Carcaças eretas livres de GaN do volume de um U-GaN de 2 polegadas, categoria Epi-pronta para o diodo láser de GaN

Lugar de origem:China
Quantidade de ordem mínima:1-10,000pcs
Termos do pagamento:T/T.
Capacidade da fonte:10.000 bolachas/mês
Tempo de entrega:5-50 dias de trabalho
Detalhes de empacotamento:Empacotado em um ambiente do quarto desinfetado da classe 100, no único recipiente, sob uma atmosfer
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Xiamen Fujian China
Endereço: #506B, centro de negócios de Henghui, No.77, Lingxia Nan Road, zona alta-tecnologia, Huli, Xiamen 361006, China
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Carcaças eretas livres de GaN do volume de um U-GaN de 2 polegadas, categoria Epi-pronta para o diodo láser de GaN

PAM-XIAMEN estabeleceu a tecnologia de fabricaço para (nitreto do gálio) a bolacha autônoma da carcaça de GaN que é para UHB-LED e LD. Crescido pela tecnologia de (HVPE) da epitaxia da fase de vapor do hidruro, nossa carcaça de GaN tem a baixa densidade do defeito e o menos ou densidade macro livre do defeito.

 

PAM-XIAMEN oferece a série completa de GaN e os materiais relacionados de III-N que incluem carcaças de GaN de várias orientações e condutibilidade elétrica, moldes do crystallineGaN&AlN, e epiwafers feitos sob encomenda de III-N.

 

carcaças autônomas de 2inch U-GaN GaN

 

ArtigoPAM-FS-GaN-50-U
Dimenso50,8 ±1 milímetro
Espessura350 ±25 μm 430±25μm
OrientaçoC aplana (0001) fora do ngulo para a M-linha central 0,35 ±0.15°
Orientaço lisa(1-100) 0 ±0.5°, 16 ±1 milímetro
Orientaço secundária lisa(11-20) 0 ±3°, 8 ±1 milímetro
Tipo da conduço

N-tipo

Resistividade (300K)

< 0="">

TTVμm do ≤ 15
CURVA-20 μm do ≤ 20 da CURVA do ≤ do μm
Aspereza de superfície:

Parte anterior: Ra<0>

Verso: Terra fina ou lustrado.

Densidade de deslocaçoDe 1 x de 105 a 5 x de 10 6 cm -2 (calculado pelo CL) *
Densidade macro do defeito< 2="" cm="">-2
Área útil> 90% (excluso dos defeitos da borda e do macro)
Pacotecada um no único recipiente da bolacha, sob a atmosfera do nitrogênio, embalada no quarto desinfetado da classe 100

 

carcaças autônomas de 2inch U-GaN GaN Undoped

A carcaça do GaN de PAM-XIAMEN (nitreto do gálio) é carcaça stal singlecry com de alta qualidade, que é feito com método de HVPE e tecnologia de processamento originais da bolacha. So uniformidade altamente cristalina, boa, e qualidade de superfície superior. As carcaças de GaN so usadas para muitos tipos dos pedidos, para o diodo emissor de luz branco e o LD (violeta, azul e verde), além disso o desenvolvimento progrediu para aplicações do dispositivo eletrónico do poder e da alta frequência.

 

GaN é um muito duro (12±2 GPa, material largo mecanicamente estável do semicondutor do bandgap com capacidade de calor elevado e condutibilidade térmica. Em seu formulário puro resiste rachar-se e pode ser depositado no filme fino no carboneto da safira ou de silicone, apesar da má combinaço em suas constantes da estrutura. GaN pode ser lubrificado com silicone (Si) ou com n-tipo do oxigênio e com p-tipo de (Mg) do magnésio. Contudo, mudança dos átomos do si e do magnésio a maneira que os cristais de GaN crescem, introduzindo esforços elásticos e fazendo os frágeis. Os compostos de Galliumnitride igualmente tendem a ter uma densidade de deslocaço alta, na ordem de 108 a 1010 defeitos pelo centímetro quadrado. O comportamento largo de faixa-Gap de GaN é conectado s mudanças específicas na estrutura de faixa eletrônica, na ocupaço da carga e nas regiões da ligaço química

 

 

A tecnologia de GaN é usada em aplicações de alta potência numerosas tais como fontes industriais, do consumidor e do servidor de alimentaço, movimentaço solar, da C.A. e inversores de UPS, e carros híbridos e bondes. Além disso, GaN é serido idealmente para aplicações do RF tais como estações base, radares e infraestrutura celulares da televiso por cabo nos trabalhos em rede, setores do espaço aéreo e da defesa, agradecimentos a sua força alta da diviso, figura de baixo nível de ruído e linearidades altas.

 

RELATÓRIO de superfície do material-TESTE da carcaça da aspereza-GaN

 

Um relatório de teste é necessário para mostrar a conformidade entre a descriço feita sob encomenda e nossos dados finais das bolachas. Nós testaremos o characerization da bolacha pelo equipamento antes da expediço, testando a aspereza de superfície pelo microscópio atômico da força, o tipo pelo instrumento romano dos espectros, a resistividade pelo equipamento de testes da resistividade do no-contato, a densidade do micropipe pelo microscópio de polarizaço, a orientaço pelo raio X Orientator etc. se as bolachas cumprem a exigência, nós limparemos e para embalá-los no quarto desinfetado de 100 classes, se as bolachas no combinam as especs. do costume, nós retirá-las-emos.

 

A aspereza de superfície geralmente é encurtada aspereza e é um componente da textura de superfície. É determinada pelo desvio do sentido normal do vetor da superfície real de seu formulário ideal. Se estes desvios so grandes, a superfície é áspera; Se so pequenos, a superfície é lisa. Na medida de superfície, a aspereza é considerada geralmente ser o componente de alta frequência do comprimento da curto-onda da superfície da escala de mediço. Na prática, contudo, é frequentemente necessário conhecer a amplitude e a frequência para assegurar-se de que a superfície seja apropriada para uma finalidade.

 

Está abaixo um exemplo da aspereza de superfície do material da carcaça de GaN:

 

 

Uma aspereza-gan de superfície

 

 

Empilhando diodos láser do Iii-nitreto

 
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Carcaças eretas livres de GaN do volume de um U-GaN de 2 polegadas, categoria Epi-pronta para o diodo láser de GaN

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