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P datilografa, a bolacha Zn-lubrificada do GaAs, 2", categoria do teste - bolacha de Powerway
PAM-XIAMEN fornece o único cristal e a bolacha policristalina do GaAs (arsenieto de gálio) para a indústria da ótica electrónica e da microeletrônica para fazer o LD, o diodo emissor de luz, o circuito da micro-ondas e as aplicações da célula solar, as bolachas está na escala do dimetro de 2" a 6" em várias espessuras e orientações. Nós oferecemos a bolacha do GaAs do único cristal produzida por duas técnicas principais LEC do crescimento e por método de VGF, permitindo que nós forneçam clientes a escolha a mais larga do material do GaAs a uniformidade alta de propriedades elétricas e da qualidade de superfície excelente. O arsenieto de gálio pode ser fornecido como os lingotes e a bolacha lustrada, conduzindo e a bolacha deisolamento do GaAs, a categoria mecnica e a categoria pronta esto tudo do epi disponíveis. Nós podemos oferecer a bolacha do GaAs com baixo valor de EPD e a qualidade de superfície alta apropriados para suas aplicações do MOCVD e do MBE. PAM-XIAMEN pode produzir categorias da vasta gama: categoria principal, categoria do teste, e categoria ótica. Contacte por favor nossa equipe do coordenador para mais informaço da bolacha.
Bolachas do arsenieto de gálio (GaAs) para aplicações do diodo emissor de luz
Artigo | Especificações | |
Tipo da conduço | SC/p-type com o narcótico do Zn disponível | |
Método do crescimento | VGF | |
Entorpecente | Magnésio | |
Bolacha Diamter | 2, polegada | |
Orientaço de cristal | (100) 2°/6°/15° fora de (110) | |
DE | EJ ou E.U. | |
Concentraço de portador | E19 | |
Resistividade no RT | — | |
Mobilidade | 1500~3000cm2/V.sec
| |
Densidade do poço gravura em gua forte | <5000> | |
Marcaço do laser | mediante solicitaço
| |
Revestimento de superfície | P/E ou P/P
| |
Espessura | 220~450um
| |
Epitaxia pronta | Sim | |
Pacote | Única recipiente ou gaveta da bolacha |
Propriedades do cristal do GaAs
Propriedades | GaAs |
Atoms/cm3 | 4,42 x 1022 |
Peso atômico | 144,63 |
Campo da diviso | aproximadamente 4 x 105 |
Estrutura de cristal | Zincblende |
Densidade (g/cm3) | 5,32 |
Constante dielétrica | 13,1 |
Densidade eficaz dos estados na faixa de conduço, Nc (cm-3) | 4,7 x 1017 |
Densidade eficaz dos estados na faixa do Valence, nanovolt (cm-3) | 7,0 x 1018 |
Afinidade de elétron (v) | 4,07 |
Energia Gap em 300K (eV) | 1,424 |
Concentraço de portador intrínseco (cm-3) | 1,79 x 106 |
Comprimento de Debye intrínseco (mícrons) | 2250 |
Resistividade intrínseca (ohm-cm) | 108 |
Constante da estrutura (ångströms) | 5,6533 |
Coeficiente linear da expanso térmica, | 6,86 x 10-6 |
ΔL/L/ΔT (1 DEG C) | |
Ponto de derretimento (DEG C) | 1238 |
Vida do portador de minoria (s) | aproximadamente 10-8 |
Mobilidade (traço) | 8500 |
(cm2 de /V-s) | |
µn, elétrons | |
Mobilidade (traço) | 400 |
(cm2 de /V-s) | |
µp, furos | |
Energia ótica (eV) do fono | 0,035 |
Trajeto livre médio do fono (ångströms) | 58 |
Calor específico | 0,35 |
(J/g-deg C) | |
Condutibilidade térmica em 300 K | 0,46 |
(W/cm-degC) | |
Diffusivity térmico (cm2/segundo) | 0,24 |
Presso de vapor (Pa) | 100 em 1050 DEG C; |
1 em 900 DEG C |
Comprimento de onda | Índice |
(µm) | |
2,6 | 3,3239 |
2,8 | 3,3204 |
3 | 3,3169 |
3,2 | 3,3149 |
3,4 | 3,3129 |
3,6 | 3,3109 |
3,8 | 3,3089 |
4 | 3,3069 |
4,2 | 3,3057 |
4,4 | 3,3045 |
4,6 | 3,3034 |
4,8 | 3,3022 |
5 | 3,301 |
5,2 | 3,3001 |
5,4 | 3,2991 |
5,6 | 3,2982 |
5,8 | 3,2972 |
6 | 3,2963 |
6,2 | 3,2955 |
6,4 | 3,2947 |
6,6 | 3,2939 |
6,8 | 3,2931 |
7 | 3,2923 |
7,2 | 3,2914 |
7,4 | 3,2905 |
7,6 | 3,2896 |
7,8 | 3,2887 |
8 | 3,2878 |
8,2 | 3,2868 |
8,4 | 3,2859 |
8,6 | 3,2849 |
8,8 | 3,284 |
9 | 3,283 |
9,2 | 3,2818 |
9,4 | 3,2806 |
9,6 | 3,2794 |
9,8 | 3,2782 |
10 | 3,277 |
10,2 | 3,2761 |
10,4 | 3,2752 |
10,6 | 3,2743 |
10,8 | 3,2734 |
11 | 3,2725 |
11,2 | 3,2713 |
11,4 | 3,2701 |
11,6 | 3,269 |
11,8 | 3,2678 |
12 | 3,2666 |
12,2 | 3,2651 |
12,4 | 3,2635 |
12,6 | 3,262 |
12,8 | 3,2604 |
13 | 3,2589 |
13,2 | 3,2573 |
13,4 | 3,2557 |
13,6 | 3,2541 |
Que é o processo do GaAs?
As bolachas do GaAs devem ser preparadas antes da fabricaço do dispositivo. Para começar, devem completamente ser limpados para remover todo o dano que possa ter ocorrido durante o processo de corte. As bolachas quimicamente mecanicamente so lustradas ento/Plaranrized (CMP) para a fase material final da remoço. Isto permite a realizaço de super-liso espelho-como superfícies com uma aspereza restante em uma escala atômica. Isso é terminado em seguida, a bolacha está pronto para a fabricaço.
Campo da diviso | ≈4·105 V/cm |
Elétrons da mobilidade | cm2 de ≤8500 V-1s-1 |
Furos da mobilidade | cm2 de ≤400 V-1s-1 |
Elétrons do coeficiente de difuso | ≤200 cm2/s |
Furos do coeficiente de difuso | ≤10 cm2/s |
Velocidade do thermal do elétron | 4,4·105 m/s |
Velocidade do thermal do furo | 1,8·105m/s |
A mobilidade de salo do elétron contra a temperatura para a
lubrificaço diferente nivela. 1. Curva inferior: Nd=5·1015cm-3; 2. curva do meio: Nd=1015cm-3; 3. Curva superior: Nd=5·1015cm-3 Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K, mobilidade de salo do elétron µH=9400 (300/T) cm2 de V-1 s-1 |
Mobilidade de salo do elétron contra a temperatura para níveis e
graus de lubrificaço diferentes de compensaço (altas temperaturas): Abra círculos: Nd=4Na=1.2·1017 cm-3; Quadrados abertos: Nd=4Na=1016 cm-3; Abra tringulos: Nd=3Na=2·1015 cm-3; A curva contínua representa o cálculo para o GaAs puro Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K, mobilidade de traço do elétron µn=8000 (300/T) 2/3 de cm2 de V-1 s-1 |
Mobilidade da traço e de salo contra a concentraço do elétron para
graus diferentes de compensaço T= 77 K |
Mobilidade da traço e de salo contra a concentraço do elétron para
graus diferentes de compensaço T= 300 K |
. µn =ΜOH/(1+Nd·10-17) 1/2, onde ΜOH≈9400 (cm2 de V-1 s-1), Nd em
cm-3
.
Dependência da temperatura do fator de Salo para o n-tipo puro GaAs
em um campo magnético fraco |
Dependência da temperatura da mobilidade de salo para três amostras
da alto-pureza |
(cm2V-1s-1), (p - em cm-3)
Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K,
mobilidade de salo
µpH=400 (300/T) 2,3 (cm2 de V-1 s-1).
A mobilidade de salo do furo contra a densidade do furo. |
rH=1.25.
Dependências do campo da velocidade de traço do elétron. A curva contínua foi calculada perto As curvas precipitadas e pontilhadas so os dados medidos, 300 K |
Coloque dependências da velocidade de traço do elétron para os
campos bondes altos, 300 K. |
Coloque dependências da velocidade de traço do elétron em
temperaturas diferentes. |
Fraço dos elétrons em vales de L e de X. NL e nX em funço do campo
bonde F em 77, em 160, e em 300 K, Nd=0 Curva pontilhada - L vales, curva tracejada - vales de X. |
Energia média E em vales de Γ, de L, e de X em funço do campo bonde
F em 77, em 160, e em 300 K, Nd=0 Curva contínua - vales de Γ, curva pontilhada - L vales, curva precipitada - vales de X. |
Dependências da frequência da mobilidade do diferencial do elétron. o µd é parte real da mobilidade diferencial; peça imaginária dos µd*is da mobilidade diferencial. F= 5,5 quilovolts de cm-1 |
A dependência do campo do coeficiente de difuso longitudinal D do
elétron||F. As curvas 1 e 2 do sólido so cálculos teóricos. As curvas tracejadas 3, 4, e 5 so dados experimentais. Curva 1 - de Curva 2 - de Curva 3 - de Curva 4 - de Curva 5 - |
Coloque dependências da velocidade de traço do furo em temperaturas
diferentes. |
Dependência da temperatura da velocidade do furo da saturaço em
campos bondes altos |
A dependência do campo do coeficiente de difuso do furo. |
Há duas escolas de pensamento em relaço ionizaço de impacto no GaAs.
Primeiro indica que o αi e o βi das taxas da ionizaço de impacto para elétrons e furos no GaAs esto sabidos exatamente bastante para distinguir tais detalhes suteis tais como o anisothropy do αi e do βi para sentidos crystallographic diferentes. Esta aproximaço é descrita em detalhe no trabalho por Dmitriev e outros [1987].
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs. |
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs. |
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs. |
Os segundos focos da escola nos valores do αi e no βi para o mesmo
campo bonde relatado por diferente pesquisam diferem por um ordem
de grandeza ou mais. Este ponto de vista é explicado por Kyuregyan
e por Yurkov [1989]. De acordo com esta aproximaço nós podemos
supor esses αi = βi. A fórmula aproximada para a dependência do
campo da ionizaço avalia:
αi = β mim =αoexp [δ - (δ2 + (F0/F) 2) 1/2]
onde αo = 0,245·106 cm-1; β = 57,6 FO = 6,65·106 V cm-1 (Kyuregyan
e Yurkov [1989]).
Tenso de diviso e campo da diviso contra a lubrificaço da densidade
para uma junço abrupta do p-n. |
N-tipo puro material (nenhum ~ 1014cm-3) | |
A vida a mais longa dos furos | τp ~3·10-6 s |
Comprimento de difuso Lp = (Dp·τp) 1/2 | Μm do Lp ~30-50. |
P-tipo puro material | |
(a) baixo nível da injeço | |
A vida a mais longa dos elétrons | τn ~ 5·10-9 s |
Comprimento de difuso Ln = (Dn·τ n) 1/2 | Μm de Ln ~10 |
(b) nível alto da injeço (armadilhas enchidas) | |
A vida a mais longa dos elétrons | τ ~2,5·10-7 s |
Comprimento de difuso Ln | Ln ~ µm 70 |
Velocidade de recombinaço de superfície contra a lubrificaço da
densidade Os pontos experimentais diferentes correspondem aos métodos de tratamento de superfície diferentes. |
90 K | 1,8·10-8cm3/s |
185 K | 1,9·10-9cm3/s |
300 K | 7,2·10-10cm3/s |
300 K | ~10-30cm6/s |
500 K | ~10-29cm6/s |
Você está procurando a carcaça do GaAs?
PAM-XIAMEN é orgulhoso oferecer a carcaça do fosforeto de índio para todos os tipos diferentes dos projetos. Se você está procurando bolachas do GaAs, envie-nos o inquérito hoje para aprender mais sobre como nós podemos trabalhar com você para lhe obter as bolachas que do GaAs você precisa para seu projeto seguinte. Nossa equipe do grupo está olhando para a frente a proporcionar produtos de qualidade e o serviço excelente para você!