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Wafer SiO2 Laver de óxido térmico Espessura 20um+5% Sistema de comunicaço óptica MEMS
A bolacha de dióxido de silício SIO2 serve como um elemento fundamental na fabricaço de semicondutores.Este substrato crucial está disponível em dimetros de 6 e 8 polegadasA partir daí, o material é utilizado para a fabricaço de produtos de alta resistência dieletrica.O seu índice de refraço, aproximadamente 1,4458 a 1550 nm, garante um desempenho ideal em diversas aplicações.
Reconhecida por sua uniformidade e pureza, esta bolacha é uma escolha ideal para dispositivos ópticos, circuitos integrados e microeletrônicos.As suas propriedades facilitam processos de fabricaço de dispositivos precisos e apoiam os avanços tecnológicosAlém do seu papel fundamental na fabricaço de semicondutores, estende a sua fiabilidade e funcionalidade a um espectro de aplicações, garantindo estabilidade e eficiência.
Com os seus atributos excepcionais, a bolacha de dióxido de silício SIO2 continua a impulsionar inovações na tecnologia de semicondutores, permitindo avanços em campos como circuitos integrados,OptoeletrónicaAs suas contribuições para tecnologias de ponta sublinham a sua importncia como material fundamental na produço de semicondutores.
Parmetro | Especificações |
Espessura | 20um, 10um, 25um |
Densidade | 2533 Kg/m-3 |
Tolerncia de espessura de óxido | +/- 5% (ambos lados) |
Áreas de aplicaço | Fabricaço de semicondutores, microeletrónica, dispositivos ópticos, etc. |
Ponto de fuso | 1,600° C (2,912° F) |
Conductividade térmica | Cerca de 1,4 W/m·K @ 300K |
Índice de refraço | Aproximadamente 1.44 |
Peso Molecular | 60.09 |
Coeficiente de expanso | 0.5 × 10^-6/°C |
Índice de refraço | 550nm de 1,4458 ± 0.0001 |
Orifícios de óxido de silício ultraespessos | Aplicações |
Oxidaço superficial | Wafer ultrafinos |
Conductividade térmica | Cerca de 1,4 W/m·K @ 300K |
Marca:ZMSH
Número do modelo:Orifícios de óxido de silício ultraespessos
Local de origem:China
O nosso substrato semicondutor é projetado com alta condutividade térmica, oxidaço superficial e wafer de óxido de silício ultra espesso.4 W/(m·K) @ 300K e ponto de fuso de 1O ponto de ebuliço é 2.230° C e a orientaço é <100><11><110>. O peso molecular deste substrato é 60.09.
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Embalagem e transporte de substrato de semicondutores: