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conector universal do soquete da placa de teste de 2.00mm ZIF para testes de IC
Descrição:
A força zero (ZIF) da inserção permite que você introduza e remova microplaquetas facilmente do circuitos existentes. Estes são usados frequentemente para programadores da microplaqueta ou quando você precisar de testar uma microplaqueta sem a danificar. Mova a alavanca e o direito da gota das microplaquetas dentro. Abaixe a alavanca para a ‘trava’ a microplaqueta no lugar.
Especificação:
Material |
Abrigo: 30% PBT enchido vidro UL94-0 Contatos: Bronze de fósforo Chapeamento: 3u chapeado ouro sobre o níquel 50u 100u chapeado lata sobre o níquel 50u |
Avaliação atual | 1A |
Resistência do isolador | 5000MΩ Min. em DC500V |
Resistência de contato | máximo 20mΩ em DC100mA |
Temperatura | -55~105℃ |
Dimensão: (milímetro)
Posição | A | B | C | D | E |
28P | 42,5 | 38,5 | 26 | 17,5 | 10,16 |
40P | 54,8 | 50,8 | 38 | 17,5 | 10,16 |