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N datilografa, a carcaça do Gaas, 3", categoria principal
PAM-XIAMEN fornece o único cristal e a bolacha policristalina do GaAs (arsenieto de gálio) para a indústria da ótica electrónica e da microeletrônica para fazer o LD, o diodo emissor de luz, o circuito da micro-ondas e as aplicações da célula solar, as bolachas está na escala do dimetro de 2" a 6" em várias espessuras e orientações. Nós oferecemos a bolacha do GaAs do único cristal produzida por duas técnicas principais LEC do crescimento e por método de VGF, permitindo que nós forneçam clientes a escolha a mais larga do material do GaAs a uniformidade alta de propriedades elétricas e da qualidade de superfície excelente. O arsenieto de gálio pode ser fornecido como os lingotes e a bolacha lustrada, conduzindo e a bolacha deisolamento do GaAs, a categoria mecnica e a categoria pronta esto tudo do epi disponíveis. Nós podemos oferecer a bolacha do GaAs com baixo valor de EPD e a qualidade de superfície alta apropriados para suas aplicações do MOCVD e do MBE. PAM-XIAMEN pode produzir categorias da vasta gama: categoria principal, categoria do teste, e categoria ótica. Contacte por favor nossa equipe do coordenador para mais informaço da bolacha.
Bolachas do arsenieto de gálio (GaAs) para aplicações do diodo emissor de luz
Artigo | Especificações | |
Tipo da conduço | SC/n-type | |
Método do crescimento | VGF | |
Entorpecente | Silicone | |
Bolacha Diamter | 3, polegada | |
Orientaço de cristal | (100) 2°/6°/15° fora de (110) | |
DE | EJ ou E.U. | |
Concentraço de portador | (0.4~2.5) E18/cm3
| |
Resistividade no RT | (1.5~9) E-3 Ohm.cm | |
Mobilidade | 1500~3000cm2/V.sec
| |
Densidade do poço gravura em gua forte | <5000/cm2 | |
Marcaço do laser | mediante solicitaço
| |
Revestimento de superfície | P/E ou P/P
| |
Espessura | 220~450um
| |
Epitaxia pronta | Sim | |
Pacote | Única recipiente ou gaveta da bolacha |
Bolachas do arsenieto de gálio (GaAs) para aplicações do LD
Artigo | Especificações | Observações |
Tipo da conduço | SC/n-type | |
Método do crescimento | VGF | |
Entorpecente | Silicone | |
Bolacha Diamter | 3, polegada | Lingote ou como-corte disponível |
Orientaço de cristal | (100) 2°/6°/15°off (110) | O outro misorientation disponível |
DE | EJ ou E.U. | |
Concentraço de portador | (0.4~2.5) E18/cm3 | |
Resistividade no RT | (1.5~9) E-3 Ohm.cm | |
Mobilidade | 1500~3000 cm2/V.sec | |
Densidade do poço gravura em gua forte | <500/cm2 | |
Marcaço do laser | mediante solicitaço | |
Revestimento de superfície | P/E ou P/P | |
Espessura | 220~350um | |
Epitaxia pronta | Sim | |
Pacote | Única recipiente ou gaveta da bolacha |
Propriedades do cristal do GaAs
Propriedades | GaAs |
Atoms/cm3 | 4,42 x 1022 |
Peso atômico | 144,63 |
Campo da diviso | aproximadamente 4 x 105 |
Estrutura de cristal | Zincblende |
Densidade (g/cm3) | 5,32 |
Constante dielétrica | 13,1 |
Densidade eficaz dos estados na faixa de conduço, Nc (cm-3) | 4,7 x 1017 |
Densidade eficaz dos estados na faixa do Valence, nanovolt (cm-3) | 7,0 x 1018 |
Afinidade de elétron (v) | 4,07 |
Energia Gap em 300K (eV) | 1,424 |
Concentraço de portador intrínseco (cm-3) | 1,79 x 106 |
Comprimento de Debye intrínseco (mícrons) | 2250 |
Resistividade intrínseca (ohm-cm) | 108 |
Constante da estrutura (ångströms) | 5,6533 |
Coeficiente linear da expanso térmica, | 6,86 x 10-6 |
ΔL/L/ΔT (1 DEG C) | |
Ponto de derretimento (DEG C) | 1238 |
Vida do portador de minoria (s) | aproximadamente 10-8 |
Mobilidade (traço) | 8500 |
(cm2 de /V-s) | |
µn, elétrons | |
Mobilidade (traço) | 400 |
(cm2 de /V-s) | |
µp, furos | |
Energia ótica (eV) do fono | 0,035 |
Trajeto livre médio do fono (ångströms) | 58 |
Calor específico | 0,35 |
(J/g-deg C) | |
Condutibilidade térmica em 300 K | 0,46 |
(W/cm-degC) | |
Diffusivity térmico (cm2/segundo) | 0,24 |
Presso de vapor (Pa) | 100 em 1050 DEG C; |
1 em 900 DEG C |
Comprimento de onda | Índice |
(µm) | |
2,6 | 3,3239 |
2,8 | 3,3204 |
3 | 3,3169 |
3,2 | 3,3149 |
3,4 | 3,3129 |
3,6 | 3,3109 |
3,8 | 3,3089 |
4 | 3,3069 |
4,2 | 3,3057 |
4,4 | 3,3045 |
4,6 | 3,3034 |
4,8 | 3,3022 |
5 | 3,301 |
5,2 | 3,3001 |
5,4 | 3,2991 |
5,6 | 3,2982 |
5,8 | 3,2972 |
6 | 3,2963 |
6,2 | 3,2955 |
6,4 | 3,2947 |
6,6 | 3,2939 |
6,8 | 3,2931 |
7 | 3,2923 |
7,2 | 3,2914 |
7,4 | 3,2905 |
7,6 | 3,2896 |
7,8 | 3,2887 |
8 | 3,2878 |
8,2 | 3,2868 |
8,4 | 3,2859 |
8,6 | 3,2849 |
8,8 | 3,284 |
9 | 3,283 |
9,2 | 3,2818 |
9,4 | 3,2806 |
9,6 | 3,2794 |
9,8 | 3,2782 |
10 | 3,277 |
10,2 | 3,2761 |
10,4 | 3,2752 |
10,6 | 3,2743 |
10,8 | 3,2734 |
11 | 3,2725 |
11,2 | 3,2713 |
11,4 | 3,2701 |
11,6 | 3,269 |
11,8 | 3,2678 |
12 | 3,2666 |
12,2 | 3,2651 |
12,4 | 3,2635 |
12,6 | 3,262 |
12,8 | 3,2604 |
13 | 3,2589 |
13,2 | 3,2573 |
13,4 | 3,2557 |
13,6 | 3,2541 |
Que é o processo do GaAs?
As bolachas do GaAs devem ser preparadas antes da fabricaço do dispositivo. Para começar, devem completamente ser limpados para remover todo o dano que possa ter ocorrido durante o processo de corte. As bolachas quimicamente mecanicamente so lustradas ento/Plaranrized (CMP) para a fase material final da remoço. Isto permite a realizaço de super-liso espelho-como superfícies com uma aspereza restante em uma escala atômica. Isso é terminado em seguida, a bolacha está pronto para a fabricaço.
Campo da diviso | ≈4·105 V/cm |
Elétrons da mobilidade | cm2 de ≤8500 V-1s-1 |
Furos da mobilidade | cm2 de ≤400 V-1s-1 |
Elétrons do coeficiente de difuso | ≤200 cm2/s |
Furos do coeficiente de difuso | ≤10 cm2/s |
Velocidade do thermal do elétron | 4,4·105 m/s |
Velocidade do thermal do furo | 1,8·105m/s |
A mobilidade de salo do elétron contra a temperatura para a
lubrificaço diferente nivela. 1. Curva inferior: Nd=5·1015cm-3; 2. curva do meio: Nd=1015cm-3; 3. Curva superior: Nd=5·1015cm-3 Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K, mobilidade de salo do elétron µH=9400 (300/T) cm2 de V-1 s-1 |
Mobilidade de salo do elétron contra a temperatura para níveis e
graus de lubrificaço diferentes de compensaço (altas temperaturas): Abra círculos: Nd=4Na=1.2·1017 cm-3; Quadrados abertos: Nd=4Na=1016 cm-3; Abra tringulos: Nd=3Na=2·1015 cm-3; A curva contínua representa o cálculo para o GaAs puro Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K, mobilidade de traço do elétron µn=8000 (300/T) 2/3 de cm2 de V-1 s-1 |
Mobilidade da traço e de salo contra a concentraço do elétron para
graus diferentes de compensaço T= 77 K |
Mobilidade da traço e de salo contra a concentraço do elétron para
graus diferentes de compensaço T= 300 K |
. µn =ΜOH/(1+Nd·10-17) 1/2, onde ΜOH≈9400 (cm2 de V-1 s-1), Nd em
cm-3
.
Dependência da temperatura do fator de Salo para o n-tipo puro GaAs
em um campo magnético fraco |
Dependência da temperatura da mobilidade de salo para três amostras
da alto-pureza |
(cm2V-1s-1), (p - em cm-3)
Para o GaAs fracamente lubrificado na temperatura perto de 300 K,
mobilidade de salo
µpH=400 (300/T) 2,3 (cm2 de V-1 s-1).
A mobilidade de salo do furo contra a densidade do furo. |
rH=1.25.
Dependências do campo da velocidade de traço do elétron. A curva contínua foi calculada perto As curvas precipitadas e pontilhadas so os dados medidos, 300 K |
Coloque dependências da velocidade de traço do elétron para os
campos bondes altos, 300 K. |
Coloque dependências da velocidade de traço do elétron em
temperaturas diferentes. |
Fraço dos elétrons em vales de L e de X. NL e nX em funço do campo
bonde F em 77, em 160, e em 300 K, Nd=0 Curva pontilhada - L vales, curva tracejada - vales de X. |
Energia média E em vales de Γ, de L, e de X em funço do campo bonde
F em 77, em 160, e em 300 K, Nd=0 Curva contínua - vales de Γ, curva pontilhada - L vales, curva precipitada - vales de X. |
Dependências da frequência da mobilidade do diferencial do elétron. o µd é parte real da mobilidade diferencial; peça imaginária dos µd*is da mobilidade diferencial. F= 5,5 quilovolts de cm-1 |
A dependência do campo do coeficiente de difuso longitudinal D do
elétron||F. As curvas 1 e 2 do sólido so cálculos teóricos. As curvas tracejadas 3, 4, e 5 so dados experimentais. Curva 1 - de Curva 2 - de Curva 3 - de Curva 4 - de Curva 5 - |
Coloque dependências da velocidade de traço do furo em temperaturas
diferentes. |
Dependência da temperatura da velocidade do furo da saturaço em
campos bondes altos |
A dependência do campo do coeficiente de difuso do furo. |
Há duas escolas de pensamento em relaço ionizaço de impacto no GaAs.
Primeiro indica que o αi e o βi das taxas da ionizaço de impacto para elétrons e furos no GaAs esto sabidos exatamente bastante para distinguir tais detalhes suteis tais como o anisothropy do αi e do βi para sentidos crystallographic diferentes. Esta aproximaço é descrita em detalhe no trabalho por Dmitriev e outros [1987].
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs. |
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs. |
Αi e βi experimentais das curvas contra 1/F para o GaAs. |
Os segundos focos da escola nos valores do αi e no βi para o mesmo
campo bonde relatado por diferente pesquisam diferem por um ordem
de grandeza ou mais. Este ponto de vista é explicado por Kyuregyan
e por Yurkov [1989]. De acordo com esta aproximaço nós podemos
supor esses αi = βi. A fórmula aproximada para a dependência do
campo da ionizaço avalia:
αi = β mim =αoexp [δ - (δ2 + (F0/F) 2) 1/2]
onde αo = 0,245·106 cm-1; β = 57,6 FO = 6,65·106 V cm-1 (Kyuregyan
e Yurkov [1989]).
Tenso de diviso e campo da diviso contra a lubrificaço da densidade para uma junço abrupta do p-n. |
N-tipo puro material (nenhum ~ 1014cm-3) | |
A vida a mais longa dos furos | τp ~3·10-6 s |
Comprimento de difuso Lp = (Dp·τp) 1/2 | Μm do Lp ~30-50. |
P-tipo puro material | |
(a) baixo nível da injeço | |
A vida a mais longa dos elétrons | τn ~ 5·10-9 s |
Comprimento de difuso Ln = (Dn·τ n) 1/2 | Μm de Ln ~10 |
(b) nível alto da injeço (armadilhas enchidas) | |
A vida a mais longa dos elétrons | τ ~2,5·10-7 s |
Comprimento de difuso Ln | Ln ~ µm 70 |
Velocidade de recombinaço de superfície contra a lubrificaço da
densidade Os pontos experimentais diferentes correspondem aos métodos de tratamento de superfície diferentes. |
90 K | 1,8·10-8cm3/s |
185 K | 1,9·10-9cm3/s |
300 K | 7,2·10-10cm3/s |
300 K | ~10-30cm6/s |
500 K | ~10-29cm6/s |
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