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4H N tipo Semi tipo Wafer SiC 6inch ((0001) Duplo lado polido Ra≤1 nm Personalizaço
Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadas Wafers e substratos de carburo de silício (SiC) so materiais especializados usados na tecnologia de semicondutores feitos de carburo de silício,um composto conhecido pela sua elevada condutividade térmicaExcepcionalmente duras e leves, as wafers e substratos de SiC fornecem uma base robusta para a fabricaço de alta potência,Dispositivos eletrónicos de alta frequência, tais como componentes eletrónicos de potência e de radiofrequência.
1.Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadasResistência alta tenso: a wafer SiC tem mais de 10 vezes a
resistência do campo de quebra em comparaço com o material Si.Isso
permite que voltagens de quebra mais elevadas sejam alcançadas
através de menor resistividade e camadas de deriva mais finasPara a
mesma resistência de tenso, a resistência/tamanho em estado de
funcionamento dos módulos de potência de wafer de SiC é apenas 1/10
de Si, o que leva a perdas de potência significativamente
reduzidas.
2.Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadasResistência a altas frequências: o Wafer SiC no apresenta o
fenômeno da corrente de cauda, aumentando a velocidade de comutaço
dos dispositivos.tornando-o adequado para frequências mais elevadas
e velocidades de comutaço mais rápidas.
3.Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadasResistência a altas temperaturas: a largura da faixa de separaço da
wafer SiC ((~ 3.2 eV) é três vezes maior que a do Si, resultando em
uma condutividade mais forte.e a velocidade de saturaço de elétrons
é 2-3 vezes a do Si, permitindo um aumento de 10 vezes da
frequência de funcionamento, com um ponto de fuso elevado (2830°C,
aproximadamente o dobro do Si a 1410°C),Dispositivos de wafer SiC
melhoram significativamente a temperatura de funcionamento,
reduzindo as fugas de corrente.
Forma de wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadas 4H tipo N Wafer
SiC semitipo:
Grau | Grau zero de MPD | Grau de produço | Grau de investigaço | Grau de simulaço | |
Dimetro | 150.0 mm +/- 0,2 mm 300±25 | ||||
Espessura | 500 um +/- 25 um para 4H-SI 1000±50um | ||||
Orientaço da wafer | No eixo: <0001> +/- 0,5 graus para 4H-SI | ||||
Densidade de microtubos (MPD) | 1 cm-2 | 5 cm-2 | 15 cm-2 | 30 cm-2 | |
Resistividade elétrica | 4H-N | 0.015 ~ 0.025 | |||
4H-SI | > 1E5 | (90%) > 1E5 | |||
Concentraço de doping | Tipo N: ~ 1E18/cm3 | ||||
Flat primário (tipo N) | {10-10} +/- 5,0 graus | ||||
Largura plana primária (tipo N) | 47.5 mm +/- 2,0 mm | ||||
Noca (tipo semi-isolante) | Notch | ||||
Excluso da borda | 3 mm | ||||
TTV /Bow /Warp | 15um /40um /60um | ||||
Superfície rugosa | Polonês Ra 1 nm | ||||
CMP Ra 0,5 nm na face de Si | |||||
Fragmentaço por luz de alta intensidade | Nenhum | Nenhum | 1 permitido, 2 mm | Comprimento acumulado de 10 mm, comprimento individual de 2 mm | |
Placas hexadecimais por luz de alta intensidade* | Área acumulada 0,05 % | Área acumulada 0,05 % | Área acumulada 0,05 % | Área acumulada 0,1% | |
Áreas de politipo por luz de alta intensidade* | Nenhum | Nenhum | Área acumulada 2% | Área acumulada 5% | |
Riscos causados por luz de alta intensidade** | 3 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha | 3 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha | 5 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha | 5 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha | |
Chip de borda | Nenhum | Nenhum | 3 permitidos, 0,5 mm cada | 5 permitidos, 1 mm cada | |
Contaminaço por luz de alta intensidade | Nenhum |
Foto física da bolacha SiC de 12 polegadas e 6 polegadas 4H tipo N-tipo Semi-tipo:
Aplicaço de 12 polegadas 6 polegadas 4H N-tipo Semi-tipo Wafer SiC:
• Dispositivo de epitaxia de GaN
• Dispositivo optoeletrônico
• Dispositivo de alta frequência
• Dispositivo de alta potência
• Dispositivo de alta temperatura
• Diodos emissores de luz
Aplicaço Imagem do Wafer SiC de tipo N de 12 polegadas, 6 polegadas e 4H:
Os nossos serviços de personalizaço de produtos permitem-lhe adaptar a Wafer de Carbono de Silício s suas necessidades específicas.Podemos ajustar a camada de carburo de silício para atender s suas necessidades de condutividade e fornecer uma Wafer de silício de carburo que atenda s suas especificações exatasContacte-nos hoje para saber mais sobre os nossos serviços de personalizaço de produtos.
P: Que tamanho têm as bolachas de SiC?
R: Os nossos dimetros de wafer padro variam de 25,4 mm (1 polegada)
a 300 mm (11,8 polegadas) de tamanho;Os wafers podem ser produzidos
em várias espessuras e orientações, com lados polidos ou no polidos
e podem incluir dopantes.
P: Porquê?SiC- Wafers caros?
R:O processo de sublimaço para produzir SiC requer uma energia
significativa para atingir 2.200 ̊C, enquanto a bola utilizável
final no tem mais de 25 mm de comprimento e os tempos de
crescimento so muito longos.
Q:Como fazer uma bolacha de SiC?R:O processo envolve a converso de
matérias-primas, como areia de sílica, em silício puro.a fatiagem
dos cristais em minúsculos pedaços, discos planos, e a limpeza e
preparaço das placas para utilizaço em dispositivos de
semicondutores.
1.SIC Wafer de Carbono de Silício 4H - N Tipo Para Dispositivo MOS 2
polegadas Dia50.6mm
2.Wafer de carburo de silício Wafer de SiC semi-isolante de tamanho
personalizado