A câmara do teste de ciclo do poder do PCT MORDEU a varredura completa da movimentação do sistema de documentação funcional da multi movimentação da queima MDT para o teste padrão do SSD

Number modelo:MDP-216-CC
Lugar de origem:China
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Detalhes do produto

O teste de ciclo do poder do PCT MORDEU teste da movimentaço do teste MDT da queima a varredura completa da movimentaço do sistema de documentaço funcional do multi para o teste padro do SSD

 

Como o teste do nome, a cmara do SSD é projetada especialmente para testes do semicondutor como o teste padro do SSD, o flash, a microplaqueta, e o carto de memória que testa dentro

 

Ciclismo Tes do poder, teste da queima, multi teste da movimentaço e testes completos da varredura da movimentaço para o teste padro do SSD. Nosso technoloy avançado na cmara do SSD é em segundo a ninguém em China.

 

Aplicações

 

Teste anormal da falha de energia para o teste padro do SSD

| leia e escreva o teste para o teste padro do SSD

| Teste da instruço do SSD ATA1-8

| Teste anormal da falha de energia do SSD

| Disco completo do SSD para ler e escrever o teste

| Algoritmo do SSD que traça a verificaço da tabela

| UFS, PCIE, sistema de teste de EMMC

| Teste instantneo do envelhecimento e de seleço

| SSD de PCI-E, SSD do M2, teste do SSD de SATA

 

I. Característica

 

l teste SATAI/II/III do apoio;

l personalizaço do número do teste de SATA do apoio, tal como 100, 150, 200, 400, etc.;

l apoio R & micro-personalizaço de D, tal como 2 ou 6 etc.;

l testes do apoio (- 70 graus a +180 graus);

l teste anormal do sem energia do apoio e teste de envelhecimento;

l apoia o teste de controle automatizado da temperatura;

l apoia o uso do software para testes de controle inteligentes;

l personalizaço do teste do apoio e do software do teste;

l apoia o equilíbrio da velocidade do vento e da temperatura na caixa;

l apoia a elevaço da temperatura e o controle rápidos da queda;

l apoia R & D personalizados de PCIE/EMMC/UFS/GOLE/envelhecimento instantneo;

l apoia o controle conectado, você pode controlar o teste remotamente e ver os resultados da análise;

l teste de controle remoto do APP do apoio;
 

1,2 construço

O sistema de teste completo da máquina inclui principalmente a cmara da temperatura do alto e baixo, os cartões-matrizes do PC, as placas do PM e o software do teste, etc.

 

1,3 hardware

A peça do hardware é composta principalmente das seguintes peças:

| Escudo da caixa da temperatura do alto e baixo; | Compressor; | Carto-matriz do PC; | Placa do PM; | Unidade de controle do poder;

1,4 software

A peça do software é composta principalmente das seguintes peças:

| PC do teste: É dividido principalmente no seguinte tipo PCT, MORDIDO, MDT e sistema de documentaço funcional;

|Console: Pode controlar a operaço inteira do PC do teste. É uma relaço de controle para testar. É usado para enviar instruções de teste e roteiros da configuraço. É o centro de comando para testar.

|DMS: usado para salvar todos os resultados da análise;

| QMS: usado para operações da gesto de rede e de controle;

| Sistema operacional de Linux;

 

Sistema de vigilncia

 

 

Vista geral do sistema de teste inteligente do SSD

 

O sistema de teste inteligente de SSD adota a plataforma do sistema operacional Win7. Com o modo aberto do roteiro, a temperatura da cmara da temperatura do alto e baixo e os artigos do teste de produtos de SATA podem ser alterados arbitrariamente. A transmisso de dados é executada através do sistema de LUNIX e da bomba de óleo para realizar a operaço do um-clique. , Controle conectado, trabalho de salvamento, realizando a gesto de dados inteligente, e permanentemente retendo resultados da análise.

O equipamento de teste do SSD apoia principalmente testes da funço e de protocolo do produto do SSD.

A estrutura do princípio de uma única caixa da temperatura do alto e baixo para testes do produto do SSD é mostrada abaixo:

 

As características principais de sua estrutura do princípio so como segue:

1, cmara pode ser personalizado de acordo com o uso do tamanho;

2. Placa de circuito do controle: 1 PC (6/22) é usado em cada carto-matriz do PC, e no programa de teste independentemente é tornado e mantido pela empresa;

3. Artigos do teste: Os artigos do teste incluem principalmente testes múltiplos do poder-para baixo, um grande número testes de comparaço de leitura/gravaço, testes de protocolo, e assim por diante;

4. Plataforma do controle: Controle o teste inteiro em um formulário do roteiro através do console;

5. Servidor de QMS: Todos os resultados da análise so transmitidos de volta a QMS no tempo real e armazenados permanentemente;

6. Interface de rede: Pode ser controlada remotamente através da rede, e o cliente pode obter o estado do teste de produço do produto comprado no tempo real;

2,2 investigaço e desenvolvimento independente do software e do hardware

 

Nossa empresa é a primeira empresa em China que especializa-se no desenvolvimento de sistemas de teste do SSD. A investigaço e desenvolvimento independente é dividida principalmente nas seguintes peças:

1. Caixa do teste da temperatura do alto e baixo: Usado geralmente para SSD do C-temp (- 70 graus ~ + 180 graus). Durante a produço em massa, a distribuiço da taxa de falhas da produço pode ser analisada. Os métodos do teste da temperatura do alto e baixo so usados, e um teste razoável é desenvolvido por relações de amostra do QA é usado para executar testes da cmara para confirmar a qualidade.

2. Suporte do teste do produto do SSD: Todo o computador do CNC da liga de alumínio dá sinal de gongo o processamento, e a superfície é enegrecida e anodizada.

3. Material informático: O carto-matriz do teste é projetado especialmente com uma área de armazenamento traseira, que contenha 36 cartões-matrizes do computador e 36 fontes e discos rígidos de alimentaço, 5 lubrificadores do óleo da plataforma, e 5 paineis isolantes no carto-matriz.

4. Peça do software: Principalmente controle a plataforma inteligente da operaço do SSD, várias funções de teste do SSD, 1 exposiço traseira do armazém, 1 conversor da exposiço.

5. Picowatt e folha: 36 folhas de teste do SSD, folhas de 36 picowatts, 72 grupos de silicone selado.

Em terceiro lugar, cmara personalizada do teste da temperatura do alto e baixo

 

O sistema de controlo da temperatura do equilíbrio usa o PID para controlar o SSR, de modo que a quantidade de aquecimento do sistema seja igual perda de calor, assim que pode ser usada estavelmente por muito tempo.

 

: Posicione e exigências: refere refrigerado a ar no ℃ da temperatura ambiente 20, nenhum-carga:

 

1) Variaço da temperatura: -60 ℃ ~ + ℃ 180

2) Estabilidade de temperatura: ℃ do ± 0,2

3) Média da distribuiço da temperatura: ℃ do ± 2 (dentro de 3 minutos após o carregamento)

4) Limite mínimo da temperatura: -70 ℃

5) Tempo de aquecimento: 25 ° C, 90 ° C, (5 ° C/minuto)

6) Tempo refrigerando: ° C de 90 ° C -55, (1 ° C/minuto)

7) Pontos comuns da temperatura do teste: -45, -40, -5, 0, 25, 70, 75, 85, 90

8) Preciso da temperatura: +/- 2,0 graus, referem geralmente a diferença entre a temperatura do ponto central e a temperatura ajustada, para determinar os resultados medidos quando a temperatura alcança 30 minutos, ou o valor médio da temperatura em pontos de preparaço de amostras múltipla e no julgamento ajustado da diferença da temperatura. Nossos juizes da empresa mais grande.

9) Flutuaço da temperatura: 0,5 graus, depois que o equilíbrio da temperatura é alcançado, a diferença entre a mais alta temperatura e a mais baixa temperatura no mesmo ponto da detecço so tomados como o ponto o mais mau para o julgamento.

10) Uniformidade da distribuiço: 2 graus, que refere a diferença entre a mais alta e mais baixa temperatura de todos os pontos da detecço ao mesmo tempo depois que o equilíbrio da temperatura é alcançado, e esto determinados pelo resultado da medida quando o equilíbrio da temperatura é 30 minutos.

11) Tempo do equilíbrio: 30 minutos, o tempo decorreu da exposiço até que o equilíbrio real esteja alcançado.

12) Na temperatura de uso geral do teste, ultrapasse no deve exceder 3 graus (o valor da exposiço do termostato no deve exceder 2 graus)

13) A temperatura ultrapassa: a) a mudança de uma temperatura do teste a uma temperatura similar do teste (por exemplo, 70 a 75 graus), ultrapassa no excede 3 graus; b) após o teste de alta temperatura é estável, a porta é fechado após 85 graus) um teste da abertura (, uma estadia curtos 30s da abertura da porta), elevaço da temperatura no excede 3 graus.

14) Durante o aquecimento ou o processo refrigerando, nenhum processo óbvio da plataforma deve ocorrer. Por exemplo, quando a temperatura aumenta da temperatura normal a 70 graus, no deve retardar significativamente antes de alcançar 70 graus (aproximadamente 68 graus).

15) Depois que o compressor se estabelece por muito tempo, no deve haver nenhuns vibraço excessiva e ruído anormal.

16) Os contatores da C.A., os relés, etc. no devem ter o ruído anormal.

17) Quando o aquecimento da baixa temperatura, lá no dever ser nenhuma condensaço na parede da janela e da caixa de observaço

 

Nota: Se a preciso da temperatura é alta, a uniformidade maior da distribuiço da temperatura pode ser aceitada

 

Lista de peças

Parte

Lista

Parte/componenteTipo
Compressores da refrigeraçoFrança Tecumseh
Controlador de temperaturaSérie coreana de TEMI
Separador de óleoE.U. ALCO, C.A. & R ou ESK alemo
Relé da pressoDANFOSS ou americano RANCO
Condensador (permutador de calor da placa)Dinamarca DANFOSS
EvaporadorZhongli
Válvula de regulamento de evaporaço da pressoDANFOSS
Filtro secoDANFOSS ou americano SPORLAN
CapilarETOMA
Válvula da expansoDANFOSS ou americano SPORLAN
A válvula eletromagnéticaPalácio da garça-real de Japo & Itália CASTEL
Válvula de regulamento de condensaço da pressoPalácio da garça-real em Japo ou DANFOSS em Dinamarca
Interruptor da proteço do fioSchneider
Contator da C.A.Fuji, Japo ou Tai'an, Taiwan
relé térmicoTai'an, Taiwan
Relé da sequência de faseEscolha, Taiwan
Relé do tempoOmron, Japo
Relé da C.A.Omron, Japo
relé de circuito integradoOmron, Japo
Fusível térmicoEstados Unidos Emerson MICROTEMP

 

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