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Cmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada
especificaço de produto
O sistema de teste inteligente HD-512-NAND da microplaqueta de memória Flash é um sistema de teste detalhado da memória Flash que possa personalizar os testes paralelos do plano e do apoio de teste de vários tipos de partículas da memória Flash. 64 tipos, o número máximo de partículas da memória Flash paralelamente que testam podem alcançar 512.
O sistema de teste inteligente YC-512-NAND da microplaqueta de memória Flash suporta testes padrões de teste múltiplos e funções feitas sob encomenda do parmetro do teste, e pode fornecer o processo básico do teste do um-clique e o processo de nível elevado do teste a flexibilidade alta, no somente pode realizar a vida restante de partículas da memória Flash, medida real, retenço dos dados e ler a interferência e outros testes funcionais pode igualmente ajudar usuários a verificar o estado da confiança de partículas da memória Flash. Depois que o teste é terminado, o relatório de teste pode para exportar facilmente e rapidamente com a uma chave, fornecendo clientes os dados de teste gráficos os mais intuitivos e os mais exatos. Forneça a referência de dados a mais intuitiva para a classificaço da categoria e a aplicaço de partículas da memória Flash, e realize a classificaço inteligente baseada nos resultados da inspeço da qualidade de partículas da memória Flash.
O ※ a base do teste cumpre com o suporte No.218 de JEDEC: Exigências de circuito integrado de circuito integrado da movimentaço da associaço B-2016 da tecnologia (SSD) e teste de resistência Motho;
O ※ a base do teste cumpre com o JEDEC No.47 padro NVCE: Qualificaço Esforço-Teste-conduzida da tecnologia associaço de circuito integrado dos circuitos integrados;
O ※ as especificações do projeto da placa de teste cumpre as exigências do ambiente da temperatura do teste da industrial-categoria;
Informaço
Tamanho interno da caixa | W760×D400×H890mm |
Tamanho exterior da caixa | W1870×D890×H1830mm |
volume | 270L |
Método de abertura | Única porta (direita abra) |
método refrigerando | refrigerado a ar |
peso | sobre 950KG |
fonte de alimentaço | C.A. 380V aproximadamente 7,5 quilowatts |
Parmetro da temperatura
variaço da temperatura | -70℃~150℃ |
Flutuaço da temperatura | ≤±0.5℃ ≤±1℃ |
offset da temperatura | ≤±2℃ |
definiço da temperatura | 0.01℃ |
Taxa de aquecimento | 5℃/min (refrigerar mecnico, sob a carga padro) |
taxa da mudança de temperatura | A alta temperatura pode encontrar ajustável 5℃~8℃/min no-linear (medido na tomada de ar, na refrigeraço mecnica, sob a carga padro), baixa temperatura pode encontrar 0℃~2℃/min no-linear Ajustável (medido na tomada de ar, refrigerar mecnico, sob a carga normal) |
uniformidade da temperatura | ≤±2℃ |
carga padro | 10KG bloco de alumínio, carga 500W; |
Padro do teste
Equipamento de teste da temperatura GB/T5170.2-2008
GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos AB do teste da baixa temperatura.
GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGABUNDOS de alta temperatura do método do teste.
(MIL-STD-810D) método de alta temperatura do teste GJBl50.3.
(MIL-STD-810D) método do teste da baixa temperatura GJBl50.4. |
Sistema de controlo
Exposiço | Exposiço do LCD da cor |
Modo de operaço | Modo de programa, modo do valor fixo |
Ajuste | Menu chinês e inglês (opcional), entrada do tela táctil |
Ajustando a escala | Temperatura: Ajuste de acordo com a escala do funcionamento da temperatura do equipamento (limite superior +5°C, mais baixo limite -5°C) |
definiço da exposiço | Temperatura: 0.01°C Tempo: 0.01min |
método de controle | BTC equilibrou o método de controle da temperatura + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento de teste da temperatura) BTHC equilibrou a temperatura e o método de controle da umidade + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento da temperatura e de teste da umidade) |
Funço do registro da curva | Tem RAM com proteço da bateria, que pode salvar o valor ajustado, a preparaço de amostras do valor e a preparaço de amostras da época do dispositivo; o tempo de gravaço máximo é 350 dias (quando o período de preparaço de amostras é 1.5min) |
Funço acessória | Critique o alarme e a causa, processando a funço alerta Funço da proteço do sem energia Funço da proteço da temperatura de limite superior e mais baixo Funço de sincronismo do calendário (o começo e automáticos automáticos param a operaço) funço do autodiagnóstico |