Microscópio de Força Atômica de Nível de Pesquisa

• Nível de pesquisa, controlador combinado e design do corpo principal, com modo de contato, modo de toque, objetivo 10x.
• Laser de preciso e dispositivo de posicionamento da sonda, é simples e conveniente substituir a sonda e ajustar o ponto
• Scanners cermicos piezoelétricos de alta preciso e grande escala podem ser selecionados de acordo com diferentes requisitos de preciso e alcance de varredura
• Posicionamento óptico da lente objetiva 10X APO, sem necessidade de foco, observaço em tempo real e posicionamento da área de varredura da amostra da sonda;
• O método prova de choque da suspenso da mola é simples e prático, e possui forte capacidade anti-interferência.

• ◆ A cabeça de detecço a laser e o estágio de varredura de amostra so integrados, a estrutura é muito estável e a anti-interferência é forte

• ◆ Dispositivo de posicionamento de sonda de preciso, ajuste de alinhamento de ponto a laser é muito fácil

  ◆ A amostra de acionamento de eixo único se aproxima automaticamente da sonda verticalmente, de modo que a ponta da agulha fique perpendicular varredura da amostra

  ◆ O método inteligente de alimentaço de agulha de detecço automática de cermica piezoelétrica pressurizada controlada por motor protege a sonda e a amostra

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  ◆ Scanners cermicos piezoelétricos de alta preciso e amplo alcance podem ser selecionados livremente
  

  ◆ Posicionamento óptico automático da lente objetiva de alta ampliaço, sem necessidade de foco, observaço em tempo real e posicionamento da área de varredura da amostra da sonda

• ◆ Método prova de choque de suspenso de mola, simples e prático, bom efeito prova de choque

  ◆ Caixa prova de som blindada de metal, sensor de temperatura e umidade de alta preciso integrado, monitoramento em tempo real do ambiente de trabalho

• ◆ Editor de usuário de correço no linear do scanner integrado, caracterizaço nanométrica e preciso de mediço melhor que 98%

• Especificaço	A62,4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Modo de trabalho	Modo de toque [Opcional] Modo de contato Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático
  Curva do Espectro Atual	Curva RMS-Z [Opcional] Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ
  Faixa de varredura XY	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Resoluço de digitalizaço XY	0,2 nm	0,2 nm	0,2 nm	0,2 nm
  Faixa de varredura Z	2,5 um	2,5 um	5um	5um
  Resoluço de digitalizaço Y	0,05 nm	0,05 nm	0,05 nm	0,05 nm
  Velocidade de digitalizaço	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz
  ngulo de varredura	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Tamanho da amostra	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Movimento de Palco XY	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Design de Absorço de Choque	Suspenso de mola	Suspenso de mola Caixa de Blindagem Metálica	Suspenso de mola Caixa de Blindagem Metálica	-
  Sistema Óptico	4x Objetivo Resoluço 2,5 um	4x Objetivo Resoluço 2,5 um	10x Objetivo Resoluço 1um	Ocular 10x Infinity Plan LWD APO 5x10x20x50x Cmera Digital de 5,0 M Monitor LCD de 10", com mediço Iluminaço LED Kohler Focagem Coaxial Grossa e Fina
  Resultado	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0
  Programas	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10

• Microscópio	Microscópio óptico	Microscópio eletrônico	Microscópio de Sonda de Varredura
  Resoluço máxima (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observaço	Imerso em óleo 1500x	Imagem de átomos de carbono de diamante	Imagem de átomos de carbono grafíticos de alta ordem

• Interaço Sonda-Amostra	Medir Sinal	Em formaço
  Força	Forca eletrostatica	Forma
  Corrente do túnel	Atual	Forma, Condutividade
  Força magnética	Estágio	Estrutura Magnética
  Forca eletrostatica	Estágio	distribuiço de carga

• 	Resoluço	Condiço de trabalho	Temperaço de Trabalho	Dano Amostra	Profundidade de Inspeço
  SPM	Nível do átomo 0,1 nm	Normal, Líquido, Vácuo	Sala ou Baixa Temperaço	Nenhum	1~2 Nível do átomo
  TEM	Ponto 0,3~0,5nm Malha 0,1 ~ 0,2 nm	Alto vácuo	Temperaço da Sala	Pequena	Geralmente <100nm
  SEM	6-10nm	Alto vácuo	Temperaço da Sala	Pequena	10mm @ 10x 1um @ 10000x
  FIM	Nível do átomo 0,1 nm	Super alto vácuo	30~80K	Dano	Espessura do átomo

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