Tipo sic bolacha da Fora-linha central 4H N de semicondutor, categoria da pesquisa, 3" tamanho

Lugar de origem:China
Quantidade de ordem mínima:1-10,000pcs
Termos do pagamento:T/T.
Capacidade da fonte:10.000 bolachas/mês
Tempo de entrega:5-50 dias de trabalho
nome:SIC bolacha de semicondutor
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Dos Estados-activa
Xiamen Fujian China
Endereço: #506B, centro de negócios de Henghui, No.77, Lingxia Nan Road, zona alta-tecnologia, Huli, Xiamen 361006, China
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Tipo sic bolacha da Fora-linha central 4H N de semicondutor, categoria da pesquisa, 3" tamanho
 

PAM-XIAMEN oferece bolachas do carboneto de silicone do semicondutor, 6H sic e 4H sic em categorias de qualidade diferentes para fabricantes do pesquisador e da indústria. Nós desenvolvemos a tecnologia do crescimento sic de cristal e a tecnologia de processamento da bolacha sic de cristal, estabelecidas uma linha de produço ao fabricante SiCsubstrate, que é aplicado em GaNepitaxydevice, em powerdevices, no dispositivo de alta temperatura e em dispositivos optoelectronic. Como uma empresa profissional investida pelos fabricantes principais dos campos de institutos materiais avançados e da alto-tecnologia da pesquisa e do estado e de laboratório do semicondutor de China, nós é devotada para melhorar continuamente atualmente a qualidade de carcaças e para desenvolver grandes carcaças do tamanho.

 

Mostra aqui a especificaço de detalhe:
PROPRIEDADES MATERIAIS DE CARBONETO DE SILICONE
 

PolytypeÚnico cristal 4HÚnico cristal 6H
Parmetros da estruturaa=3.076 Åa=3.073 Å
 c=10.053 Åc=15.117 Å
Empilhando a sequênciaABCBABCACB
Faixa-GapeV 3,26eV 3,03
Densidade3,21 · 103 kg/m33,21 · 103 kg/m3
Therm. Coeficiente da expanso4-5×10-6/K4-5×10-6/K
Índice da refraçonenhuns = 2,719nenhuns = 2,707
 ne = 2,777ne = 2,755
Constante dielétrica9,69,66
Condutibilidade térmica490 W/mK490 W/mK
Campo bonde da diviso2-4 · 108 V/m2-4 · 108 V/m
Velocidade de traço da saturaço2,0 · 105 m/s2,0 · 105 m/s
Mobilidade de elétron800 cm2/V·S400 cm2/V·S
mobilidade de furo115 cm2/V·S90 cm2/V·S
Dureza de Mohs~9~9

 
 

tipo sic bolacha de 4H N de semicondutor, categoria da pesquisa, 3" tamanho

PROPRIEDADE DA CARCAÇAS4H-51-SI-PWAM-250 S4H-51-SI-PWAM-330 S4H-51-SI-PWAM-430
DescriçoCarcaça da categoria 4H da pesquisa SEMI
Polytype4H
Dimetro(50,8 ± 0,38) milímetro
Espessura(250 ± 25) μm do μm do μm (330 ± 25) (430 ± 25)
Resistividade (RT)>1E5 Ω·cm
Aspereza de superfície< 0="">
FWHM<50 arcsec="">
Densidade de MicropipeA+≤1cm-2 A≤10cm-2 B≤30cm-2 C≤50cm-2 D≤100cm-2
Orientaço de superfície
No ± <0001>0.5° da linha central
Fora da linha central 3.5° para <11-20>o ± 0.5°
Orientaço lisa preliminar± 5° da paralela {1-100}
Comprimento liso preliminar± 16,00 1,70 milímetros
Si-cara lisa secundária da orientaço: 90° cw. do ± liso 5° da orientaço
C-cara: ccw de 90°. do ± liso 5° da orientaço
Comprimento liso secundário± 8,00 1,70 milímetros
Revestimento de superfícieCara simples ou duplo lustrada
EmpacotamentoÚnica caixa da bolacha ou multi caixa da bolacha
Área útil≥ 90%
Excluso da borda1 milímetro

 

defeitos sic de cristal

A maioria dos defeitos que foram observados dentro sic foram observados igualmente em outros materiais cristalinos. Como as deslocações,

falhas de empilhamento (SFs), limites (LABs) do baixo ngulo e gêmeos. Alguns outro aparecem nos materiais que têm a mistura do zing ou

a estrutura de Wurtzite, como o IDBs. Micropipes e as inclusões de outras fases aparecem principalmente dentro sic.
Operaço de alta temperatura do dispositivo
A energia larga do bandgap e a baixa concentraço de portador intrínseco de sic reservam sic manter
comportamento do semicondutor em temperaturas muito mais altas do que o silicone, que permite por sua vez sic o semicondutor
funcionalidade do dispositivo em temperaturas muito mais altas do que o silicone. Como discutido em básico
os livros de texto da física do dispositivo eletrónico do semicondutor, dispositivos eletrónicos do semicondutor funcionam
na variaço da temperatura onde os portadores intrínsecos so insignificantes de modo que a condutibilidade seja controlada perto
impurezas intencionalmente introduzidas do entorpecente. Além disso, a concentraço de portador intrínseco
 é um prefactor fundamental s equações conhecidas que governam escapamento indesejado da reverso-polarizaço da junço
correntes. Enquanto a temperatura aumenta, os portadores intrínsecos aumentam exponencialmente de modo que escapamento indesejado
as correntes crescem inaceitavelmente grandes, e eventualmente em mais altas temperaturas imóveis, o semicondutor
a operaço do dispositivo está superada por condutibilidade descontrolada enquanto os portadores intrínsecos excedem intencional
dopings do dispositivo. Segundo o projeto específico do dispositivo, a concentraço de portador intrínseco de silicone
limita geralmente a operaço do dispositivo do silicone s temperaturas de junço <300>a concentraço de portador que do intrinsic permite teoricamente a operaço do dispositivo no excesso das temperaturas de junço
a operaço do dispositivo de 800°C. 600°C foi demonstrada sic experimentalmente no uma variedade de
Sic dispositivos.
A capacidade para colocar eletrônica de alta temperatura uncooled do semicondutor diretamente em quente
os ambientes permitiriam benefícios importantes perfuraço automotivo, aeroespacial, e profunda-bem
indústrias. No caso dos motores automotivos e aeroespaciais, telemetria eletrônica melhorada e
o controle das regiões de alta temperatura do motor é necessário mais precisamente ao controle a combusto
processo para melhorar a eficácia do combustível ao reduzir-se poluindo emissões. Capacidade de alta temperatura
elimina o desempenho, a confiança, e as penas associadas com refrigerar líquido, fs do peso, térmicos
a proteço, e um fio mais longo correm necessário para realizar a funcionalidade similar na utilizaço dos motores convencional
eletrônica do semicondutor do silicone.

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Tipo sic bolacha da Fora-linha central 4H N de semicondutor, categoria da pesquisa, 3" tamanho

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