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Este esquema é formulado em termos do teste da compatibilidade eletromagnética de aparelhos eletrodomésticos.
Este esquema conduzirá testes de acordo com padrões tais como CISPR 11, CISPR 16-1-4, IEC 61000-3-2, imunidade do ANSI C63.4: IEC 61000-4-2, IEC 61000-4-3, IEC 61000-4-5, IEC 61000-4-6, IEC 61000-4-8 e IEC 61000-4-11.
II. exigência do teste
Medida do distúrbio conduzido, escala de frequência: 148.5kHz -30MHz
Medida do distúrbio irradiado, escala de frequência: 30MHz-6GHz
Harmônicos e medida da cintilaço baseada em critérios: IEC 61000-3-2/3
Medida da imunidade ao distúrbio conduzido baseado em padrões:
1. IEC 61000-4-2: Teste da imunidade da descarga eletrostática
2. IEC 61000-4-4: Teste estourado transiente rápido elétrico da imunidade
3. IEC 61000-4-5: Teste da imunidade do impulso (impacto)
4.IEC 61000-4-6: Imunidade aos distúrbios conduzidos induzidos por campos da radiofrequência
5. IEC 61000-4-8: Teste da imunidade do campo magnético da frequência do poder
6. IEC 61000-4-11: Mergulhos da tenso, interrupções curtos e testes da imunidade das variações das tensões
IV. composiço do sistema
O grupo inteiro de sistema de teste da compatibilidade eletromagnética é composto dos seguintes subsistemas:
Sistema de teste contínuo da interferência (conduço)
Sistema de teste irradiado do distúrbio
Sistema de testes de imunidade aos distúrbios conduzidos induzidos por campos da radiofrequência
Sistema de testes de imunidade ao distúrbio conduzido transiente
Harmônicos e sistema de testes da cintilaço
A introduço detalhada de cada subsistema será referida no partido II.