4 polegadas 4H-SiC Substrato nível P SI 500.0±25.0μm MPD≤5/cm2 Resistividade≥1E5Ω·cm Para Microondas de Potência

Number modelo:JDCD03-002-002
Lugar de origem:Suzhou China
Termos do pagamento:T/T
Prazo de entrega:3-4 dias da semana
Detalhes de empacotamento:Embalagem a vácuo em um ambiente de sala limpa classe 10000, em cassetes de 25 peças ou recipientes
Nome do produto:Bolacha sic Epitaxial
Contate

Add to Cart

Dos Estados-activa
Shanghai Shanghai China
Endereço: Prédio 11, Pista 1333, Avenida Jiangnan, Cidade de Changxing, Distrito de Chongming, Xangai
Fornecedor do último login vezes: No 2 Horas
Detalhes do produto Perfil da empresa
Detalhes do produto

SI 500.0±25.0μm MPD≤5/cm2 Resistivity≥1E5Ω do nível P da carcaça de JDCD03-002-002 4inch 4H-SiC·cm para dispositivos do poder e da micro-ondas


Vista geral

É usado sic para a fabricaço de dispositivos muito de alta tenso e de alta potência tais como diodos, transistor de poder, e dispositivos da micro-ondas do poder superior. Comparado aos Si-dispositivos convencionais, os dispositivos de poder SIC-baseados têm tensões mais rápidas da velocidade de comutaço umas mais altas, umas mais baixas resistências parasíticas, tamanho menor, refrigerando menos exigido devido capacidade de alta temperatura.


carcaça deisolamento de 4inch 4H-SiC

Desempenho de produtoNível PNível de D
Formulário de cristal4H
PolitípicoPara no reservarArea≤5%
Micropipe Densitya≤0.3/cm2≤5/cm2
Seis quadrados esvaziamPara no reservarArea≤5%
Cristal híbrido de superfície do hexágonoPara no reservarArea≤5%
wrappage aArea≤0.05%N/A
Resistividade≥1E9Ω·cm≥1E5Ω·cm

(0004) larguras da altura de XRDHalf da curva de balanço (FWHM)

≤45Arcsecond

N/A

Dimetro100.0mm+0.0/-0.5mm
Orientaço de superfície{0001} ±0.2°
Comprimento da borda de referência principal

32,5 milímetros de ± 2,0 milímetros


Comprimento da borda de referência secundária18,0 milímetros de ± 2,0 milímetros
Orientaço principal do plano de referência±<11-20> paralelo 5.0˚
Orientaço secundária do plano de referência90 ° sentido horário ao ˚ principal do ± 5,0 do ˚ do plano de referência, si de face para cima
preparaço de superfícieC-cara: Espelho que lustra, Si-cara: Polonês mecnico químico (CMP)
A borda da bolachangulo da chanfradura

Aspereza de superfície (5μm×5μm)


Cara Ra<0.2 nanômetro do si


espessura

500.0±25.0μm


LTV (10mm×10mm) a

≤2µm


≤3µm


TTVa

≤6µm


≤10µm


Bowa

≤15µm


≤30µm


Warpa

≤25µm


≤45µm


Borda/diferença quebradasAs bordas do colapso de um comprimento e de uma largura de 0.5mm no so permitidas≤2 e cada comprimento e largura de 1.0mm
scratcha≤4, e o comprimento total so 0,5 vezes o dimetro≤5, e o comprimento total so 1,5 vezes o dimetro
falhapara no reservar
poluiçopara no reservar
Remoço da borda

3mm

Observaço: a excluso da borda de 3mm é usada para os artigos identificados por meio de A.


Sobre nós

Nós especializamo-nos em processar uma variedade de materiais em bolachas, em carcaças e em parts.components de vidro ótico personalizado amplamente utilizados na eletrônica, no sistema ótico, na eletrônica opto e nos muitos outros campos. Nós temos trabalhado igualmente proximamente com muitos domésticos e as universidades, as instituições de pesquisa e as empresas ultramarinas, fornecem produtos e serviço personalizados para seus projetos do R&D. É nossa viso a manter um bom relacionamento da cooperaço com nossos todos os clientes por nossas boas reputações.


FAQ

Q: So você empresa comercial ou o fabricante?
Nós somos fábrica.
Q: Quanto tempo é seu prazo de entrega?
Geralmente é 3-5 dias se os bens esto no estoque.
ou é 7-10 dias se os bens no esto no estoque, ele é de acordo com a quantidade.
Q: Você fornece amostras? so livre ou extra?
Sim, nós poderíamos oferecer a amostra para a carga livre mas no pagamos o custo do frete.
Q: Que é seus termos de pagamento?
Pagamento <> >=5000USD do pagamento, 80% T/T adiantado, equilíbrio antes da expediço.

China 4 polegadas 4H-SiC Substrato nível P SI 500.0±25.0μm MPD≤5/cm2 Resistividade≥1E5Ω·cm Para Microondas de Potência supplier

4 polegadas 4H-SiC Substrato nível P SI 500.0±25.0μm MPD≤5/cm2 Resistividade≥1E5Ω·cm Para Microondas de Potência

Inquiry Cart 0