines/mm
Escala de comprimento de onda :190-1100nm
Largura de banda espectral :1nm, 2nm
Precisão do comprimento de onda :± 0.3nm
Repetibilidade do comprimento de onda :≤ 0.2nm
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Feixe dobro, raspagem espectrofotômetro uv do vis de 1200 lines/mm com análise dobro do feixe

 

Breve introdução de A560:

Características:

Grande painel LCD (pontos 800*480) com 65 mil economias dos dados do disco da cor verdadeira e do apoio U

●Lâmpada importada & ambiental do deutério, impedindo da inalação do ozônio

●Saída de dados: Os dados podem ser exportados para o disco de U (a saída de USB)

●Porto da cópia: O instrumento pode conectar a impressora de PCL para imprimir o papel A4 (o porta usb)

●A raspagem de primeira classe adotada com projeto claro completamente hermético do trajeto, para assegurar o instrumento tem a baixa luz dispersa super

●Com função da autoavaliação das BPL, verifique a precisão do comprimento de onda e a precisão da fotometria, pode fornecer a proteção do relatório e do sem energia de teste

●Com o espelho ótico do revestimento Si02, reduzindo a poluição da parte externa inteiramente

Feixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double Beam

Especificações:

Feixe dobro do sistema ótico, raspando 1200 lines/mm

Escala de comprimento de onda 190-1100nm

Largura de banda espectral 1nm, 2nm

± 0.3nm da precisão do comprimento de onda

≤ 0.2nm da repetibilidade do comprimento de onda

± fotométrico 0.002A da precisão (0-0.5Abs), ± 0.004A (0.5-1.0Abs), ± 0,3% T (0-100% T)

Repetibilidade fotométrica 0.001Abs (0-0.5Abs), 0.002Abs (0.5-1.0Abs), ≤ 0,1% T (0-100% T)

≤ 0,04% T @ 360nm da luz dispersa; 220nm

Estabilidade ±0.0003A/h @ 500nm

± 0.0005A do nivelamento da linha de base

± 0.0002Abs do ruído

Indique 65 mil polegadas TFT LCD da cor verdadeira 8 (480 *800)

Modo fotométrico T, A, C, E

Escala fotométrica 0-200% T, - 0.301-3.0A

Fotodiodo do silicone do detector

Lâmpada do deutério da fonte luminosa, lâmpada do tungstênio

Teclado numérico entrado da membrana

A cópia da saída USB2.0*2 e a saída de dados USB1.0 conectam o PC

Suporte opcional da pilha de 8 automóveis do compartimento, suporte contínuo da amostra, micro suporte da pilha, suporte da pilha de 10-100mm

Feixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double BeamFeixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double BeamFeixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double BeamFeixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double BeamFeixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double BeamFeixe dobro, raspagem análise uv de 1200 Lines/Mm Vis Spectrophotometer With Double Beam

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