

Add to Cart
Tipo sic bolacha da Fora-linha central 4H N de semicondutor,
categoria da pesquisa, 3" tamanho
PAM-XIAMEN oferece bolachas do carboneto de silicone do semicondutor, 6H sic e 4H sic em categorias de qualidade diferentes para fabricantes do pesquisador e da indústria. Nós desenvolvemos a tecnologia do crescimento sic de cristal e a tecnologia de processamento da bolacha sic de cristal, estabelecidas uma linha de produço ao fabricante SiCsubstrate, que é aplicado em GaNepitaxydevice, em powerdevices, no dispositivo de alta temperatura e em dispositivos optoelectronic. Como uma empresa profissional investida pelos fabricantes principais dos campos de institutos materiais avançados e da alto-tecnologia da pesquisa e do estado e de laboratório do semicondutor de China, nós é devotada para melhorar continuamente atualmente a qualidade de carcaças e para desenvolver grandes carcaças do tamanho.
Mostra aqui a especificaço de detalhe:
PROPRIEDADES MATERIAIS DE CARBONETO DE SILICONE
Polytype | Único cristal 4H | Único cristal 6H |
Parmetros da estrutura | a=3.076 Å | a=3.073 Å |
c=10.053 Å | c=15.117 Å | |
Empilhando a sequência | ABCB | ABCACB |
Faixa-Gap | eV 3,26 | eV 3,03 |
Densidade | 3,21 · 103 kg/m3 | 3,21 · 103 kg/m3 |
Therm. Coeficiente da expanso | 4-5×10-6/K | 4-5×10-6/K |
Índice da refraço | nenhuns = 2,719 | nenhuns = 2,707 |
ne = 2,777 | ne = 2,755 | |
Constante dielétrica | 9,6 | 9,66 |
Condutibilidade térmica | 490 W/mK | 490 W/mK |
Campo bonde da diviso | 2-4 · 108 V/m | 2-4 · 108 V/m |
Velocidade de traço da saturaço | 2,0 · 105 m/s | 2,0 · 105 m/s |
Mobilidade de elétron | 800 cm2/V·S | 400 cm2/V·S |
mobilidade de furo | 115 cm2/V·S | 90 cm2/V·S |
Dureza de Mohs | ~9 | ~9 |
tipo sic bolacha de 4H N de semicondutor, categoria da pesquisa, 3" tamanho
PROPRIEDADE DA CARCAÇA | S4H-51-SI-PWAM-250 S4H-51-SI-PWAM-330 S4H-51-SI-PWAM-430 |
Descriço | Carcaça da categoria 4H da pesquisa SEMI |
Polytype | 4H |
Dimetro | (50,8 ± 0,38) milímetro |
Espessura | (250 ± 25) μm do μm do μm (330 ± 25) (430 ± 25) |
Resistividade (RT) | >1E5 Ω·cm |
Aspereza de superfície | < 0=""> |
FWHM | <50 arcsec=""> |
Densidade de Micropipe | A+≤1cm-2 A≤10cm-2 B≤30cm-2 C≤50cm-2 D≤100cm-2 |
Orientaço de superfície | |
No ± <0001>0.5° da linha central | |
Fora da linha central 3.5° para <11-20>o ± 0.5° | |
Orientaço lisa preliminar | ± 5° da paralela {1-100} |
Comprimento liso preliminar | ± 16,00 1,70 milímetros |
Si-cara lisa secundária da orientaço: 90° cw. do ± liso 5° da orientaço | |
C-cara: ccw de 90°. do ± liso 5° da orientaço | |
Comprimento liso secundário | ± 8,00 1,70 milímetros |
Revestimento de superfície | Cara simples ou duplo lustrada |
Empacotamento | Única caixa da bolacha ou multi caixa da bolacha |
Área útil | ≥ 90% |
Excluso da borda | 1 milímetro |
defeitos sic de cristal
A maioria dos defeitos que foram observados dentro sic foram observados igualmente em outros materiais cristalinos. Como as deslocações,
falhas de empilhamento (SFs), limites (LABs) do baixo ngulo e gêmeos. Alguns outro aparecem nos materiais que têm a mistura do zing ou
a estrutura de Wurtzite, como o IDBs. Micropipes e as inclusões de
outras fases aparecem principalmente dentro sic.
Operaço de alta temperatura do dispositivo
A energia larga do bandgap e a baixa concentraço de portador
intrínseco de sic reservam sic manter
comportamento do semicondutor em temperaturas muito mais altas do
que o silicone, que permite por sua vez sic o semicondutor
funcionalidade do dispositivo em temperaturas muito mais altas do
que o silicone. Como discutido em básico
os livros de texto da física do dispositivo eletrónico do
semicondutor, dispositivos eletrónicos do semicondutor funcionam
na variaço da temperatura onde os portadores intrínsecos so
insignificantes de modo que a condutibilidade seja controlada perto
impurezas intencionalmente introduzidas do entorpecente. Além
disso, a concentraço de portador intrínseco
é um prefactor fundamental s equações conhecidas que governam
escapamento indesejado da reverso-polarizaço da junço
correntes. Enquanto a temperatura aumenta, os portadores
intrínsecos aumentam exponencialmente de modo que escapamento
indesejado
as correntes crescem inaceitavelmente grandes, e eventualmente em
mais altas temperaturas imóveis, o semicondutor
a operaço do dispositivo está superada por condutibilidade
descontrolada enquanto os portadores intrínsecos excedem
intencional
dopings do dispositivo. Segundo o projeto específico do
dispositivo, a concentraço de portador intrínseco de silicone
limita geralmente a operaço do dispositivo do silicone s
temperaturas de junço <300>a concentraço de portador que do
intrinsic permite teoricamente a operaço do dispositivo no excesso
das temperaturas de junço
a operaço do dispositivo de 800°C. 600°C foi demonstrada sic
experimentalmente no uma variedade de
Sic dispositivos.
A capacidade para colocar eletrônica de alta temperatura uncooled
do semicondutor diretamente em quente
os ambientes permitiriam benefícios importantes perfuraço
automotivo, aeroespacial, e profunda-bem
indústrias. No caso dos motores automotivos e aeroespaciais,
telemetria eletrônica melhorada e
o controle das regiões de alta temperatura do motor é necessário
mais precisamente ao controle a combusto
processo para melhorar a eficácia do combustível ao reduzir-se
poluindo emissões. Capacidade de alta temperatura
elimina o desempenho, a confiança, e as penas associadas com
refrigerar líquido, fs do peso, térmicos
a proteço, e um fio mais longo correm necessário para realizar a
funcionalidade similar na utilizaço dos motores convencional
eletrônica do semicondutor do silicone.