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Microscópio metalúrgico de XJP-158J
O microscópio metalúrgico de XJP-158J é desenvolvido e visou a indústria do semicondutor, fabricaço da bolacha, indústria da informaço eletrônica, indústria metalúrgica, usada como um microscópio metalúrgico avançado, o usuário pode experimentar seu desempenho super ao usá-lo. Pode ser amplamente utilizado identificar e analisar o semicondutor, FPD, capsulagem do circuito, carcaça do circuito, material, moldar/metal/peças cermicas, moldes da preciso. Este instrumento adota ambos que refletem e a iluminaço transmitida, o campo de Bright&Dark, o DIC e a observaço de polarizaço
pode continuar sob a iluminaço refletir, e a observaço brilhante do campo é feita sob a luz transmitida. O sistema ótico de alta qualidade e seguro traz uma imagem muito mais clara e mais afiada. O projeto encontra as necessidades ergonômicas e fá-lo sentir confortável e relaxado em fazer seu trabalho
Características e descriço
1. Adote a distncia de alta resoluço, longa de UIS de funcionamento, e o trajeto leve da infinidade
corrigindo a tecnologia imagiológica do objetivo do sistema
2. Estendendo a tecnologia da multiplexaço da infinidade objetiva, compatível
objetivo com todos os métodos de observaço, incluindo o campo do bright&dark
a observaço, a polarizaço e DIC igualmente fornecem com o altamente claro e afiado
imagem em cada método de observaço.
3. Iluminaço de superfície Aspherical de Kohler, aumentando o brilho da viso.
4. Ocular largo super do campo da viso de WF10× (Φ25), distncia de funcionamento longa
objetivo metalúrgico com campo brilhante e escuro
5. O Nosepiece pode ser equipado com a interferência destacável do diferencial de DIC
dispositivo.
| Especificaço | |
| Cabeça da viso | Cabeça livre de Trinocular da compensaço, 30° inclinado (50mm-75mm) |
| Ocular | WF10×/25mm |
| WF10×/20mm, crosshair com reticule 0.1mm | |
| Objetivo | Objetivos longos do campo Infinity.Plan do bright&dark da distncia de funcionamento: 5×/0.1B.D/W.D.29.4mm, 10×/0.25B.D/W.D.16mm, 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm, 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm, |
| Nosepiece | Com o Nosepiece quádruplo de DIC Jack |
| Fase | Fase mecnica da dupla camada |
| Tamanho da fase: 189mm×160mm | |
| Escala movente: 80mm×50mm | |
| Filtro | Tipo filtros de Flashboard (verde, azul, neutro) |
| Condensador | Condensador de Abbe N.A.1.25 com diafragma e filtro de íris |
| Focalizaço | Ajuste de focalizaço do &fine grosseiro coaxial com mecanismo da cremalheira e do pinho. Muito bem valor de escala de focalizaço 0.002mm |
| Fonte luminosa | Iluminaço da transmisso: Bulbo de halogênio 12V/50W, AC85V-230V, brilho ajustável |
Epi-iluminaço: Com o diafragma de íris da abertura e o diafragma de íris do campo, halogênio Bulbo 12V/50W, AC85V-230V, brilho ajustável | |
| Dispositivo de polarizaço | O analisador 360°rotatable, polarizador e analisador pode ser movido fora do trajeto leve |
| Verificando a ferramenta | micrômetro de 0.01mm |
| Acessório opcional | Medida bidimensional do software |
| Software de análise metalúrgico profissional da imagem | |
| Epi-iluminaço: Bulbo de halogênio 12V/100W, AC85V-230V, brilho ajustável | |
Campo brilhante & escuro Planobjectives infinito de distncia de funcionamento longa: 50×/0.55B.D/W.D.5.1mm, 80×/0.75B.D/W.D.4mm, 100×/0.80B.D/W.D.3mm | |
| ocular de micrômetro | |
| 1.3Mega, 2,0 mega, 3,0 mega, 5,0 ocular mega da cmara digital do CMOS dos pixéis | |
| Adaptador 0.5× do CCD do attachmentand da fotografia, 0.57×, 0.75× | |
| DIC (10×, 20×, 40×, 100×) | |
| Ferramenta Planishing | |
| A cmera do CCD, colore linhas de 1/3 de tevê da alta resoluço 520 do ″ | |