Wafer SiC de 6 polegadas 4H/6H-P Substrato de Carbono de Silício DSP (111) Semicondutor RF Microondas Laser LED

Tempo de entrega:2-4 semanas
Materiais:Carbono de silício
Diâmetro:2 polegadas 4 polegadas 6 polegadas 8 polegadas
Espessura:350um
Grau:Manequim da pesquisa da produção
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Shanghai Shanghai China
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Wafer SiC de 6 polegadas 4H/6H-P Substrato de Carbono de Silício DSP (111) Semicondutor RF Microondas Laser LED

Descriço da Wafer SiC:

O Wafer de Carbono de Silício (SiC) de tipo P de 6 polegadas em politipo 4H ou 6H. Ele tem propriedades semelhantes s da wafer de Carbono de Silício (SiC) de tipo N, como resistência a altas temperaturas,Alta condutividade térmica, alta condutividade elétrica, etc. O substrato SiC do tipo P é geralmente usado para a fabricaço de dispositivos de energia, especialmente a fabricaço de transistores bipolares de porto isolado (IGBT).O projeto de IGBT geralmente envolve junções P-N, onde o SiC de tipo P pode ser vantajoso para controlar o comportamento dos dispositivos.

O Caráter da Wafer SiC:

1Resistência radiaço:
O carburo de silício é altamente resistente aos danos causados pela radiaço, tornando as wafers 4H/6H-P SiC ideais para uso em aplicações espaciais e nucleares onde a exposiço radiaço é significativa.

2Larga Bandgap:
4H-SiC: A distncia de banda é de aproximadamente 3,26 eV.
6H-SiC: a banda é ligeiramente menor, a cerca de 3,0 eV.
Essas largas faixas de banda permitem que as placas de SiC operem a temperaturas e tensões mais altas em comparaço com materiais base de silício, tornando-as ideais para eletrônicos de potência e condições ambientais extremas.
3Campo elétrico de alta degradaço:
As placas de SiC têm um campo elétrico de quebra muito maior (cerca de 10 vezes maior que o do silício), o que permite o projeto de dispositivos de energia menores e mais eficientes que podem lidar com altas tensões.
4. Alta condutividade térmica:
O SiC possui excelente condutividade térmica (cerca de 3-4 vezes superior ao silício), permitindo que dispositivos feitos a partir dessas placas operem a alta potência sem superaquecimento.Isso os torna ideais para aplicações de alta potência onde a dissipaço de calor é crítica.
5Alta Mobilidade Electrónica:
O 4H-SiC tem uma maior mobilidade eletrônica (~ 950 cm2/Vs) em comparaço com o 6H-SiC (~ 400 cm2/Vs), o que significa que o 4H-SiC é mais adequado para aplicações de alta frequência.
Esta alta mobilidade de elétrons permite velocidades de comutaço mais rápidas em dispositivos eletrônicos, tornando o 4H-SiC preferível para aplicações de RF e microondas.
6Estabilidade a temperatura:
Os Wafers de SiC podem funcionar a temperaturas muito superiores a 300°C, muito mais elevadas do que os dispositivos base de silício, que so tipicamente limitados a 150°C. Isso os torna altamente desejáveis para uso em ambientes adversos,como automóveis, aeroespacial e sistemas industriais.
7. Alta resistência mecnica:
As placas de SiC so mecanicamente robustas, com excelente dureza e resistência ao esforço mecnico.

Forma da Wafer SiC:

6 polegadas de dimetro de carburo de silício (SiC) Especificaço do substrato
GrauProduço zero de MPD
Classe (Classe Z)
Produço padro
Grau (Grado P)
Grau de simulaço
(Classe D)
Dimetro145.5 mm~150,0 mm
Espessura350 μm ± 25 μm
Orientaço da waferFora do eixo: 2,0°-4,0° para a direço [1120] ± 0,5° para 4H/6H-P, no eixo: ∼111 ∼ 0,5° para 3C-N
Densidade dos microtubos0 cm-2
ResistividadeTipo p 4H/6H-P≤ 0,1 Ω.cm≤ 0,3 Ω.cm
Orientaço plana primáriaTipo p 4H/6H-P{1010} ± 5,0°
Duraço plana primária32.5 mm ± 2,0 mm
Duraço plana secundária18.0 mm ± 2,0 mm
Orientaço plana secundáriaSilício virado para cima: 90° CW. a partir de Prime flat ± 5,0°
Excluso de borda3 mm6 mm
LTV/TTV/Bow/Warp≤ 2,5 μm/≤ 5 μm/≤ 15 μm/≤ 30 μm≤ 10 μm/≤ 15 μm/≤ 25 μm/≤ 40 μm
Resistência corrosoRa≤1 nm polaco
CMP Ra≤0,2 nmRa≤0,5 nm
Fissuras de borda por luz de alta intensidadeNenhumComprimento acumulado ≤ 10 mm, comprimento único ≤ 2 mm
Placas hexadecimais por luz de alta intensidadeÁrea acumulada ≤ 0,05%Área acumulada ≤ 0,1%
Áreas de politipo por luz de alta intensidadeNenhumÁrea acumulada≤3%
Inclusões de carbono visuaisÁrea acumulada ≤ 0,05%Área acumulada ≤ 3%
A superfície do silício é arranhada pela luz de alta intensidadeNenhumComprimento acumulado ≤ 1 × dimetro da wafer
Chips de borda de alta intensidade de luzNenhuma largura e profundidade ≥ 0,2 mm5 permitidos, ≤ 1 mm cada
Contaminaço da superfície do silício por alta intensidadeNenhum
EmbalagemCassete com várias placas ou recipiente de uma única placa

Aplicaço da Wafer SiC:

Eletrónica de Potência:

Usado em diodos, MOSFETs e IGBTs para aplicações de alta tenso e alta temperatura, como veículos elétricos, redes elétricas e sistemas de energia renovável.
Dispositivos de RF e microondas:

Ideal para dispositivos de alta frequência, como amplificadores de RF e sistemas de radar.
LEDs e lasers:

O SiC é também utilizado como material de substrato para a produço de LEDs e lasers base de GaN.
Eletrónica automóvel:

Utilizado em componentes do sistema de transmisso de veículos elétricos e sistemas de carregamento.
Aeroespacial e Militar:

Devido sua dureza de radiaço e estabilidade térmica, as placas de SiC so usadas em satélites, radares militares e outros sistemas de defesa.
Aplicações industriais:

Empregado em fontes de alimentaço industriais, motores e outros sistemas eletrónicos de alta potência e alta eficiência.

Imagem de aplicaço de Wafer SiC:

Personalizaço:

A personalizaço de wafers de carburo de silício (SiC) é essencial para atender s necessidades específicas de várias aplicações eletrônicas, industriais e científicas avançadas.Podemos oferecer uma gama de parmetros personalizáveis para garantir que as placas so otimizadas para requisitos de dispositivos específicos. Abaixo esto os principais aspectos da personalizaço de wafer SiC:Orientaço cristalina; Dimetro e espessura; Tipo e concentraço de dopagem; Poliço e acabamento da superfície; Resistividade; Camada epitaxial; Planilhas e entalhes de orientaço;Cloreto de sódio (SiC-on-Si) e outras combinações de substratos.

Embalagem e transporte:

Perguntas frequentes:

1.P: O que é 4H e 6H SiC?
R: 4H-SiC e 6H-SiC representam estruturas cristalinas hexagonais, com "H" indicando simetria hexagonal e os números 4 e 6 as camadas em suas células unitárias.Esta variaço estrutural afeta a estrutura de banda eletrônica do material, que é um determinante chave do desempenho de um dispositivo semicondutor.

2.P: O que é um substrato tipo P?
O material do tipo p é um semicondutor que tem um portador de carga positiva, conhecido como buraco.que tem um elétron de valência a menos do que os átomos dos semicondutores.

Recomendaço do produto:

1.SiC Wafer de Carbono de Silício Tipo 4H-N Para Dispositivo MOS 2 polegadas Dimetro 50,6 mm

 

2.SiC Substrato de Carbono de Silício Substrato 3C-N 5×5 10×10 mm

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