Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Microscópio Eletrônico de Escaneamento de Emissão de Campo Schottky

Número do modelo:A63.7040
Local de origem:China
Quantidade mínima de encomenda:1 PC
Condições de pagamento:T/T, West Union, Paypal
Capacidade de abastecimento:mês de 5000 PCes
Tempo de entrega:5 a 20 dias
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Beijing Beijing China
Endereço: Plaza de F-1501 Wanda, estrada do no. 18 Shijingshan, Pequim 100043, China
Fornecedor do último login vezes: No 1 Horas
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EspecificaçõesA63.7140A63.7160
Parmetros-chaveResoluço0.9nm@30kV ((SE)
1.4nm@15kV ((SE)
0.9nm@30kV ((SE)
1.2nm@15kV ((SE)
1.5nm@1kV(SE, modo BD)
Tenso de aceleraço00,02 kV- No.30 kV00,02 kV- No.30 kV
Magnificaço1- No.2000000x1- No.2000000x
Arma de elétronsPistola de emisso de campo térmico SchottkyPistola de emisso de campo térmico Schottky
Corrente da sonda1pA~40nA1pA~40nA
Campo de viso6 mm6 mm
Tempo de permanência20 anos20 anos
Deformaço do feixe- No.Sistema de deflexo de feixe duplo:
Sistema de deflexo de feixe híbrido eletromagnético e estático
Lente de objetivoSistema de objetivos duplos:
Lente objetiva magnética & Lente objetiva eletrostática, amostra magnética adaptável
Sistema de objetivos duplos:
Lente objetiva magnética & Lente objetiva eletrostática, amostra magnética adaptável
Apertura da arma(10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 conjuntos (1 para reserva), motorizados(10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 conjuntos (1 para reserva), motorizados
CmaraTamanho da cmaraLargura 370 mm, altura 330 mm, profundidade 344 mmLargura 370 mm, altura 330 mm, profundidade 344 mm
Porto de extenso10 Portos10 Portos
Sistema de vácuo2 Bomba de íons
1 Bomba Turbo Molecular
1 Sem óleo de bomba mecnica
2 Bomba de íons
1 Bomba Turbo Molecular
1 Sem óleo de bomba mecnica
Vazio da arma: 2x10-7Pa
Cmara de vácuo: 6x10-4Pa
Vazio da arma: 2x10-7Pa
Cmara de vácuo: 6x10-4Pa
Estágio5 eixos Auto Stage, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°- No.70°, carga máxima > 500 g5 eixos Auto Stage, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°- No.70°, carga máxima > 500 g
CmaraCCD de navegaço por cores ópticas
CCD IR de alta definiço
CCD de navegaço por cores ópticas
CCD IR de alta definiço
Detectores e extensõesPadroDetector SEDetector SE
Detetor SE da lente interna
PC e SoftwareComputadorEstaço de trabalho, memória 16G, disco rígido 512G, monitor de 24", sistema Win10Estaço de trabalho, memória 16G, disco rígido 512G, monitor de 24", sistema Win10
ControlePainel de Controle e JoystickPainel de Controle e Joystick
SoftwareFoco automático, estigmator automático, contraste de brilho automático, formato de imagem TIFF,JPG,PNG,BMP, resoluço de saída de imagem Max 16k*16kFoco automático, estigmator automático, contraste de brilho automático, formato de imagem TIFF,JPG,PNG,BMP, resoluço de saída de imagem Max 16k*16k
Acessórios opcionaisA50.7101EEBEEB
A50.7102-InLens BSE
A50.7103Espectroscopia dispersora de energia (EDS/EDX)Espectroscopia dispersora de energia (EDS/EDX)
A50.7104Padro de difraço de retrodisperso de elétrons (EBSD)Padro de difraço de retrodisperso de elétrons (EBSD)
A50.7105EDS+EBSDEDS+EBSD
A50.7106Electrões de transmisso por digitalizaço (STEM)Electrões de transmisso por digitalizaço (STEM)
A50.7107Corrente induzida por feixe de elétrons (EBIC)Corrente induzida por feixe de elétrons (EBIC)
A50.7108Catodoluminescência (CL)Catodoluminescência (CL)
A50.7109PlasmaPlasma
A50.7110Bloco de ar, Armazém de troca de amostrasBloco de ar, Armazém de troca de amostras
A50.7111Bandeira de travagemBandeira de travagem
A50.7120Software de costura de imagem grandeSoftware de costura de imagem grande
A50.7121Software de análise de partículasSoftware de análise de partículas
A50.7112Detentor de transferência de vácuoDetentor de transferência de vácuo
A50.7113Sistema correlativo Raman-SEMSistema correlativo Raman-SEM
A50.7115UPSUPS
A50.7114-Instalador de energia integrado em coluna ExB
 

Forte compatibilidade, alta adaptabilidade

Podem ser instalados em diferentes terminais, tais como computadores, telefones celulares e tablets, para controlar o microscópio eletrônico;Este sistema operativo de microscópio eletrônico SEM-OS é compatível com SEM de vários fabricantes e é compatível com vários modelos, a expanso do ecossistema SEM

 

Software e computaço integrados, simples e eficientes

Interface de utilizador unificada, sem necessidade de adaptaço repetida a terminais diferentes;Equipado com algoritmos de IA para coletar informações e apresentar efeitos de saída em tempo real com qualidade de imagem mais clara e detalhes mais proeminentesO SEM baseado no kernel acelera o controlo do hardware

 

1 Barra de menus, 2 Área de operaço rápida, 3 Barra de dados, 4 Área de monitorizaço, 5 Área de navegaço, 6 Área abrangente, 7 Área de operaço, 8 Área de estado

 
 

O microscópio eletrônico de varredura da série A63.7140/A63.7160 está equipado com hastes de transferência de vácuo IGS, espectrômetros de energia EDS, espectroscopia Raman e outros acessórios,fornecer uma soluço abrangente para a investigaço de baterias de lítio a partir da preparaço de amostras, observaço morfológica, análise de composiço e análise estrutural.

 
 
 
 

Passo 1:A barra de transferência é carregada na caixa de luvas para completar a transferência da amostra da caixa de luvas para o compartimento da barra de transferência.

 

Passo 2:O processo de transferência de amostras envolve a transferência da presso positiva para dentro da cmara da haste durante o processo de transferência.

 

Passo 3:A haste de transferência é carregada no microscópio eletrônico para transferir a amostra da cmara da haste de transferência para a cmara principal do microscópio eletrônico.

 

Passo 4:Fotografia de amostras e pós-processamento de dados, desenvolvimento personalizado de acordo com as necessidades do utilizador.

 

 

Espectrômetro SEM+ EDS + Válvula de transferência de vácuo + Espectroscopia Raman + Software de análise

 

Análise estrutural. Análise de mecanismos. Tabela de deslocamento de alta preciso.

▪ Faça a análise da estrutura molecular que a tecnologia EDS no consegue fazer e compreenda completamente a composiço da amostra

▪ Realizar a comutaço rápida entre o eixo óptico de Raman e o eixo óptico do feixe de elétrons, análise multidimensional das características da amostra e rastreamento em tempo real. A evoluço estrutural dos materiais durante os processos de carga e descarga e o estudo aprofundado dos seus mecanismos de assistência

▪ Tabela de deslocamento cermico piezoelétrico de alta preciso de alta velocidade de grande curso, que permite a aquisiço integrada de dados na mesma posiço,Reunio Análise de estabilidade da superfície confocal de Raman a longo prazo

 
 
 
 
 
 
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