4" silicone na categoria 4H da prima da produção das bolachas da safira N-lubrificaram sic bolachas

Número de modelo:P-categoria 4inch
Lugar de origem:China
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Detalhes do produto

4H-N Grau de ensaio 6 polegadas de dimetro 150 mm carburo de silício substratos de cristal único (sic) bolhas, lingotes de cristal sicSubstratos de semicondutores sic,Wafer de cristal de carburo de silício/Wafer de silicone cortado sob medida

Sobre o cristal de carburo de silício (SiC)

O carburo de silício (SiC), também conhecido como carborundo, é um semicondutor contendo silício e carbono com fórmula química SiC.O SiC é usado em dispositivos eletrônicos semicondutores que operam a altas temperaturas ou altas tensõesO SiC é também um dos componentes importantes do LED, é um substrato popular para o crescimento de dispositivos GaN e também serve como um dispersor de calor em LEDs de alta potência

 

4 polegadas de dimetro de carburo de silício (SiC) Especificaço do substrato

 Grau

Grau de produço de MPD zero

(Graduaço Z)

Grau de produço

(Classe P)

Grau D

Dimetro

990,5-100 mm

 Espessura

4H-N

350 μm±25 μm

4H-SI

500 μm±25 μm

 Orientaço da wafer

Fora do eixo: 4,0° para a direcço 1120 > ± 0,5° para 4H-N No eixo: <0001> ± 0,5° para 4H-SI

 Densidade dos microtubos

4H-N

0.5 cm-2

2 cm-2

15 cm-2

4H-SI

1 cm-2

5 centímetros-2

15 cm-2

 Resistividade

4H-N

00,015 a 0,025 Ω·cm

0.015~0.028 Ω·cm

4H-SI

1E7 Ω·cm

1E5 Ω·cm

 Flat primário

{10-10} ± 5,0°

 Duraço plana primária

32.5 mm±2.0 mm

 Duraço plana secundária

180,0 mm±2,0 mm

 Orientaço plana secundária

Silício virado para cima: 90° CW. a partir de Prime flat ±5,0°

 Excluso da borda

2 mm

 LTV/TTV/Bow/Warp

4 μm/10 μm /25 μm /35 μm

10 μm/15 μm /25 μm /40 μm

 Resistência corroso

Polonês Ra1 nm

CMP Ra0.5 nm

Fragmentaço por luz de alta intensidade

Nenhum

Comprimento acumulado10 mm, comprimento único ≤ 2 mm

Placas hexadecimais por luz de alta intensidade

Área acumulada00,05%

Área acumulada00,1%

Áreas de politipo por luz de alta intensidade

Nenhum

Área acumulada3%

Inclusões de carbono visuais

Área acumulada00,05%

Área acumulada3%

Riscos causados por luz de alta intensidade

Nenhum

Comprimento acumulado1×Dimetro da bolacha

 Chip de borda

Nenhum

5 permitido,1 mm cada

Contaminaço por luz de alta intensidade

Nenhum

 Embalagem

Cassete de várias placas ou recipiente de uma única placa

Notas:
* Os limites de defeitos aplicam-se a toda a superfície da bolacha, com excepço da área de excluso da borda.

 

Sobre aplicações de substratos de SiC
 
 
CATALOGO Tamanho comum                             

 

Tipo 4H-N / Wafer/esferas de SiC de alta pureza
Wafer SiC tipo N de 2 polegadas e 4H
Wafer SiC tipo N de 3 polegadas 4H
Wafer SiC de tipo N de 4 polegadas e 4H
Wafer SiC tipo N de 6 polegadas 4H/lingotes

 

4H Semi-isolaço / Alta purezaWafer de SiC

2 polegadas 4H Wafer de SiC semi-isolante
Wafer de SiC semi-isolante de 3 polegadas 4H
Wafer de SiC semi-isolante de 4 polegadas 4H
Wafer de SiC semi-isolante de 6 polegadas 4H
 
 
Wafer SiC de tipo N 6H
Wafer SiC tipo N de 6H de 2 polegadas/ingota

 
Tamanho personalizado para 2-6 polegadas
 

 

Vendas e Serviço ao Cliente

Compra de materiais

O departamento de aquisiço de materiais é responsável por reunir todas as matérias-primas necessárias para produzir o seu produto.incluindo análises químicas e físicas esto sempre disponíveis.

Qualidade

Durante e após a fabricaço ou usinagem dos seus produtos, o departamento de controlo de qualidade está envolvido em assegurar que todos os materiais e tolerncias cumprem ou excedem as suas especificações.

 

Serviço

Temos orgulho de ter pessoal de engenharia de vendas com mais de 5 anos de experiência na indústria de semicondutores.Eles so treinados para responder a perguntas técnicas, bem como fornecer cotações oportunas para suas necessidades.

Estamos ao seu lado sempre que tiver um problema, e resolvemo-lo em 10 horas.

 

Palavras-chave: Wafer de silicone, wafer de carburo de silício

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