Câmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada

Number modelo:HD-512-NAND
Lugar de origem:China
Quantidade de ordem mínima:1set
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Capacidade da fonte:150 grupos/meses
Prazo de entrega:30 dias após a ordem
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Dongguan Guangdong China
Endereço: Sala 105, construção F4, distrito F, cidade de Tianan Digital, distrito de Nancheng, cidade de Dongguan, província de Guangdong, China
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Detalhes do produto

Cmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada

 

especificaço de produto

O sistema de teste inteligente HD-512-NAND da microplaqueta de memória Flash é um sistema de teste detalhado da memória Flash que possa personalizar os testes paralelos do plano e do apoio de teste de vários tipos de partículas da memória Flash. 64 tipos, o número máximo de partículas da memória Flash paralelamente que testam podem alcançar 512.

 

O sistema de teste inteligente YC-512-NAND da microplaqueta de memória Flash suporta testes padrões de teste múltiplos e funções feitas sob encomenda do parmetro do teste, e pode fornecer o processo básico do teste do um-clique e o processo de nível elevado do teste a flexibilidade alta, no somente pode realizar a vida restante de partículas da memória Flash, medida real, retenço dos dados e ler a interferência e outros testes funcionais pode igualmente ajudar usuários a verificar o estado da confiança de partículas da memória Flash. Depois que o teste é terminado, o relatório de teste pode para exportar facilmente e rapidamente com a uma chave, fornecendo clientes os dados de teste gráficos os mais intuitivos e os mais exatos. Forneça a referência de dados a mais intuitiva para a classificaço da categoria e a aplicaço de partículas da memória Flash, e realize a classificaço inteligente baseada nos resultados da inspeço da qualidade de partículas da memória Flash.

 

O ※ a base do teste cumpre com o suporte No.218 de JEDEC: Exigências de circuito integrado de circuito integrado da movimentaço da associaço B-2016 da tecnologia (SSD) e teste de resistência Motho;

 

O ※ a base do teste cumpre com o JEDEC No.47 padro NVCE: Qualificaço Esforço-Teste-conduzida da tecnologia associaço de circuito integrado dos circuitos integrados;

 

O ※ as especificações do projeto da placa de teste cumpre as exigências do ambiente da temperatura do teste da industrial-categoria;

 

Informaço

 

Tamanho interno da caixaW760×D400×H890mm
Tamanho exterior da caixaW1870×D890×H1830mm
volume270L
Método de aberturaÚnica porta (direita abra)
método refrigerandorefrigerado a ar
pesosobre 950KG
fonte de alimentaçoC.A. 380V aproximadamente 7,5 quilowatts

 

Parmetro da temperatura

variaço da temperatura-70℃~150℃
Flutuaço da temperatura

≤±0.5℃

≤±1℃

offset da temperatura≤±2℃
definiço da temperatura0.01℃
Taxa de aquecimento5℃/min (refrigerar mecnico, sob a carga padro)
taxa da mudança de temperatura

A alta temperatura pode encontrar ajustável 5℃~8℃/min no-linear (medido na tomada de ar, na refrigeraço mecnica, sob a carga padro), baixa temperatura pode encontrar 0℃~2℃/min no-linear

Ajustável (medido na tomada de ar, refrigerar mecnico, sob a carga normal)

uniformidade da temperatura≤±2℃
carga padro10KG bloco de alumínio, carga 500W;

 

Padro do teste

Equipamento de teste da temperatura GB/T5170.2-2008

 

GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos AB do teste da baixa temperatura.

 

GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGABUNDOS de alta temperatura do método do teste.

 

(MIL-STD-810D) método de alta temperatura do teste GJBl50.3.

 

(MIL-STD-810D) método do teste da baixa temperatura GJBl50.4.

 

Sistema de controlo

ExposiçoExposiço do LCD da cor
Modo de operaçoModo de programa, modo do valor fixo
AjusteMenu chinês e inglês (opcional), entrada do tela táctil
Ajustando a escalaTemperatura: Ajuste de acordo com a escala do funcionamento da temperatura do equipamento (limite superior +5°C, mais baixo limite -5°C)

 

definiço da exposiço

Temperatura: 0.01°C

Tempo: 0.01min

 

 

método de controle

BTC equilibrou o método de controle da temperatura + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento de teste da temperatura)

BTHC equilibrou a temperatura e o método de controle da umidade + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento da temperatura e de teste da umidade)

 

Funço do registro da curva

Tem RAM com proteço da bateria, que pode salvar o valor ajustado, a preparaço de amostras do valor e a preparaço de amostras da época do dispositivo; o tempo de gravaço máximo é 350 dias (quando o período de preparaço de amostras é 1.5min)

 

 

 

Funço acessória

Critique o alarme e a causa, processando a funço alerta

Funço da proteço do sem energia

Funço da proteço da temperatura de limite superior e mais baixo

Funço de sincronismo do calendário (o começo e automáticos automáticos param a operaço)

funço do autodiagnóstico

 

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