Microscópio de Força Atômica de Varredura com Sonda

• O design da cabeça de varredura do pórtico, base de mármore, estágio de adsorço a vácuo, tamanho e peso da amostra so basicamente ilimitados
• Método inteligente de alimentaço de agulha com detecço automática de cermica piezoelétrica controlada por motor para proteger sondas e amostras
• Posicionamento óptico automático, sem necessidade de ajustar o foco, observaço em tempo real e área de varredura de amostra da sonda de posicionamento
• Equipado com escudo de metal fechado, mesa de absorço de choque pneumática, forte capacidade anti-interferência;
• Editor de usuário de correço no linear do scanner integrado, caracterizaço nanométrica e preciso de mediço é melhor que 98%

• ◆ O primeiro microscópio de força atômica comercial na China que mantém a amostra estacionária e a sonda se move e varre;

  ◆ O tamanho e o peso da amostra so quase ilimitados, especialmente adequados para a detecço de amostras muito grandes;

• ◆ O estágio de amostra é altamente expansível, o que é muito conveniente para a combinaço de vários instrumentos para realizar a detecço in-situ;

  ◆ Controle elétrico da mesa móvel de amostra e mesa elevatória, que pode ser programada com posiço multiponto para realizar detecço automática rápida;

  ◆ Projeto da cabeça de varredura do pórtico, base de mármore, adsorço a vácuo e estágio de adsorço magnética;

• ◆ O motor controla automaticamente o método inteligente de alimentaço da agulha da detecço automática de cermica piezoelétrica para proteger a sonda e a amostra;

• ◆ Posicionamento do microscópio óptico auxiliar de alta ampliaço, observaço em tempo real e posicionamento da sonda e área de varredura da amostra;

• ◆ Editor de usuário de correço no linear do scanner integrado, caracterizaço nanométrica e preciso de mediço superior a 98%.

• 
  

• 	A62.4510	A62.4511
  Modo de trabalho	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de toque [Opcional] Modo de atrito Modo de Fase Modo magnético Modo eletrostático
  Curva do Espectro Atual	Curva RMS-Z Curva de Força FZ	Curva RMS-Z Curva de Força FZ
  Modo de varredura XY	Escaneamento acionado por sonda, Scanner de tubo piezoelétrico	Escaneamento acionado por amostra, estágio de escaneamento de deslocamento piezoelétrico de circuito fechado
  Faixa de varredura XY	70×70um	Circuito Fechado 100×100um
  Resoluço de digitalizaço XY	0,2 nm	Circuito Fechado 0,5nm
  Modo de digitalizaço Z		Varredura orientada por sonda
  Faixa de varredura Z	5um	5um
  Resoluço de digitalizaço Z	0,05 nm	0,05 nm
  Velocidade de digitalizaço	0,6Hz~30Hz	0,6Hz~30Hz
  ngulo de varredura	0~360°	0~360°
  Peso da amostra	≤15Kg	≤0,5Kg
  Tamanho do Palco	Dimetro 100mm [Opcional] Dimetro 200mm Dimetro 300mm	Dimetro 100mm [Opcional] Dimetro 200mm Dimetro 300mm
  Estágio XY em Movimento	100x100mm, Resoluço 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Resoluço 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm
  Estágio Z em Movimento	15mm, resoluço 10nm [Opcional] 20 mm 25mm	15mm, resoluço 10nm [Opcional] 20 mm 25mm
  Design de Absorço de Choque	Suspenso de mola [Opcional] Amortecedor Ativo	Suspenso de mola [Opcional] Amortecedor Ativo
  Sistema óptico	Objetivo 5x Cmera Digital de 5,0 M [Opcional] Objetivo 10x Objetivo 20x	Objetivo 5x Cmera Digital de 5,0 M [Opcional] Objetivo 10x Objetivo 20x
  Resultado	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0
  Programas	Ganhe XP/7/8/10	Ganhe XP/7/8/10
  Corpo Principal	Cabeça de varredura de pórtico, base de mármore	Cabeça de varredura de pórtico, base de mármore

• Microscópio	Microscópio óptico	Microscópio eletrônico	Microscópio de Sonda de Varredura
  Resoluço máxima (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observaço	Imerso em óleo 1500x	Imagem de átomos de carbono de diamante	Imagem de átomos de carbono grafíticos de alta ordem

• Interaço Sonda-Amostra	Medir Sinal	Em formaço
  Força	Forca eletrostatica	Forma
  Corrente do túnel	Atual	Forma, Condutividade
  Força magnética	Estágio	Estrutura Magnética
  Forca eletrostatica	Estágio	distribuiço de carga

• 	Resoluço	Condiço de trabalho	Temperaço de Trabalho	Dano Amostra	Profundidade de Inspeço
  SPM	Nível do átomo 0,1 nm	Normal, Líquido, Vácuo	Sala ou Baixa Temperaço	Nenhum	1~2 Nível do átomo
  TEM	Ponto 0,3~0,5nm Malha 0,1 ~ 0,2 nm	Alto vácuo	Temperaço da Sala	Pequena	Geralmente <100nm
  SEM	6-10nm	Alto vácuo	Temperaço da Sala	Pequena	10mm @ 10x 1um @ 10000x
  FIM	Nível do átomo 0,1 nm	Super alto vácuo	30~80K	Dano	Espessura do átomo

•