Nanjing Crylink Photonics Co.,Ltd

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Manufacturer from China
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Detector de cintilação CdWO4

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Nanjing Crylink Photonics Co.,Ltd
Cidade:shanghai
Província / Estado:shanghai
País / Região:china
Pessoa de contato:Mrsales
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Detector de cintilação CdWO4

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Lugar de origem :China
Quantidade de ordem mínima :1 peças
Detalhes de empacotamento :cartão
Tempo de entrega :3-4 semanas
Termos do pagamento :TT
Capacidade da fonte :100 partes de /month
Número de modelo :Cristal de CRYLINK-CdWO4 Scintillator
Nome :Detector de cintilação CdWO4
Rendimento claro (fotão/MeV) :13000
Deteriore o tempo (s) :12-15
Emissão máxima (nanômetro) :480
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Detalhes do produto

O tungstate CdWO4 do cádmio (CWO), devido a seus baixos fundo e arrebol da tarde intrínsecos junto com o rendimento claro suficientemente alto, é o mais prometedor para a espectrometria e a radiometria das baixas atividades de rádio dos nuclides abaixo extremamente -, e igualmente para o tomografia de computador.

O cristal é transparente e emite-se a luz quando é batido por raios gama e por raios X, fazendo o útil como um detector da radiação ionizante. Seu comprimento de onda máximo da cintilação é 480 nanômetro (com escala da emissão entre 380-660 nanômetro), e eficiência de 13000 fotão/MeV. Tem um rendimento claro relativamente alto, suas saídas de luz são aproximadamente 40% de NaI (Tl), mas a época da cintilação é bastante longa (s 1215). É usada frequentemente no tomografia computorizada. Combinar o cristal do scintillator com a parte externamente aplicada de carboneto do boro permite a construção de detectores compactos dos raios gama e da radiação de nêutron.

 

Especificações

Propriedades da cintilação

Materiais

CdWO4

Rendimento claro (fotão/MeV)

13000

Deteriore o tempo (s)

12-15

Emissão máxima (nanômetro)

480

Após o fulgor

0.1%@6ms

Densidade (g/cm3)

7,9

Hygroscopicity

Não

Especificação de lustro para a categoria ótica

 

StandardPrecision

Elevada precisão

Precisão super

Tolerância da orientação

< 1°

< 0.5°

< 0.2°

Tolerância da espessura/diâmetro

±0.10 milímetro

±0.05 milímetro

±0.02 milímetro

Flatness@633nm de superfície

<-2

</2-/4

/4-/6

Distorção do Wavefront

< (2-4)

< (1-2)

< (-/2)

Qualidade de superfície

60/40

40/20

20/10

Paralelo

45

1

10

Perpendicular

60

30

20

Abertura clara

>90%

Chammfer

<0.2mm×45°

Revestimento

Disponível mediante solicitação

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