Microscópio atômico de varredura plano da força

• O projeto da cabeça de exploraço do pórtico, a base de mármore, a fase da adsorço do vácuo, o tamanho da amostra e o peso so basicamente ilimitados
• Varredor independente do deslocamento da presso da três-linha central de A62.4510 + de circuito fechado, que pode fazer a varredura com elevada preciso em uma vasta gama
• Método de alimentaço da agulha inteligente com detecço automática de cermica piezoelétrica motor-controlada para proteger pontas de prova e amostras
• Posicionamento ótico automático, nenhuma necessidade para ajustar o foco, observaço do tempo real e posicionamento da área de varredura da amostra da ponta de prova
• Equipado com o protetor fechado do metal, tabela deabsorço pneumática, capacidade antiparasitária forte

          ◆O primeiro microscópio atômico comercial da força em China para realizar a exploraço móvel combinada da ponta de prova e da amostra;

          ◆O primeiro em China para usar uma tabela de exploraço piezoelétrica do deslocamento do circuito fechado independente da três-linha central para conseguir a exploraço em grande escala da elevada preciso;

          ◆a exploraço independente da Três-linha central, XYZ no se afeta, muito apropriado para a detecço tridimensional do material e da topografia;

          ◆Controle elétrico de tabela movente da amostra e de tabela de levantamento, que pode ser programado com posiço do multi-ponto realizar a detecço automática rápida;

          ◆Projeto da cabeça de exploraço do pórtico, base de mármore, adsorço do vácuo e fase magnética da adsorço;

          ◆O motor controlo automtica o método de alimentaço da agulha inteligente da detecço automática cermica piezoelétrica para proteger a ponta de prova e a amostra;

          ◆Posicionamento do microscópio da ampliaço alta, observaço do tempo real e posicionamento óticos auxiliares da ponta de prova e da área de varredura da amostra;

          ◆A fase de varredura piezoelétrica do circuito fechado no exige a correço no-linear, e a preciso da caracterizaço e da medida do nanômetro é melhor de 99,5%.

• 	A62.4510	A62.4511
  Modo do trabalho	Modo de contato Modo de batida [Opcional] Modo da fricço Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático	Modo de contato Modo de batida [Opcional] Modo da fricço Modo da fase Modo magnético Modo eletrostático
  Curva atual do espectro	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve	Curva de RMS-Z F-Z Force Curve
  Modo de varredura XY	Exploraço conduzida ponta de prova, Varredor Piezo do tubo	Exploraço conduzida amostra, fase piezoelétrica da exploraço do deslocamento do laço fechado
  Escala XY da varredura	70×70um	Laço fechado 100×100um
  Definiço XY da varredura	0.2nm	Laço fechado 0.5nm
  Modo de varredura de Z		Exploraço conduzida ponta de prova
  Escala da varredura de Z	5um	5um
  Definiço da varredura de Z	0.05nm	0.05nm
  Velocidade da varredura	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  ngulo da varredura	0~360°	0~360°
  Peso da amostra	≤15Kg	≤0.5Kg
  Tamanho da fase	Dia.100mm [Opcional] Dia.200mm Dia.300mm	Dia.100mm [Opcional] Dia.200mm Dia.300mm
  Mover-se XY da fase	100x100mm, definiço 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm	100x100mm, definiço 1um [Opcional] 200x200mm 300x300mm
  Mover-se da fase Z	15mm, definiço 10nm [Opcional] 20mm 25mm	15mm, definiço 10nm [Opcional] 20mm 25mm
  Projeto deabsorço	Suspenso da mola [Opcional] Amortecedor ativo	Suspenso da mola [Opcional] Amortecedor ativo
  Sistema ótico	5x objetivo 5.0M Digital Camera [Opcional] 10x objetivo 20x objetivo	5x objetivo 5.0M Digital Camera [Opcional] 10x objetivo 20x objetivo
  Saída	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Vitória XP/7/8/10	Vitória XP/7/8/10
  Corpo principal	Cabeça de varredura do pórtico, base de mármore	Cabeça de varredura do pórtico, base de mármore

• Microscópio	Microscópio ótico	Microscópio de elétron	Microscópio de varredura da ponta de prova
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Observaço	Imerso 1500x do óleo	Átomos de carbono do diamante da imagem latente	Átomos de carbono graphitic da alto-ordem da imagem latente

• Interaço da Ponta de prova-amostra	Medida do sinal	Informaço
  Força	Força eletrostática	Forma
  Corrente do túnel	Atual	Forma, condutibilidade
  Força magnética	Fase	Estrutura magnética
  Força eletrostática	Fase	distribuiço de carga

• 	Definiço	Condiço de trabalho	Temperation de trabalho	Damge a provar	Profundidade da inspeço
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normal, líquido, vácuo	Sala ou baixo Temperation	Nenhum	1~2 Atom Level
  TEM	Ponto 0.3~0.5nm Estrutura 0.1~0.2nm	Vácuo alto	Sala Temperation	Pequeno	Geralmente <100nm>
  SEM	6-10nm	Vácuo alto	Sala Temperation	Pequeno	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Vácuo alto super	30~80K	Damge	Atom Thickness

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