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Wafer SiC de 6 polegadas 4H/6H-P Substrato de Carbono de Silício DSP (111) Semicondutor RF Microondas Laser LED
O Wafer de Carbono de Silício (SiC) de tipo P de 6 polegadas em politipo 4H ou 6H. Ele tem propriedades semelhantes s da wafer de Carbono de Silício (SiC) de tipo N, como resistência a altas temperaturas,Alta condutividade térmica, alta condutividade elétrica, etc. O substrato SiC do tipo P é geralmente usado para a fabricaço de dispositivos de energia, especialmente a fabricaço de transistores bipolares de porto isolado (IGBT).O projeto de IGBT geralmente envolve junções P-N, onde o SiC de tipo P pode ser vantajoso para controlar o comportamento dos dispositivos.
1Resistência radiaço:
O carburo de silício é altamente resistente aos danos causados pela
radiaço, tornando as wafers 4H/6H-P SiC ideais para uso em
aplicações espaciais e nucleares onde a exposiço radiaço é
significativa.
2Larga Bandgap:
4H-SiC: A distncia de banda é de aproximadamente 3,26 eV.
6H-SiC: a banda é ligeiramente menor, a cerca de 3,0 eV.
Essas largas faixas de banda permitem que as placas de SiC operem a
temperaturas e tensões mais altas em comparaço com materiais base
de silício, tornando-as ideais para eletrônicos de potência e
condições ambientais extremas.
3Campo elétrico de alta degradaço:
As placas de SiC têm um campo elétrico de quebra muito maior (cerca
de 10 vezes maior que o do silício), o que permite o projeto de
dispositivos de energia menores e mais eficientes que podem lidar
com altas tensões.
4. Alta condutividade térmica:
O SiC possui excelente condutividade térmica (cerca de 3-4 vezes
superior ao silício), permitindo que dispositivos feitos a partir
dessas placas operem a alta potência sem superaquecimento.Isso os
torna ideais para aplicações de alta potência onde a dissipaço de
calor é crítica.
5Alta Mobilidade Electrónica:
O 4H-SiC tem uma maior mobilidade eletrônica (~ 950 cm2/Vs) em
comparaço com o 6H-SiC (~ 400 cm2/Vs), o que significa que o 4H-SiC
é mais adequado para aplicações de alta frequência.
Esta alta mobilidade de elétrons permite velocidades de comutaço
mais rápidas em dispositivos eletrônicos, tornando o 4H-SiC
preferível para aplicações de RF e microondas.
6Estabilidade a temperatura:
Os Wafers de SiC podem funcionar a temperaturas muito superiores a
300°C, muito mais elevadas do que os dispositivos base de silício,
que so tipicamente limitados a 150°C. Isso os torna altamente
desejáveis para uso em ambientes adversos,como automóveis,
aeroespacial e sistemas industriais.
7. Alta resistência mecnica:
As placas de SiC so mecanicamente robustas, com excelente dureza e
resistência ao esforço mecnico.
6 polegadas de dimetro de carburo de silício (SiC) Especificaço do substrato | |||||
Grau | Produço zero de MPD Classe (Classe Z) | Produço padro Grau (Grado P) | Grau de simulaço (Classe D) | ||
Dimetro | 145.5 mm~150,0 mm | ||||
Espessura | 350 μm ± 25 μm | ||||
Orientaço da wafer | Fora do eixo: 2,0°-4,0° para a direço [1120] ± 0,5° para 4H/6H-P, no eixo: ∼111 ∼ 0,5° para 3C-N | ||||
Densidade dos microtubos | 0 cm-2 | ||||
Resistividade | Tipo p 4H/6H-P | ≤ 0,1 Ω.cm | ≤ 0,3 Ω.cm | ||
Orientaço plana primária | Tipo p 4H/6H-P | {1010} ± 5,0° | |||
Duraço plana primária | 32.5 mm ± 2,0 mm | ||||
Duraço plana secundária | 18.0 mm ± 2,0 mm | ||||
Orientaço plana secundária | Silício virado para cima: 90° CW. a partir de Prime flat ± 5,0° | ||||
Excluso de borda | 3 mm | 6 mm | |||
LTV/TTV/Bow/Warp | ≤ 2,5 μm/≤ 5 μm/≤ 15 μm/≤ 30 μm | ≤ 10 μm/≤ 15 μm/≤ 25 μm/≤ 40 μm | |||
Resistência corroso | Ra≤1 nm polaco | ||||
CMP Ra≤0,2 nm | Ra≤0,5 nm | ||||
Fissuras de borda por luz de alta intensidade | Nenhum | Comprimento acumulado ≤ 10 mm, comprimento único ≤ 2 mm | |||
Placas hexadecimais por luz de alta intensidade | Área acumulada ≤ 0,05% | Área acumulada ≤ 0,1% | |||
Áreas de politipo por luz de alta intensidade | Nenhum | Área acumulada≤3% | |||
Inclusões de carbono visuais | Área acumulada ≤ 0,05% | Área acumulada ≤ 3% | |||
A superfície do silício é arranhada pela luz de alta intensidade | Nenhum | Comprimento acumulado ≤ 1 × dimetro da wafer | |||
Chips de borda de alta intensidade de luz | Nenhuma largura e profundidade ≥ 0,2 mm | 5 permitidos, ≤ 1 mm cada | |||
Contaminaço da superfície do silício por alta intensidade | Nenhum | ||||
Embalagem | Cassete com várias placas ou recipiente de uma única placa |
Eletrónica de Potência:
Usado em diodos, MOSFETs e IGBTs para aplicações de alta tenso e
alta temperatura, como veículos elétricos, redes elétricas e
sistemas de energia renovável.
Dispositivos de RF e microondas:
Ideal para dispositivos de alta frequência, como amplificadores de
RF e sistemas de radar.
LEDs e lasers:
O SiC é também utilizado como material de substrato para a produço
de LEDs e lasers base de GaN.
Eletrónica automóvel:
Utilizado em componentes do sistema de transmisso de veículos
elétricos e sistemas de carregamento.
Aeroespacial e Militar:
Devido sua dureza de radiaço e estabilidade térmica, as placas de
SiC so usadas em satélites, radares militares e outros sistemas de
defesa.
Aplicações industriais:
Empregado em fontes de alimentaço industriais, motores e outros sistemas eletrónicos de alta potência e alta eficiência.
A personalizaço de wafers de carburo de silício (SiC) é essencial para atender s necessidades específicas de várias aplicações eletrônicas, industriais e científicas avançadas.Podemos oferecer uma gama de parmetros personalizáveis para garantir que as placas so otimizadas para requisitos de dispositivos específicos. Abaixo esto os principais aspectos da personalizaço de wafer SiC:Orientaço cristalina; Dimetro e espessura; Tipo e concentraço de dopagem; Poliço e acabamento da superfície; Resistividade; Camada epitaxial; Planilhas e entalhes de orientaço;Cloreto de sódio (SiC-on-Si) e outras combinações de substratos.
1.P: O que é 4H e 6H SiC?
R: 4H-SiC e 6H-SiC representam estruturas cristalinas hexagonais,
com "H" indicando simetria hexagonal e os números 4 e 6 as camadas
em suas células unitárias.Esta variaço estrutural afeta a estrutura
de banda eletrônica do material, que é um determinante chave do
desempenho de um dispositivo semicondutor.
2.P: O que é um substrato tipo P?
O material do tipo p é um semicondutor que tem um portador de carga
positiva, conhecido como buraco.que tem um elétron de valência a
menos do que os átomos dos semicondutores.
1.SiC Wafer de Carbono de Silício Tipo 4H-N Para Dispositivo MOS 2 polegadas Dimetro 50,6 mm
2.SiC Substrato de Carbono de Silício Substrato 3C-N 5×5 10×10 mm