Método de Stepanov Wafer de safira crescido 4 polegadas C-plano para aplicações ópticas

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Método de Stepanov Wafer de safira crescido 4 polegadas C-plano para aplicações ópticas

 

As nossas Wafers de Safira, de excelente fabricaço, so uma inovaço parecida com uma pedra preciosa para as suas necessidades tecnológicas de ponta.Meticulosamente concebido para uso nas aplicações mais exigentes.

Fabricadas a partir de safira sintética de qualidade superior, as nossas placas oferecem uma dureza e resistência a arranhões incomparáveis, garantindo um desempenho superior e longevidade em ambientes adversos.Sensores, dispositivos semicondutores, e até as mais recentes tecnologias vestíveis, elevam a durabilidade para novas alturas.

Experimente o brilho da clareza, medida que cada bolacha é polida até a perfeiço espelhada, refletindo luz com a mesma elegncia de uma safira rara.A sua condutividade térmica excepcional garante uma dissipaço de calor eficiente, protegendo os seus dispositivos de superaquecimento e prolongando a sua vida útil.

Invista no futuro da sua tecnologia com as nossas Wafers Sapphire, liberta todo o potencial dos teus projetos com esta maravilha natural da engenharia moderna.Encomende agora para garantir o seu abastecimento e elevar os seus produtos para o próximo nível de excelência!

 

 

Propriedades ópticas

Transmisso

0.17 a 5.5 um

Índice de refraço

1.75449 (o) 1.74663 (e) a 1.06 um

Perda de reflexo

a 1,06 micrões (2 superfícies) para raios-o - 11,7%; para raios-e - 14,2%

Índice de absorço

0.3 x 10-3 cm-1 a 2,4 um

DN/dT

13.7 x 10-6 em 5,4 um

dn/dm = 0

1.5 um

 

Orientaço

Plano R, plano C, plano A, plano M ou uma orientaço especificada

Orientaço Tolerncia

± 0,3°

Dimetro

2 polegadas, 3 polegadas, 4 polegadas, 6 polegadas, 8 polegadas ou outros

Tolerncia de dimetro

0.1mm para 2 polegadas, 0.2mm para 3 polegadas, 0.3mm para 4 polegadas, 0.5mm para 6 polegadas

Espessura

0.25 mm, 0,33 mm, 0,43 mm, 0,65 mm, 1 mm ou outros;

Tolerncia de espessura

25 μm

Duraço plana primária

16.0±1.0mm para 2 polegadas, 22.0±1.0mm para 3 polegadas, 30.0±1.5mm para 4 polegadas, 47.5/50.0±2.0mm para 6 polegadas

Orientaço plana primária

Plano A (1 1-2 0) ± 0,2°; plano C (0 0-0 1 ) ± 0,2°, eixo C projetado 45 +/- 2°

TTV

≤10μm para 2 polegadas, ≤15μm para 3 polegadas, ≤20μm para 4 polegadas, ≤25μm para 6 polegadas

Arco-íris

≤10μm para 2 polegadas, ≤15μm para 3 polegadas, ≤20μm para 4 polegadas, ≤25μm para 6 polegadas

Superfície frontal

Epi-polido (Ra< 0,3 nm para o plano C, 0,5 nm para outras orientações)

Superfície traseira

Finamente moído (Ra=0,6μm~1,4μm) ou Epi-polido

Embalagem

Embalado num ambiente de sala limpa de classe 100

 

 

Verificaço da aceitaço

 

1O produto é frágil. Nós o embalamos adequadamente e o rotulámos de frágil. Nós entregamos através de excelentes empresas expressas nacionais e internacionais para garantir a qualidade do transporte.

 

2Após receber as mercadorias, por favor, manuseie com cuidado e verifique se a embalagem exterior está em boas condições.Tire uma foto antes de tirá-los..

 

3Abra a embalagem de vácuo numa sala limpa quando os produtos forem aplicados.

 

4Se os produtos forem encontrados danificados durante o transporte, por favor tire uma foto ou faça uma gravaço de vídeo imediatamente.Contacte-nos imediatamente e vamos resolver o problema bem.

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Método de Stepanov Wafer de safira crescido 4 polegadas C-plano para aplicações ópticas

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