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Microscópio metalúrgico de Digitas do sistema ótico da infinidade com iluminaço de DIC e do diodo emissor de luz
Que é contraste diferencial (DIC) da interferência?
A microscopia diferencial de (DIC) do contraste da interferência, igualmente conhecida como o contraste (NIC) da interferência de Nomarski ou a microscopia de Nomarski, é uma técnica ótica da microscopia usada para aumentar o contraste em amostras unstained, transparentes.
DIC trabalha no princípio de interferometria para ganhar a informaço sobre o comprimento de trajeto ótico da amostra, para ver características de outra maneira invisíveis.
Um sistema ótico relativamente complexo produz uma imagem com o objeto que parece preto ao branco em um fundo cinzento. Esta imagem é similar quela obtida pela microscopia do contraste da fase mas sem o halo brilhante da difraço. A técnica foi desenvolvida pelo físico polonês Georges Nomarski em 1952.
Características:
o microscópio diferencial do contraste da relaço da luz refletida de iMet-230MDIC é uma taxa alta do preço da capacidade que inspeciona o instrumento ótico.
iMet-230MDIC adota o sistema excelente do sistema ótico da infinidade, iluminaço incorporado do diodo emissor de luz do brilho alto, ele é fornecido com a funço diferencial da observaço do contraste da relaço.
Trinocular/corpo ótico da fotografia, reflete a reduço do ture do visual observa, fotografia digital e integraço da tecnologia da microscopia, a imagem observada da relaço tem um sentido mais forte de 3D.
iMet-230MDIC é apropriado para a observaço microscópica da morfologia da superfície material no transparente, tal como a morfologia microscópica de partículas condutoras do LCD, ele é os instrumentos ideais na inspeço da qualidade, análise estrutural da fabricaço da preciso.
Os microscópios metalúrgicos fornecem a polarizaço que facilita muito ver uma variedade de minerais, tipos de metais e mesmo amostras da tinta. A análise de defeito material é executada com um microscópio metalúrgico procura das causas da corroso, da fadiga, das fraturas de esforço e das quebras. A proteço ambiental e a produço de petróleo usam frequentemente microscópios metalúrgicos e em particular pode utilizar as características altas da ampliaço e da polarizaço dos microscópios metalúrgicos.
Dados técnicos:
Parmetros principais | Ampliaço total | 100X (o padro configura) | ||||
Comprimento de tubo mecnico | ∞ | |||||
Distncia conjugada do objetivo | ∞ | |||||
Ocular | ocular do plano do Largo-campo | WF 10X | número do campo de viso Ф22mm | Relaço do ocular Ф30mm | Distncia de Parfocal 10mm | |
Trinocular | ngulo de observaço de 30° com porto da fotografia, 8:2 da taxa do spectro (ocular: fotografia) | |||||
objetivo acromático do plano Tenso-livre | Ampliaço | Abertura numérica | Distncia de funcionamento (milímetro) | Espessura do vidro de tampa (milímetro) | Observações | |
10X | 0,25 | 20,2 | - | |||
Analisador | Introduza o tipo, possa ser interruptor livremente, o sentido da polarizaço pré-ajustou, nenhum uso para ajustam | |||||
Polarizador | Introduza o tipo, possa ser interruptor livremente, 360°rotatable | |||||
Slider de DIC | Slider de DIC que combina 5X/10X/20X o objetivo, ajustável horizontal | |||||
Fase X-Y | fase do mecanismo da dupla camada, tamanho: 180 x 145mm, escala movente: 35X 30 milímetros (X-Y) | |||||
Disponibilidade vertical da distncia | Distncia disponível 133mm do sistema do foco, espessura máxima do espécime observacional até 130mm. | |||||
sistema do foco | Sistema grosseiro/fino coaxial do foco, diviso mínima da focalizaço da multa: 2μm | |||||
Iluminaço | Iluminaço coaxial usando o diodo emissor de luz branco do brilho alto. Brilho ajustável | |||||
Poder principal sullpy | C.A.: 85V~265V 50/60Hz, especificaço do fusível: 250V 3.0A | |||||
Acessório (opcional) | Objetivo | objetivo acromático do plano 20X tenso-livre, NA: 0,40, distncia de funcionamento: 8.0mm | ||||
Cmara digital | 130, 300, 500, pixéis 1000mega, com software de análise da imagem. |