Fabricação universal da placa do conjunto da placa do PWB do ouro da imersão/PWB

Número de modelo:HSPCBA1020
Lugar de origem:China
Quantidade de ordem mínima:conjuntos 1
Termos do pagamento:T / T, Western Union, L / C
Capacidade da fonte:10 mil computadores por mês
Tempo de entrega:15-20 dias úteis
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Dos Estados-activa
Endereço: 28D, bloco D, grupo Hua de Jin Ting, Xi Xiang, Bao, Shen Zhen, China
Fornecedor do último login vezes: No 1 Horas
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Fabricaço universal da placa do conjunto da placa do PWB do ouro da imerso/PWB


Serviços do conjunto do PWB:


Conjunto de SMT


Picareta & lugar automáticos
Colocaço componente to pequena quanto 0201
Passo fino QEP - BGA
Inspeço óptica automática



conjunto do Através-furo
Solda da onda
Conjunto e solda da mo

Fonte material
Pre-programaço de IC/que queima-se em linha

Teste da funço como pedido

Teste de envelhecimento para placas do diodo emissor de luz e de poder

Conjunto de unidade completa (que incluindo os plásticos, a caixa do metal, a bobina, o conjunto de cabo etc.)
Projeto de embalagem


Revestimento constituído
O mergulho-revestimento e o revestimento de pulverizador vertical esto disponíveis. Camada dieléctrica no-condutora de protecço que é

aplicado no conjunto da placa de circuito impresso para proteger o conjunto eletrônico de dano devido a

contaminaço, pulverizador de sal, umidade, fungo, poeira e corroso causados por ambientes ásperos ou extremos. Quando revestido, é claramente visível como um material claro e brilhante.


Construço completa da caixa
Da “soluções completas da construço caixa” que incluem a gesto de materiais de todos os componentes, peças eletromecnicas,

plásticos, embalagens e cópia & material de empacotamento


Métodos de teste

Teste de AOI
·Verificações para a pasta da solda
·Verificações para componentes para baixo a 0201"
·Verificações para componentes faltantes, offset, peças incorretas, polaridade

Inspeço do raio X
O raio X fornece a inspeço de alta resoluço de:
·BGAs
·Placas desencapadas

Teste no circuito
O teste no circuito é de uso geral conjuntamente com AOI que minimiza os defeitos funcionais causados perto

problemas componentes.
· Teste de ligaço inicial
· Teste de funço avançada
· Programaço instantnea do dispositivo
· Testin funcional


Opinio da fábrica:



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