Uma carcaça autônoma plana de U-GaN Hvpe-GaN para dispositivos do Iii-nitreto

Lugar de origem:China
Quantidade de ordem mínima:1-10,000pcs
Termos do pagamento:T/T.
Capacidade da fonte:10.000 bolachas/mês
Tempo de entrega:5-50 dias de trabalho
Detalhes de empacotamento:Empacotado em um ambiente do quarto desinfetado da classe 100, no único recipiente, sob uma atmosfer
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Xiamen Fujian China
Endereço: #506B, centro de negócios de Henghui, No.77, Lingxia Nan Road, zona alta-tecnologia, Huli, Xiamen 361006, China
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Uma carcaça autônoma plana de U-GaN Hvpe-GaN para dispositivos do Iii-nitreto

 

PAM-XIAMEN estabeleceu a tecnologia de fabricaço para (nitreto do gálio) a bolacha autônoma da carcaça de GaN que é para UHB-LED e LD. Crescido pela tecnologia de (HVPE) da epitaxia da fase de vapor do hidruro, nossa carcaça de GaN tem a baixa densidade do defeito e o menos ou densidade macro livre do defeito.

 

PAM-XIAMEN oferece a série completa de GaN e os materiais relacionados de III-N que incluem carcaças de GaN de várias orientações e condutibilidade elétrica, moldes do crystallineGaN&AlN, e epiwafers feitos sob encomenda de III-N.

 

Mostra aqui a especificaço de detalhe:

Uma carcaça autônoma plana de U-GaN GaN

ArtigoA-U PAM-FS-GaN
Dimenso5 x 10 milímetros2
Espessura350 ±25 µm do µm 430±25
Orientaço

Um plano (11-20) fora do ngulo para a M-linha central 0 ±0.5°

Um plano (11-20) fora do ngulo para a C-linha central -1 ±0.2°

Tipo da conduçoN-tipo
Resistividade (300K)< 0="">
TTVµm do ≤ 10
CURVA-10 µm do ≤ 10 da CURVA do ≤ do µm
Aspereza de superfície:

Parte anterior: Ra<0>

Verso: Terra fina ou lustrado.

Densidade de deslocaçoDe 1 x de 10 5 a 5 x de 106 cm-2
Densidade macro do defeito0 cm2
Área útil> 90% (excluso da borda)
Pacotecada um no único recipiente da bolacha, sob a atmosfera do nitrogênio, embalada no quarto desinfetado da classe 100

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Uma carcaça autônoma plana de U-GaN GaN

A carcaça do GaN de PAM-XIAMEN (nitreto do gálio) é carcaça singlecrystal com de alta qualidade, que é feito com método de HVPE e tecnologia de processamento originais da bolacha. So uniformidade altamente cristalina, boa, e qualidade de superfície superior. As carcaças de GaN so usadas para muitos tipos dos pedidos, para o diodo emissor de luz branco e o LD (violeta, azul e verde), além disso o desenvolvimento progrediu para aplicações do dispositivo eletrónico do poder e da alta frequência.

 

GaN é um muito duro (12±2 GPa, material largo mecanicamente estável do semicondutor do bandgap com capacidade de calor elevado e condutibilidade térmica. Em seu formulário puro resiste rachar-se e pode ser depositado no filme fino no carboneto da safira ou de silicone, apesar da má combinaço em suas constantes da estrutura. GaN pode ser lubrificado com silicone (Si) ou com n-tipo do oxigênio e com p-tipo de (Mg) do magnésio. Contudo, mudança dos átomos do si e do magnésio a maneira que os cristais de GaN crescem, introduzindo esforços elásticos e fazendo os frágeis. Os compostos de Galliumnitride igualmente tendem a ter uma densidade de deslocaço alta, na ordem de 108 a 1010 defeitos pelo centímetro quadrado. O comportamento largo de faixa-Gap de GaN é conectado s mudanças específicas na estrutura de faixa eletrônica, na ocupaço da carga e nas regiões da ligaço química.

 

Constante da estrutura da carcaça de GaN

 

Os parmetros da estrutura do nitreto do gálio foram medidos usando a difraço alta do raio do ‐ da definiço x do ‐

 

 

GaN, sructure do Wurtzite. As constantes a da estrutura contra a temperatura.

 

 

GaN, sructure do Wurtzite. As constantes c da estrutura contra a temperatura

 

 

Propriedades da carcaça de GaN

 

PROPRIEDADE/MATERIAL(Beta) GaN cúbicoGaN (alfa) sextavado
...
EstruturaBlenda de zincoWurzite
Grupo de espaçoF bar4 3mC46v (= P63mc)
EstabilidadeMeta-estávelEstável
Parmetros da estrutura em 300K0,450 nanômetrosa0 = 0,3189 nanômetros
c0 = 0,5185 nanômetros 
Densidade em 300K6,10 g.cm -36,095 g.cm -3
Módulos elásticos em 300 K. .. .
Coeficientes lineares da expanso térmica.. .Ao longo de a0: 5.59x10-6 K-1
Ao longo de c0: 7.75x10-6 K-1
em 300 K
Polarizações espontneas calculadasNo aplicável– 0,029 C m-2
Bernardini e outros 1997
Bernardini & Fiorentini 1999
Coeficientes piezoelétricos calculadosNo aplicávele33 = + 0,73 C m-2
e31 = – 0,49 C m-2
Bernardini e outros 1997
Bernardini & Fiorentini 1999
Energias do fono: meV 68,9 
LO: meV 91,8
A1 (A): meV 66,1
E1 (A): meV 69,6
E2: meV 70,7
A1 (LO): meV 91,2
E1 (LO): meV 92,1
Temperatura de Debye 600K (calculado)
Frouxo, 1973
Condutibilidade térmica
300K próximo
. .Unidades: Wcm-1K-1

1,3,
Tansley e outros 1997b

2.2±0.2
para densamente, GaN autônomo
Vaudo e outros, 2000

2,1 (0,5)
para o material do LEO
onde poucas deslocações (muitos)
Florescu e outros, 2000, 2001

cerca de 1,7 a 1,0
para n=1x1017 a 4x1018cm-3
no material de HVPE
Florescu, Molnar e outros, 2000

2,3 ± 0,1
no material Fe-lubrificado de HVPE
de CA 2 x108 ohm-cm,
& densidade de deslocaço CA 105 cm2
(efeitos de T & de densidade de deslocaço igualmente dados).
Mion e outros, 2006a, 2006b
Ponto de derretimento. .. .
Constante dielétrica
baixa/baixa frequência
. .Ao longo de a0: 10,4
Ao longo de c0: 9,5
R.I.2,9 em 3eV
Tansley e outros 1997b
2,67 em 3.38eV
Tansley e outros 1997b
Natureza da energia Gap por exemploDiretoDireto
Energia Gap por exemplo em 1237K eV 2,73
Ching-Hua SU e outros, 2002
Energia Gap por exemplo em 293-1237 K 3.556 - 9.9x10-4T2/eV (T+600)
Ching-Hua SU e outros, 2002
Energia Gap por exemplo em 300 KeV 3,23
Ramírez-Flores e outros 1994
.
eV 3,25
Logothetidis e outros 1994
eV 3,44
Monemar 1974
.
eV 3,45
Koide e outros 1987
.
eV 3,457
Ching-Hua SU e outros, 2002
Energia Gap por exemplo em CA 0 KeV 3,30
Ramírez-Flores e al1994
Ploog e outros 1995
eV 3,50
Dingle e outros 1971
Monemar 1974
Conc. do portador intrínseco em 300 K. .. .
Energia de ionizaço… do doador. ….. ….
Massa eficaz do elétron mim */m0. .0,22
Moore e outros, 2002
Mobilidade de elétron em 300 K
para n = 1x1017 cm-3:
para n = 1x1018 cm-3:
para n = 1x1019 cm-3:
. .CA 500 cm2V-1s-1
CA 240 cm2V-1s-1
CA 150 cm2V-1s-1

Montou & Gaskill, 1995
Tansley e outros 1997a
Mobilidade de elétron em 77 K
para n =.
. ….. ….
Energia de ionizaço dos aceitantes. .Magnésio: meV 160
Amano e outros 1990

Magnésio: meV 171
Zolper e outros 1995

Ca: meV 169
Zolper e outros 1996
Mobilidade de salo do furo em 300 K
para o p=….
. .. ….
Mobilidade de salo do furo em 77 K
para o p=….
. ….. .
.(Beta) GaN cúbicoGaN (alfa) sextavado

 

Aplicaço da carcaça de GaN

 

O nitreto do gálio (GaN), com uma diferença de faixa direta do eV 3,4, é um material prometedor no desenvolvimento de dispositivos luminescentes do curto-comprimento de onda. Outros pedidos de dispositivo ótico para GaN incluem lasers do semicondutor e detectores óticos.

 

 
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Uma carcaça autônoma plana de U-GaN Hvpe-GaN para dispositivos do Iii-nitreto

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