| Modelo | Espectrofotômetro alto CS-812N da Banco-parte superior da
repetibilidade |
| Sistema da viso da iluminaço | Reflectncia: d/8 (iluminaço difundida, uma viso de 8 graus)
A medida simultnea de SCI/SCE, conforma-se a CIE No .15, GB/T 3978,
GB 2893, GB/T 18833, ISO7724/1, DIN5033 Teil7, condiço C de JIS
Z8722, ASTM E1164, ASTM-D1003-07
Transmitncia d/0 (iluminaço difundida, uma viso de 0 graus) |
| Sensor | Disposiço do fotodiodo do silicone |
| Método da raspagem | Raspagem côncava |
| Dimetro da esfera | 152mm |
| Comprimento de onda | 360-780nm |
| Passo do comprimento de onda | 10nm |
| Meia largura de banda | 5nm |
Escala da reflectncia
Definiço | 0-200%
0,01% |
| Fonte luminosa | Lmpada de xênon do pulso e diodo emissor de luz |
| Medida UV | Inclua UV, 400nm cortam, 420nm cortam, o corte 460nm |
| Tempo da medida | SCI/SCE < 2s
SCI+SCE < 4s |
| Abertura da medida | Reflectncia: XLAV Φ30mm, LAV 18mm, MAV Φ11mm, SAV Φ6mm
Transmitncia: Φ25mm
(Auto reconhecimento do tamanho da abertura) |
| Tamanho da amostra do transmitncia | Nenhum limite na largura da amostra e na altura, espessura ≤50mm |
| Repetibilidade a longo prazo | Valor da cromaticidade de XLAV: Desvio padro dentro de ΔE*ab 0,015
(a mudança de temperatura 20℃±10℃ arbitrária, a telha branca é
medida cada hora dentro de 24 horas) |
| Repetibilidade | Reflectncia/transmitncia do espectro de XLAV: desvio padro dentro
de 0,1% |
| Valor da cromaticidade de XLAV: Desvio padro dentro de ΔE*ab 0,015
* quando uma placa branca da calibraço for medida 30 x em 10
segundos intervalos após a calibraço branca |
| Acordo do Inter-instrumento | XLAV ΔE*ab 0,15 (série II de BCRA, medida média de 12 telhas, em
23℃) |
| Observador | 2° e 10° |
| Iluminante | , C, D50, D55, D65, D75, F1, F2, F3, F4, F5, F6, F7, F8, F9, F10,
F11, F12, CWF, U30, DLF, NBF, TL83, TL84 |
| Língua | Inglês, russo, espanhol, português, japonês, tailandês, coreano,
alemo, francês, polonês, chinês (simples e tradicional), |
| Exposiço | Gráfico da reflectncia e do transmitncia/valor, valor da cor,
valores da diferença da cor, passagem/falha, simulaço da cor,
avaliaço da cor, embaçamento, valores líquidos da cromaticidade,
tendência da cor |
| Espaços de cor | L*a*b, L*C*h, Hunter Lab, Yxy, XYZ |
| Outros índices | WI (ASTM E313-00, ASTM E313-73, CIE/ISO, AATCC, caçador, Taube
Berger, Stensby)
YI (ASTM D1925, ASTM E313-00, ASTM E313-73), matiz (ASTM E313-00),
milm do índice do Metamerism, rapidez da mancha, rapidez de cor,
brilho do ISO, R457, densidade de A, densidade de T, densidade de
E, M Density, APHA/Pt-Co/Hazen, Gardner, Saybolt, cor de ASTM,
embaçamento, transmitncia total, opacidade, força da cor |
| Diferença da cor | ΔE*ab, ΔE*CH, ΔE*uv, ΔE*cmc, ΔE*94, ΔE*00, ΔE*ab (caçador), tipo de
555 máscaras |
| Memória do armazenamento | Disco de 8 GB U para o armazenamento de dados e a transferência |
| Tamanho da tela | 7 polegadas de tela táctil |
| Opere o sistema | Android |
| Adaptador do poder | 12V/3A |
| Opere a temperatura | 5-40℃ (40-104F), humidade relativa 80% (em 35℃) nenhuma condensaço |
| Temperatura de armazenamento | -20-45℃ (- 4-113F), humidade relativa 80% (em 35℃) nenhuma
condensaço |
| Acessórios | Adaptador do poder, cabo de USB, dispositivo elétrico para o
transmitncia, o disco de U (software do PC), cavidade preta da
calibraço, telha branca e verde da calibraço, aberturas do apoio do
teste da reflectncia, dos 30mm, do 18mm, do 11mm e dos 6mm,
dispositivo elétrico da amostra da reflectncia, pilha de vidro
40x10mm |
| Acessórios opcionais | Dispositivo elétrico de aquecimento para o transmitncia, o apoio
vertical e a ram pneumática para a medida descendente, dispositivo
elétrico da reflectncia para a amostra pequena do tamanho, apoio de
vidro da pilha da reflectncia, placa protetora resistente corroso
(irremovível), suporte da amostra para a fibra, dispositivo
elétrico do filme, dispositivo elétrico do transmitncia para a
abertura pequena, caixa do trole, tomada padro europeia, tomada
padro americana |
| Relaço | RS-232, USB, USB-B |
| A outra funço | 1. Cmera para ver a área da medida;
2. Método horizontal, vertical e descendente do apoio da medida
(precise acessórios opcionais de apoiar para a medida descendente);
3. Auto funço da compensaço da umidade e de temperatura. |
