
Add to Cart
Prototipificação feito-à-medida da placa de circuito do PWB SMT, no teste de circuito PCBA
Serviços do conjunto do PWB:
Conjunto de SMT
Picareta & lugar automáticos
Colocação componente tão pequena quanto 0201
Passo fino QEP - BGA
Inspeção óptica automática
conjunto do Através-furo
Solda da onda
Conjunto e solda da mão
Fonte material
Pre-programação de IC/que queima-se em linha
Teste da função como pedido
Teste de envelhecimento para placas do diodo emissor de luz e de poder
Conjunto de unidade completa (que incluindo os plásticos, a caixa do metal, a bobina, o conjunto de cabo etc.)
Projeto de embalagem
Métodos de teste
Teste de AOI
Verificações para a pasta da solda
Verificações para componentes para baixo a 0201"
Verificações para componentes faltantes, offset, peças incorretas, polaridade
Inspeção do raio X
O raio X fornece a inspeção de alta resolução de:
BGAs
Placas desencapadas
Teste no circuito
O teste no circuito é de uso geral conjuntamente com AOI que minimiza os defeitos funcionais causados perto
problemas componentes.
Teste de ligação inicial
Teste de função avançada
Programação instantânea do dispositivo
Teste funcional
Especificação detalhada do conjunto do PWB
1 |
Tipo de conjunto |
SMT e Através-furo |
2 |
Tipo da solda |
Pasta solúvel em água da solda, Leaded e sem chumbo |
3 |
Componentes |
Vozes passivas para baixo ao tamanho 0201 |
BGA e VFBGA |
||
Microplaqueta sem chumbo Carries/CSP |
||
Conjunto frente e verso de SMT |
||
Passo fino a 08 mil. |
||
Reparo e Reball de BGA |
||
Remoção da parte e Substituição-Mesmo serviço do dia |
||
3 |
Tamanho da placa desencapada |
Mais menor: polegadas 0.25x0.25 |
Mais maior: polegadas 20x20 |
||
4 |
Formatos de arquivo |
Bill de materiais |
Arquivos de Gerber |
||
Arquivo do Picareta-N-Lugar (XYRS) |
||
5 |
Tipo de serviço |
Volta-Chave, Volta-Chave parcial ou remessa |
6 |
Empacotamento componente |
Corte a fita |
Tubo |
||
Carretéis |
||
Peças fracas |
||
7 |
Gire o tempo |
15 a 20 dias |
8 |
Teste |
Inspeção de AOI |
Inspeção do raio X |
||
Teste no circuito |
||
Teste funcional |