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conectores bondes pequenos ZIF do soquete universal de 2.00mm para testes de IC

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Ningbo Anyo Import & Export Co., Ltd.
Cidade:ningbo
Província / Estado:zhejiang
País / Região:china
Pessoa de contato:MrRoy Zhang
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conectores bondes pequenos ZIF do soquete universal de 2.00mm para testes de IC

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Número de modelo :AY1003-2
Lugar de origem :China
Quantidade de ordem mínima :2000pcs
Termos do pagamento :L / C, T / T
Capacidade da fonte :100000 POR O DIA
Tempo de entrega :8-10 dias do trabalho
Detalhes de empacotamento :Caixa personalizada
O outro nome :Soquete de ZIF
Avaliação atual :1A
Resistência do isolador :5000MΩ Min. em DC500V
Resistência de contato :máximo 20mΩ em DC100mA
temperatura :-55~105℃
Chapeamento de contato :Au ou lata
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conector universal do soquete da placa de teste de 2.00mm ZIF para testes de IC

 

Descrição:

 

A força zero (ZIF) da inserção permite que você introduza e remova microplaquetas facilmente do circuitos existentes. Estes são usados frequentemente para programadores da microplaqueta ou quando você precisar de testar uma microplaqueta sem a danificar. Mova a alavanca e o direito da gota das microplaquetas dentro. Abaixe a alavanca para a ‘trava’ a microplaqueta no lugar.

 

Especificação:

 

Material

Abrigo: 30% PBT enchido vidro UL94-0

Contatos: Bronze de fósforo

Chapeamento: 3u chapeado ouro sobre o níquel 50u

             100u chapeado lata sobre o níquel 50u

Avaliação atual 1A
Resistência do isolador 5000MΩ Min. em DC500V
Resistência de contato máximo 20mΩ em DC100mA
Temperatura -55~105℃

 

 

Dimensão: (milímetro)

 

Posição A B C D E
28P 42,5 38,5 26 17,5 10,16
40P 54,8 50,8 38 17,5 10,16

conectores bondes pequenos ZIF do soquete universal de 2.00mm para testes de IC

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