P datilografa, a bolacha Zn-lubrificada do GaAs, 2", categoria do teste - bolacha de Powerway

Lugar de origem:China
Quantidade de ordem mínima:1-10,000pcs
Termos do pagamento:T/T.
Capacidade da fonte:10.000 bolachas/mês
Tempo de entrega:5-50 dias de trabalho
Detalhes de empacotamento:Empacotado em um ambiente do quarto desinfetado da classe 100, no único recipiente, sob uma atmosfer
Contate

Add to Cart

Dos Estados-activa
Xiamen Fujian China
Endereço: #506B, centro de negócios de Henghui, No.77, Lingxia Nan Road, zona alta-tecnologia, Huli, Xiamen 361006, China
Fornecedor do último login vezes: No 11 Horas
Detalhes do produto Perfil da empresa
Detalhes do produto

P datilografa, a bolacha Zn-lubrificada do GaAs, 2", categoria do teste - bolacha de Powerway

 

PAM-XIAMEN fornece o único cristal e a bolacha policristalina do GaAs (arsenieto de gálio) para a indústria da ótica electrónica e da microeletrônica para fazer o LD, o diodo emissor de luz, o circuito da micro-ondas e as aplicações da célula solar, as bolachas está na escala do dimetro de 2" a 6" em várias espessuras e orientações. Nós oferecemos a bolacha do GaAs do único cristal produzida por duas técnicas principais LEC do crescimento e por método de VGF, permitindo que nós forneçam clientes a escolha a mais larga do material do GaAs a uniformidade alta de propriedades elétricas e da qualidade de superfície excelente. O arsenieto de gálio pode ser fornecido como os lingotes e a bolacha lustrada, conduzindo e a bolacha deisolamento do GaAs, a categoria mecnica e a categoria pronta esto tudo do epi disponíveis. Nós podemos oferecer a bolacha do GaAs com baixo valor de EPD e a qualidade de superfície alta apropriados para suas aplicações do MOCVD e do MBE. PAM-XIAMEN pode produzir categorias da vasta gama: categoria principal, categoria do teste, e categoria ótica. Contacte por favor nossa equipe do coordenador para mais informaço da bolacha.

 

Bolachas do arsenieto de gálio (GaAs) para aplicações do diodo emissor de luz

ArtigoEspecificações 
Tipo da conduçoSC/p-type com o narcótico do Zn disponível
Método do crescimentoVGF
EntorpecenteMagnésio
Bolacha Diamter2, polegada
Orientaço de cristal(100) 2°/6°/15° fora de (110)
DEEJ ou E.U.
Concentraço de portadorE19
Resistividade no RT
Mobilidade

1500~3000cm2/V.sec

 

Densidade do poço gravura em gua forte<5000>
Marcaço do laser

mediante solicitaço

 

Revestimento de superfície

P/E ou P/P

 

Espessura

220~450um

 

Epitaxia prontaSim
PacoteÚnica recipiente ou gaveta da bolacha

 

Propriedades do cristal do GaAs

PropriedadesGaAs
Atoms/cm34,42 x 1022
Peso atômico144,63
Campo da divisoaproximadamente 4 x 105
Estrutura de cristalZincblende
Densidade (g/cm3)5,32
Constante dielétrica13,1
Densidade eficaz dos estados na faixa de conduço, Nc (cm-3)4,7 x 1017
Densidade eficaz dos estados na faixa do Valence, nanovolt (cm-3)7,0 x 1018
Afinidade de elétron (v)4,07
Energia Gap em 300K (eV)1,424
Concentraço de portador intrínseco (cm-3)1,79 x 106
Comprimento de Debye intrínseco (mícrons)2250
Resistividade intrínseca (ohm-cm)108
Constante da estrutura (ångströms)5,6533
Coeficiente linear da expanso térmica,6,86 x 10-6
ΔL/L/ΔT (1 DEG C)
Ponto de derretimento (DEG C)1238
Vida do portador de minoria (s)aproximadamente 10-8
Mobilidade (traço)8500
(cm2 de /V-s)
µn, elétrons
Mobilidade (traço)400
(cm2 de /V-s)
µp, furos
Energia ótica (eV) do fono0,035
Trajeto livre médio do fono (ångströms)58
Calor específico0,35
(J/g-deg C)
Condutibilidade térmica em 300 K0,46
(W/cm-degC)
Diffusivity térmico (cm2/segundo)0,24
Presso de vapor (Pa)100 em 1050 DEG C;
1 em 900 DEG C
 
Comprimento de ondaÍndice
(µm)
2,63,3239
2,83,3204
33,3169
3,23,3149
3,43,3129
3,63,3109
3,83,3089
43,3069
4,23,3057
4,43,3045
4,63,3034
4,83,3022
53,301
5,23,3001
5,43,2991
5,63,2982
5,83,2972
63,2963
6,23,2955
6,43,2947
6,63,2939
6,83,2931
73,2923
7,23,2914
7,43,2905
7,63,2896
7,83,2887
83,2878
8,23,2868
8,43,2859
8,63,2849
8,83,284
93,283
9,23,2818
9,43,2806
9,63,2794
9,83,2782
103,277
10,23,2761
10,43,2752
10,63,2743
10,83,2734
113,2725
11,23,2713
11,43,2701
11,63,269
11,83,2678
123,2666
12,23,2651
12,43,2635
12,63,262
12,83,2604
133,2589
13,23,2573
13,43,2557
13,63,2541

 

Que é o processo do GaAs?

As bolachas do GaAs devem ser preparadas antes da fabricaço do dispositivo. Para começar, devem completamente ser limpados para remover todo o dano que possa ter ocorrido durante o processo de corte. As bolachas quimicamente mecanicamente so lustradas ento/Plaranrized (CMP) para a fase material final da remoço. Isto permite a realizaço de super-liso espelho-como superfícies com uma aspereza restante em uma escala atômica. Isso é terminado em seguida, a bolacha está pronto para a fabricaço.

O que é a bolacha elétrica do GaAs do propertiesof

Parmetros básicos

Campo da diviso≈4·105 V/cm
Elétrons da mobilidadecm2 de ≤8500 V-1s-1
Furos da mobilidadecm2 de ≤400 V-1s-1
Elétrons do coeficiente de difuso≤200 cm2/s
Furos do coeficiente de difuso≤10 cm2/s
Velocidade do thermal do elétron4,4·105 m/s
Velocidade do thermal do furo1,8·105m/s

Mobilidade e Hall Effect

A mobilidade de salo do elétron contra a temperatura para a lubrificaço diferente nivela.

1. Curva inferior: Nd=5·1015cm-3;
2. curva do meio: Nd=1015cm-3;
3. Curva superior: Nd=5·1015cm-3
Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K, mobilidade de salo do elétron
µH=9400 (300/T) cm2 de V-1 s-1
Mobilidade de salo do elétron contra a temperatura para níveis e graus de lubrificaço diferentes de compensaço (altas temperaturas):
Abra círculos: Nd=4Na=1.2·1017 cm-3;
Quadrados abertos: Nd=4Na=1016 cm-3;
Abra tringulos: Nd=3Na=2·1015 cm-3;
A curva contínua representa o cálculo para o GaAs puro
Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K, mobilidade de traço do elétron
µn=8000 (300/T) 2/3 de cm2 de V-1 s-1
Mobilidade da traço e de salo contra a concentraço do elétron para graus diferentes de compensaço T= 77 K
 
Mobilidade da traço e de salo contra a concentraço do elétron para graus diferentes de compensaço T= 300 K
 

Fórmula aproximada para a mobilidade de salo

. µn =ΜOH/(1+Nd·10-17) 1/2, onde ΜOH≈9400 (cm2 de V-1 s-1), Nd em cm-3
.

Dependência da temperatura do fator de Salo para o n-tipo puro GaAs em um campo magnético fraco
 
Dependência da temperatura da mobilidade de salo para três amostras da alto-pureza
 

Para o GaAs em temperaturas perto de 300 K, mobilidade de salo do furo

 (cm2V-1s-1), (p - em cm-3)
Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K, mobilidade de salo
µpH=400 (300/T) 2,3 (cm2 de V-1 s-1).

A mobilidade de salo do furo contra a densidade do furo.

Em T= 300 K, o fator de Salo no GaAs puro

rH=1.25.

Propriedades de transporte em campos bondes altos

Dependências do campo da velocidade de traço do elétron.

A curva contínua foi calculada perto
As curvas precipitadas e pontilhadas so os dados medidos, 300 K
Coloque dependências da velocidade de traço do elétron para os campos bondes altos, 300 K.
 
Coloque dependências da velocidade de traço do elétron em temperaturas diferentes.
 
Fraço dos elétrons em vales de L e de X. NL e nX em funço do campo bonde F em 77, em 160, e em 300 K, Nd=0
Curva pontilhada - L vales, curva tracejada - vales de X.
Energia média E em vales de Γ, de L, e de X em funço do campo bonde F em 77, em 160, e em 300 K, Nd=0
Curva contínua - vales de Γ, curva pontilhada - L vales, curva precipitada - vales de X.
Dependências da frequência da mobilidade do diferencial do elétron.
o µd é parte real da mobilidade diferencial; peça imaginária dos µd*is da mobilidade diferencial.
F= 5,5 quilovolts de cm-1
 
A dependência do campo do coeficiente de difuso longitudinal D do elétron||F.
As curvas 1 e 2 do sólido so cálculos teóricos. As curvas tracejadas 3, 4, e 5 so dados experimentais.
Curva 1 - de
Curva 2 - de
Curva 3 - de
Curva 4 - de
Curva 5 -
Coloque dependências da velocidade de traço do furo em temperaturas diferentes.
 
Dependência da temperatura da velocidade do furo da saturaço em campos bondes altos
 
A dependência do campo do coeficiente de difuso do furo.
 

Ionizaço de impacto

Há duas escolas de pensamento em relaço ionizaço de impacto no GaAs.

Primeiro indica que o αi e o βi das taxas da ionizaço de impacto para elétrons e furos no GaAs esto sabidos exatamente bastante para distinguir tais detalhes suteis tais como o anisothropy do αi e do βi para sentidos crystallographic diferentes. Esta aproximaço é descrita em detalhe no trabalho por Dmitriev e outros [1987].

Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs.
 
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs.
 
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs.
 

Os segundos focos da escola nos valores do αi e no βi para o mesmo campo bonde relatado por diferente pesquisam diferem por um ordem de grandeza ou mais. Este ponto de vista é explicado por Kyuregyan e por Yurkov [1989]. De acordo com esta aproximaço nós podemos supor esses αi = βi. A fórmula aproximada para a dependência do campo da ionizaço avalia:
αi = β mim =αoexp [δ - (δ2 + (F0/F) 2) 1/2]
onde αo = 0,245·106 cm-1; β = 57,6 FO = 6,65·106 V cm-1 (Kyuregyan e Yurkov [1989]).

Tenso de diviso e campo da diviso contra a lubrificaço da densidade para uma junço abrupta do p-n.
 

Parmetro da recombinaço

N-tipo puro material (nenhum ~ 1014cm-3) 
A vida a mais longa dos furosτp ~3·10-6 s
Comprimento de difuso Lp = (Dp·τp) 1/2Μm do Lp ~30-50.
P-tipo puro material 
(a) baixo nível da injeço 
A vida a mais longa dos elétronsτn ~ 5·10-9 s
Comprimento de difuso Ln = (Dn·τ n) 1/2Μm de Ln ~10
(b) nível alto da injeço (armadilhas enchidas) 
A vida a mais longa dos elétronsτ ~2,5·10-7 s
Comprimento de difuso LnLn ~ µm 70

 

Velocidade de recombinaço de superfície contra a lubrificaço da densidade

Os pontos experimentais diferentes correspondem aos métodos de tratamento de superfície diferentes.

Coeficiente Radiative da recombinaço

90 K1,8·10-8cm3/s
185 K1,9·10-9cm3/s
300 K7,2·10-10cm3/s

Coeficiente do eixo helicoidal

300 K~10-30cm6/s
500 K~10-29cm6/s

 

Você está procurando a carcaça do GaAs?

PAM-XIAMEN é orgulhoso oferecer a carcaça do fosforeto de índio para todos os tipos diferentes dos projetos. Se você está procurando bolachas do GaAs, envie-nos o inquérito hoje para aprender mais sobre como nós podemos trabalhar com você para lhe obter as bolachas que do GaAs você precisa para seu projeto seguinte. Nossa equipe do grupo está olhando para a frente a proporcionar produtos de qualidade e o serviço excelente para você!

China P datilografa, a bolacha Zn-lubrificada do GaAs, 2, categoria do teste - bolacha de Powerway supplier

P datilografa, a bolacha Zn-lubrificada do GaAs, 2", categoria do teste - bolacha de Powerway

Inquiry Cart 0