Bolacha deisolamento do InP do fosforeto de índio de 4 polegadas para o diodo láser do LD

Número de modelo:InP-3inch
Lugar de origem:China
Quantidade de ordem mínima:10pcs
Capacidade da fonte:1000pcs/month
Tempo de entrega:3-4weeks
Detalhes de empacotamento:única caixa da bolacha
Contate

Add to Cart

Fornecedor verificado
Shanghai Shanghai China
Endereço: Sala 1-1805, n.o 1079, Rua Dianshanhu, Área Qingpu, cidade de Xangai, China /201799
Fornecedor do último login vezes: No 13 Horas
Detalhes do produto Perfil da empresa
Detalhes do produto

bolacha deisolamento para o diodo láser do LD, bolacha do InP do fosforeto de índio 4inch de semicondutor, bolacha do InP 3inch, únicas carcaças de cristal para a aplicaço do LD, bolacha do InP de wafer2inch 3inch 4inch de semicondutor, bolacha do InP, única bolacha de cristal


O InP introduz

Único cristal do InP

o crescimento (método alterado de Czochralski) é usado para puxar um único

cristal com partir encapsulant do líquido bórico do óxido de uma semente.

O entorpecente (Fe, S, Sn ou Zn) é adicionado ao cadinho junto com o polycrystal. A alta presso é aplicada dentro da cmara para impedir a decomposiço da empresa do índio Phosphide.he desenvolveu um processo para render a pureza inteiramente stoechiometric, alta e o baixo cristal do inP da densidade de deslocaço único.

A técnica do tCZ melhora em cima dos agradecimentos do método de LEC

a uma tecnologia térmica do defletor em relaço a um numérico

modelagem de condições térmicas do crescimento. o tCZ é um eficaz na reduço de custos

tecnologia madura com reprodutibilidade de alta qualidade do boule ao boule


Especificaço


O Fe lubrificou o InP

Especificações deisolamento do InP

Método do crescimentoVGF
EntorpecenteFerro (FE)
Forma da bolachaCírculo (dimetro: 2", 3", E 4")
Orientaço de superfície(100) ±0.5°

Orientações do *Other talvez disponíveis mediante solicitaço

Resistividade (Ω.cm)≥0.5 × 107
Mobilidade (cm2/V.S)≥ 1.000
Densidade do passo gravura em gua forte (cm2)1,500-5,000

Dimetro da bolacha (milímetros)50.8±0.376.2±0.3100±0.3
Espessura (µm)350±25625±25625±25
TTV [P/P] (µm)≤ 10≤ 10≤ 10
TTV [P/E] (µm)≤ 10≤ 15≤ 15
URDIDURA (µm)≤ 15≤ 15≤ 15
DE (milímetros)17±122±132.5±1
DE/SE (milímetros)7±112±118±1
Polish*E/E, P/E, P/PE/E, P/E, P/PE/E, P/E, P/P

*E=Etched, P=Polished

Nota: Outras especificações talvez disponíveis mediante solicitaço


n- e p-tipo InP

especificações deconduço do InP

Método do crescimentoVGF
Entorpecenten-tipo: S, Sn E Undoped; p-tipo: Zn
Forma da bolachaCírculo (dimetro: 2", 3", E 4")
Orientaço de superfície(100) ±0.5°

Orientações do *Other talvez disponíveis mediante solicitaço

EntorpecenteS & Sn (n-tipo)Undoped (n-tipo)Zn (p-tipo)
Concentraço de portador (cm-3)(0.8-8) × 1018× 1015 (de 1-10)(0.8-8) ×1018
Mobilidade (cm2/V.S.)× 103 (de 1-2.5)× 103 (de 3-5)50-100
Densidade do passo gravura em gua forte (cm2)100-5,000≤ 5000≤ 500
Dimetro da bolacha (milímetros)50.8±0.376.2±0.3100±0.3
Espessura (µm)350±25625±25625±25
TTV [P/P] (µm)≤ 10≤ 10≤ 10
TTV [P/E] (µm)≤ 10≤ 15≤ 15
URDIDURA (µm)≤ 15≤ 15≤ 15
DE (milímetros)17±122±132.5±1
DE/SE (milímetros)7±112±118±1
Polish*E/E, P/E, P/PE/E, P/E, P/PE/E, P/E, P/P

*E=Etched, P=Polished

Nota: Outras especificações talvez disponíveis mediante solicitaço


Processamento da bolacha do InP
Cada lingote é cortado nas bolachas que so dobradas, lustrado e na superfície preparada para a epitaxia. O processo total é detalhado abaixo.

Especificaço e identificaço lisasA orientaço é indicada nas bolachas por dois planos (por muito tempo lisos para a orientaço, o plano pequeno para a identificaço). O padro de E.J. (entre a Europa e o Japo) é usado geralmente. A configuraço lisa alternativa (E.U.) é usada na maior parte para Ø 4" bolachas.
Orientaço do bouleAs bolachas exatas (100) ou misoriented so oferecidas.
Preciso da orientaço de DEEm resposta s necessidades da indústria optoelectronic, nós bolachas das ofertas com preciso excelente do da orientaço: < 0="">
Perfil da bordaHá duas especs. comuns: borda química que processa ou que processa mecnico da borda (com um moedor da borda).
PolonêsAs bolachas so lustradas por meio de um processo produto-mecnico tendo por resultado uma superfície plana, dano-livre. nós fornecemos bolachas lustradas e único-lado lustradas do dobro-lado (com verso dobrado e gravado).
Preparaço de superfície e empacotamento finaisAs bolachas atravessam muitas etapas químicas remover o óxido produzido durante o lustro e criar uma superfície limpa com a camada estável e uniforme do óxido que esto pronta para o crescimento epitaxial - superfície epiready e que reduz elementos de traço a extremamente - baixos níveis. Após a inspeço final, as bolachas so empacotadas em uma maneira que mantenha a limpeza de superfície.
As instruções específicas para a remoço do óxido esto disponíveis para todos os tipos das tecnologias epitaxial (MOCVD, MBE).
Banco de dadosComo parte de nosso programa estatístico da gesto qualidade controle de processos/total, o banco de dados extensivo que grava as propriedades elétricas e mecnicas para cada lingote assim como análise de cristal do qualidade e a de superfície das bolachas está disponível. Em cada fase de fabricaço, o produto é inspecionado antes de passar fase seguinte para manter um nível elevado de consistência da qualidade da bolacha bolacha e do boule ao boule.

Pacote & entrega

FAQ:

Q: Que é seus MOQ e prazo de entrega?

: (1) para o inventário, o MOQ é 5 PCes.

(2) para produtos personalizados, o MOQ é 10-30 PCes acima.

(3) para produtos personalizados, o prazo de entrega em 10days, tamanho custiomzed para 2-3weeks

China Bolacha deisolamento do InP do fosforeto de índio de 4 polegadas para o diodo láser do LD supplier

Bolacha deisolamento do InP do fosforeto de índio de 4 polegadas para o diodo láser do LD

Inquiry Cart 0