Objetivo longo da distância de funcionamento do microscópio metalúrgico de Trinocular

Número de modelo:XJP-158J
Lugar de origem:CHINA
Quantidade de ordem mínima:UM PC
Capacidade da fonte:50PCS/Month
Prazo de entrega:Conforme a quantidade da ordem
Detalhes de empacotamento:No caso e na caixa do isopor
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Dos Estados-activa
Ningbo Zhejiang China
Endereço: NO.58 WEST MAOCHENG ROAD ,YINZHOU DISTRICT,NINGBO 315192 CHINA
Fornecedor do último login vezes: No 48 Horas
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Microscópio metalúrgico de XJP-158J

 

 

O microscópio metalúrgico de XJP-158J é desenvolvido e visou a indústria do semicondutor, fabricaço da bolacha, indústria da informaço eletrônica, indústria metalúrgica, usada como um microscópio metalúrgico avançado, o usuário pode experimentar seu desempenho super ao usá-lo. Pode ser amplamente utilizado identificar e analisar o semicondutor, FPD, capsulagem do circuito, carcaça do circuito, material, moldar/metal/peças cermicas, moldes da preciso. Este instrumento adota ambos que refletem e a iluminaço transmitida, o campo de Bright&Dark, o DIC e a observaço de polarizaço 

pode continuar sob a iluminaço refletir, e a observaço brilhante do campo é feita sob a luz transmitida. O sistema ótico de alta qualidade e seguro traz uma imagem muito mais clara e mais afiada. O projeto encontra as necessidades ergonômicas e fá-lo sentir confortável e relaxado em fazer seu trabalho

 

Características e descriço

1. Adote a distncia de alta resoluço, longa de UIS de funcionamento, e o trajeto leve da infinidade

corrigindo a tecnologia imagiológica do objetivo do sistema

2. Estendendo a tecnologia da multiplexaço da infinidade objetiva, compatível

objetivo com todos os métodos de observaço, incluindo o campo do bright&dark

a observaço, a polarizaço e DIC igualmente fornecem com o altamente claro e afiado

imagem em cada método de observaço.

3. Iluminaço de superfície Aspherical de Kohler, aumentando o brilho da viso.

4. Ocular largo super do campo da viso de WF10× (Φ25), distncia de funcionamento longa

objetivo metalúrgico com campo brilhante e escuro

5. O Nosepiece pode ser equipado com a interferência destacável do diferencial de DIC

dispositivo.

 

Especificaço
Cabeça da visoCabeça livre de Trinocular da compensaço, 30° inclinado (50mm-75mm)
OcularWF10×/25mm
WF10×/20mm, crosshair com reticule 0.1mm
Objetivo

Objetivos longos do campo Infinity.Plan do bright&dark da distncia de funcionamento:

5×/0.1B.D/W.D.29.4mm, 10×/0.25B.D/W.D.16mm,

20×/0.40B.D/W.D.10.6mm, 40×/0.60B.D/W.D.5.4mm,

NosepieceCom o Nosepiece quádruplo de DIC Jack
FaseFase mecnica da dupla camada
Tamanho da fase: 189mm×160mm
Escala movente: 80mm×50mm
FiltroTipo filtros de Flashboard (verde, azul, neutro)
CondensadorCondensador de Abbe N.A.1.25 com diafragma e filtro de íris
Focalizaço

Ajuste de focalizaço do &fine grosseiro coaxial com mecanismo da cremalheira e do pinho. Muito bem

valor de escala de focalizaço 0.002mm

Fonte luminosaIluminaço da transmisso: Bulbo de halogênio 12V/50W, AC85V-230V, brilho ajustável

Epi-iluminaço: Com o diafragma de íris da abertura e o diafragma de íris do campo, halogênio

Bulbo 12V/50W, AC85V-230V, brilho ajustável

Dispositivo de polarizaçoO analisador 360°rotatable, polarizador e analisador pode ser movido fora do trajeto leve
Verificando a ferramentamicrômetro de 0.01mm
Acessório opcionalMedida bidimensional do software
Software de análise metalúrgico profissional da imagem
Epi-iluminaço: Bulbo de halogênio 12V/100W, AC85V-230V, brilho ajustável

Campo brilhante & escuro Planobjectives infinito de distncia de funcionamento longa:

50×/0.55B.D/W.D.5.1mm, 80×/0.75B.D/W.D.4mm, 100×/0.80B.D/W.D.3mm

ocular de micrômetro
1.3Mega, 2,0 mega, 3,0 mega, 5,0 ocular mega da cmara digital do CMOS dos pixéis
Adaptador 0.5× do CCD do attachmentand da fotografia, 0.57×, 0.75×
DIC (10×, 20×, 40×, 100×)
Ferramenta Planishing
A cmera do CCD, colore linhas de 1/3 de tevê da alta resoluço 520 do ″

 

 

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Objetivo longo da distância de funcionamento do microscópio metalúrgico de Trinocular

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