6 polegadas 4H SiC Substrato N Tipo P SBD Grau 350μm

Number modelo:JDCD03-002-008
Lugar de origem:Suzhou China
Termos do pagamento:T/T
Prazo de entrega:3-4 dias da semana
Detalhes de empacotamento:Embalagem a vácuo em um ambiente de sala limpa classe 10000, em cassetes de 25 peças ou recipientes
Nome do produto:Bolacha sic Epitaxial
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Shanghai Shanghai China
Endereço: Prédio 11, Pista 1333, Avenida Jiangnan, Cidade de Changxing, Distrito de Chongming, Xangai
Fornecedor do último login vezes: No 2 Horas
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Substrato 4H-SiC de 6 polegadas N-Type P-SBD Grau 350,0±25,0μm MPD≤0,5/cm2 Resistividade 0,015Ω•cm—0,025Ω•cm para dispositivos de energia e micro-ondas


Viso geral

As bolas de SiC (cristais) so cultivadas, usinadas em lingotes e depois cortadas em substratos, que so posteriormente polidos.Uma fina camada epitaxial de SiC é ento cultivada no topo deste substrato para criar um epi-wafer.

Carboneto de silício, extremamente duro, composto cristalino de silício e carbono produzido sinteticamente.Sua fórmula química é SiC.


PropriedadeGrau P-MOSGrau P-SBDgrau D
Forma de Cristal4H
PolitipoNenhum permitidoÁrea≤5%
(MPD)a≤0,2 /cm2≤0,5 /cm2≤5 /cm2
Placas sextavadasNenhum permitidoÁrea≤5%
Policristal HexagonalNenhum permitido
InclusõesaÁrea≤0,05%Área≤0,05%N / D
Resistividade0,015Ω•cm—0,025Ω•cm0,015Ω•cm—0,025Ω•cm0,014Ω•cm—0,028Ω•cm
(EPD)a≤4000/cm2≤8000/cm2N / D
(TED)a≤3000/cm2≤6000/cm2N / D
(BPD)a≤1000/cm2≤2000/cm2N / D
(TSD)a≤600/cm2≤1000/cm2N / D
Falha de Empilhamento≤0,5% Área≤1% ÁreaN / D

Contaminaço de Superfície Metálica


(Al, Cr, Fe, Ni, Cu, Zn, Pb, Na, K, Ti, Ca, V, Mn) ≤1E11 cm-2

Dimetro150,0 mm +0 mm/-0,2 mm
Orientaço da SuperfícieFora do eixo: 4° na direço de <11-20> ± 0,5 °
Comprimento Plano Primário47,5 mm ± 1,5 mm
Comprimento Plano SecundárioSem Apartamento Secundário
Orientaço Plana PrimáriaParalelo a <11-20>±1°
Orientaço Plana SecundáriaN / D
Desorientaço ortogonal±5,0°
Acabamento de superfícieFace C: Polimento óptico, Face Si: CMP
borda de bolachaChanframento

Rigidez da superfície

(10μm × 10μm)

Si Face Ra≤0,20 nm ; C Face Ra≤0,50 nm
Grossuraa350,0 μm ± 25,0 μm
LTV (10 mm × 10 mm)a≤2μm≤3μm
(TTV)a≤6μm≤10μm
(ARCO)a≤15μm≤25μm≤40μm
(Urdidura)a≤25μm≤40μm≤60μm
Chips/RecuosNenhum permitido ≥0,5 mm de largura e profundidadeQtd.2 ≤1,0 mm Largura e Profundidade

Arranhõesa

(Si Face,CS8520)

≤5 e comprimento cumulativo≤0,5 × Dimetro da bolacha

≤5 e comprimento cumulativo≤1,5 × Wafer

Dimetro

TUA (2mm*2mm)≥98%≥95%N / D
RachadurasNenhum permitido
ContaminaçoNenhum permitido
PropriedadeGrau P-MOSGrau P-SBDgrau D
Excluso de Borda3mm

Observaço: a excluso de borda de 3 mm é usada para os itens marcados coma.


Sobre nós

Nós nos especializamos no processamento de uma variedade de materiais em wafers, substratos e peças personalizadas de vidro óptico. Componentes amplamente utilizados em eletrônica, óptica, optoeletrônica e muitos outros campos.Também trabalhamos em estreita colaboraço com muitas universidades nacionais e estrangeiras, instituições de pesquisa e empresas, fornecendo produtos e serviços personalizados para seus projetos de P&D.É nossa viso manter um bom relacionamento de cooperaço com todos os nossos clientes por nossa boa reputaço.


Perguntas frequentes

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Sim, podemos oferecer a amostra gratuitamente, mas no pagamos o custo do frete.
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