4H N tipo Semi tipo Wafer SiC 6 polegadas 12 polegadas Wafer SiC SiC substrato ((0001) Duplo lado polido Ra≤1 nm Personalização

Tempo de entrega:2-4weeks
Resistividade:Alto - baixa resistividade
Conductividade:Alta/Baixa Condutividade
Revestimento de superfície:Único/lateral dobro lustrado
TTV:≤2um
A rugosidade da superfície:≤1.2nm
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4H N tipo Semi tipo Wafer SiC 6inch ((0001) Duplo lado polido Ra≤1 nm Personalizaço

Descriço da bolacha de SiC de 12 polegadas 4H do tipo N da bolacha de SiC do tipo semi:

Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadas Wafers e substratos de carburo de silício (SiC) so materiais especializados usados na tecnologia de semicondutores feitos de carburo de silício,um composto conhecido pela sua elevada condutividade térmicaExcepcionalmente duras e leves, as wafers e substratos de SiC fornecem uma base robusta para a fabricaço de alta potência,Dispositivos eletrónicos de alta frequência, tais como componentes eletrónicos de potência e de radiofrequência.

Características da bolacha SiC de 12 polegadas e 6 polegadas 4H do tipo N da bolacha SiC do tipo Semi:

1.Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadasResistência alta tenso: a wafer SiC tem mais de 10 vezes a resistência do campo de quebra em comparaço com o material Si.Isso permite que voltagens de quebra mais elevadas sejam alcançadas através de menor resistividade e camadas de deriva mais finasPara a mesma resistência de tenso, a resistência/tamanho em estado de funcionamento dos módulos de potência de wafer de SiC é apenas 1/10 de Si, o que leva a perdas de potência significativamente reduzidas.
2.
Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadasResistência a altas frequências: o Wafer SiC no apresenta o fenômeno da corrente de cauda, aumentando a velocidade de comutaço dos dispositivos.tornando-o adequado para frequências mais elevadas e velocidades de comutaço mais rápidas.
3.
Wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadasResistência a altas temperaturas: a largura da faixa de separaço da wafer SiC ((~ 3.2 eV) é três vezes maior que a do Si, resultando em uma condutividade mais forte.e a velocidade de saturaço de elétrons é 2-3 vezes a do Si, permitindo um aumento de 10 vezes da frequência de funcionamento, com um ponto de fuso elevado (2830°C, aproximadamente o dobro do Si a 1410°C),Dispositivos de wafer SiC melhoram significativamente a temperatura de funcionamento, reduzindo as fugas de corrente.


Forma de wafer SiC de 12 polegadas e 6 polegadas 4H tipo N Wafer SiC semitipo:

 

GrauGrau zero de MPDGrau de produçoGrau de investigaçoGrau de simulaço
Dimetro150.0 mm +/- 0,2 mm 300±25
Espessura

500 um +/- 25 um para 4H-SI
350 um +/- 25 um para 4H-N

1000±50um

Orientaço da wafer

No eixo: <0001> +/- 0,5 graus para 4H-SI
Fora do eixo: 4,0 graus para <11-20> +/- 0,5 graus para 4H-N

Densidade de microtubos (MPD)1 cm-25 cm-215 cm-230 cm-2

Resistividade elétrica
(Ohm-cm)

4H-N0.015 ~ 0.025
4H-SI> 1E5(90%) > 1E5
Concentraço de doping

Tipo N: ~ 1E18/cm3
Tipo SI (dopado em V): ~ 5E18/cm3

Flat primário (tipo N){10-10} +/- 5,0 graus
Largura plana primária (tipo N)47.5 mm +/- 2,0 mm
Noca (tipo semi-isolante)Notch
Excluso da borda3 mm
TTV /Bow /Warp15um /40um /60um
Superfície rugosaPolonês Ra 1 nm
CMP Ra 0,5 nm na face de Si
Fragmentaço por luz de alta intensidadeNenhumNenhum1 permitido, 2 mmComprimento acumulado de 10 mm, comprimento individual de 2 mm
Placas hexadecimais por luz de alta intensidade*Área acumulada 0,05 %Área acumulada 0,05 %Área acumulada 0,05 %Área acumulada 0,1%
Áreas de politipo por luz de alta intensidade*NenhumNenhumÁrea acumulada 2%Área acumulada 5%
Riscos causados por luz de alta intensidade**3 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha3 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha5 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha5 arranhões para 1 x comprimento acumulado do dimetro da bolacha
Chip de bordaNenhumNenhum3 permitidos, 0,5 mm cada5 permitidos, 1 mm cada
Contaminaço por luz de alta intensidadeNenhum

 

 

Foto física da bolacha SiC de 12 polegadas e 6 polegadas 4H tipo N-tipo Semi-tipo:

 

 

 

Aplicaço de 12 polegadas 6 polegadas 4H N-tipo Semi-tipo Wafer SiC:

 

• Dispositivo de epitaxia de GaN

 

• Dispositivo optoeletrônico

 

• Dispositivo de alta frequência

 

• Dispositivo de alta potência

 

• Dispositivo de alta temperatura

 

• Diodos emissores de luz

 

 

Aplicaço Imagem do Wafer SiC de tipo N de 12 polegadas, 6 polegadas e 4H:

 

 

Personalizaço:

Os nossos serviços de personalizaço de produtos permitem-lhe adaptar a Wafer de Carbono de Silício s suas necessidades específicas.Podemos ajustar a camada de carburo de silício para atender s suas necessidades de condutividade e fornecer uma Wafer de silício de carburo que atenda s suas especificações exatasContacte-nos hoje para saber mais sobre os nossos serviços de personalizaço de produtos.


Perguntas e Respostas:

P: Que tamanho têm as bolachas de SiC?
R: Os nossos dimetros de wafer padro variam de 25,4 mm (1 polegada) a 300 mm (11,8 polegadas) de tamanho;Os wafers podem ser produzidos em várias espessuras e orientações, com lados polidos ou no polidos e podem incluir dopantes.
P: Porquê?SiC- Wafers caros?
R:O processo de sublimaço para produzir SiC requer uma energia significativa para atingir 2.200 ̊C, enquanto a bola utilizável final no tem mais de 25 mm de comprimento e os tempos de crescimento so muito longos.
Q:Como fazer uma bolacha de SiC?R:O processo envolve a converso de matérias-primas, como areia de sílica, em silício puro.a fatiagem dos cristais em minúsculos pedaços, discos planos, e a limpeza e preparaço das placas para utilizaço em dispositivos de semicondutores.

Recomendaço do produto:

1.SIC Wafer de Carbono de Silício 4H - N Tipo Para Dispositivo MOS 2 polegadas Dia50.6mm
 


2.Wafer de carburo de silício Wafer de SiC semi-isolante de tamanho personalizado

 

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