Chip Led Smd o mais brilhante 2835 9v 0.5w 80 - 85lm para a tira conduzida

Number modelo:2835

Lugar de origem:Suzhou

Quantidade de ordem mínima:4000pcs

Termos do pagamento:Western Union, MoneyGram, T/T

Capacidade da fonte:800KK POR O MÊS

Prazo de entrega:7-10 DIAS

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Phoenix (suzhou) electronic Co.,ltd

Dos Estados-Site

Suzhou Jiangsu China

Endereço: Bld#20, NENHUMA estrada de 88 Lingshan, distrito de wuzhong, suzhou, jiangsu, China

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Detalhes do produto

A microplaqueta a mais brilhante 2835 9v 0.5w 80-85lm do diodo emissor de luz de SMD para a tira conduzida

Introduço da aplicaço:

Faixa clara de néon do silicone, consistência da cor alta, emisso clara uniforme, nenhum halo, nenhuma sombra.

A faixa clara de néon do silicone tem a flexibilidade forte, que é apropriada para um ambiente rico da instalaço.

Detalhes rápidos:

Tenso entrada (V):	9V
Garantia (ano):	2-ano
Tipo:	Smd conduziu a microplaqueta 2835
Iluminando o serviço das soluções:	Iluminaço e projeto dos circuitos
Eficácia luminosa (lm/w):	160lm/w
Tempo (horas):	50000
Tempo de funcionamento (horas):	20000
Chip Material:	INGAN
Emitindo-se a cor:	2700k 3000k 6500k
Poder:	0.5w
ngulo de viso (°):	120 graus
Índice de rendiço de cor (Ra):	80
Saco de embalagem:	220*240nm
Lugar de origem:	Suzhou, jiangsu
Aplicaço:	TIRA DO DIODO EMISSOR DE LUZ
Tipo do pacote:	Pacote da montagem de Suface
Corrente dianteira:	60MA
Tamanho:	2.83.50.65mm
Embalagem:	4000 PCes/rolo

Especificaço de produto:

Estrutura do pacote

Avaliações máximas absolutas

Artigo	Símbolo	Avaliações máximas absolutas	Unidade
Corrente dianteira	SE	60	miliampère
Tenso reversa	Vr	15	V
Corrente dianteira pulsada	IFP*	90	miliampère
Dissipaço de poder	Paládio	1	W
Temperatura de funcionamento	PARTE SUPERIOR	-40~115	℃
Temperatura de armazenamento	Teste	-40~85	℃
Descarga eletrostática	ESD	2000 (HBM)	V
Temperatura de junço	Tj	125	℃
Resistência térmica do diodo emissor de luz	S-j de Rth	20	℃/W

Curvas de características Eletro-óticas típicas:

Lista do teste de confiança do diodo emissor de luz

Artigo do teste	Condições de teste	Padro	Qty (PCes)	Ac/Re
Teste de vida	25℃, 1000Hrs@20mA	/	22	0/1
Alta temperatura	85℃, 1000Hrs@20mA	/	22	0/1
Baixa temperatura	-40℃, 1000Hrs@20mA	/	22	0/1
Calor da umidade alta	85℃, 85%RH, 1000Hrs@20mA	/	22	0/1
Armazenamento da baixa temperatura	-40℃, 1000Hours	JEITA ED-4701 200 202	22	0/1
Armazenamento de alta temperatura	100℃, 1000Hours	JEITA ED-4701 200 201	22	0/1
Ciclo da temperatura	(- 40' C 30mins --25' C (5mins)--100 ' C (30mins), taxa em mudança do Temp: 3+/-0.6' C/min)	JEITA ED-4701 100 105	22	0/1
Choque térmico	-40 ' C (15mins) --100 ' C (15mins), tempo em mudança <5mins>	MIL-STD-202G	22	0/1
Teste de vida do pulso	Tp=1ms, DC=0.1, D=Tp/T @ 3×20mA	/	22	0/1
Teste do ESD (HBM)	teste 3times de 2000V, de 200V/Step, dianteiro & reverso	CEA (Q101-001)	22	0/1
Resistência de solda	260±5℃, 10S, 3times Pré-tratamento 30℃, 70%RH	JEITA ED-4701 300 302	22	0/1
Deterioraço do Reflow IV	260±5℃, 10S, 1time Pré-tratamento 30℃, 70%RH, 168Hours	/	22	0/1
Critérios do julgamento
Tenso dianteira VF		Máximo-aumento de VF < 1="">
IR atual reverso		Máximo-aumento do IR < IRmax="">
Intensidade luminosa IV		IV deterioraço < 40="">
O ※ solda critérios de teste da capacidade: a cobertura no é menos de 95% Nota: A medida será tomada depois que as amostras testadas foram retornadas s circunstncias ambientais normais (geralmente após duas horas)